[發明專利]一種分集天線的檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質在審
| 申請號: | 202110977306.2 | 申請日: | 2021-08-24 |
| 公開(公告)號: | CN113824511A | 公開(公告)日: | 2021-12-21 |
| 發明(設計)人: | 何文卿 | 申請(專利權)人: | 上海聞泰信息技術有限公司 |
| 主分類號: | H04B17/10 | 分類號: | H04B17/10;H04B1/40 |
| 代理公司: | 北京開陽星知識產權代理有限公司 11710 | 代理人: | 祝樂芳 |
| 地址: | 200062 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 分集 天線 檢測 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種分集天線的檢測方法,其特征在于,所述方法應用于射頻電路,所述射頻電路包括射頻收發器、分集開關和分集天線,其中,所述射頻收發器包括信號發射口;所述分集天線與所述分集開關的第一端電連接,所述分集開關的第二端與所述射頻收發器電連接;
所述方法包括:
在接收到天線通路檢測指令后,獲取所述分集天線對應的饋電點位置處的第一目標信號,其中,所述饋電點為所述分集開關與所述分集天線的電連接點;
在所述第一目標信號滿足第一預設閾值時,控制所述射頻收發器發射天線測試信號至所述分集天線;
獲取分集天線發射的第二目標信號;
在所述第二目標信號滿足第二預設閾值時,確定分集天線的發射通路導通。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述在接收到天線通路檢測指令后,獲取所述分集天線對應的饋電點位置處的第一目標信號,包括:
在接收到天線通路檢測指令后,下發所述天線通路檢測指令至所述射頻收發器;
控制所述射頻收發器通過所述信號發射口發射與所述天線通路檢測指令對應的通路測試信號;
獲取所述分集天線對應的饋電點位置處的第一目標信號。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述第一目標信號滿足第一預設閾值時,控制所述射頻收發器發射天線測試信號至所述分集天線,包括:
在所述第一目標信號滿足第一預設閾值時,下發天線檢測指令至所述射頻收發器;
控制所述射頻收發器通過所述信號發射口發射與所述天線檢測指令對應的天線測試信號至所述分集天線。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述在所述第一目標信號滿足第一預設閾值時,下發天線檢測指令至所述射頻收發器,包括:
在所述第一目標信號滿足第一預設閾值時,將所述通路測試信號存儲至指令信號表格;
從所述指令信號表格中選取天線測試信號對應的天線檢測指令,并將所述天線檢測指令下發至所述射頻收發器。
5.根據權利要求2-4任一項所述的方法,其特征在于,所述在所述第一目標信號滿足第一預設閾值時,控制所述射頻收發器發射天線測試信號至所述分集天線,包括:
在所述第一目標信號與所述通路測試信號的差值小于或等于第一預設閾值時,控制所述射頻收發器發射天線測試信號至所述分集天線。
6.根據權利要求1-4任一項所述的方法,其特征在于,所述在所述第二目標信號滿足第二預設閾值時,確定分集天線的發射通路導通,包括:
在所述第二目標信號與所述天線測試信號的差值小于或等于第二預設閾值時,分集天線的發射通路導通;
在所述第二目標信號與所述天線測試信號的差值大于第二預設閾值時,所述分集天線的發射通路異常。
7.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述射頻電路還包括耦合器,所述分集開關包括單刀三擲開關,所述分集天線與所述耦合器的第一端電連接,所述耦合器的第二端與所述單刀三擲開關的靜觸點電連接,所述單刀三擲開關的第一動觸點與所述信號發射口電連接;
所述在接收到天線通路檢測指令后,控制所述射頻收發器通過所述信號發射口發射通路測試信號,包括:
在接收到天線通路檢測指令后,控制所述單刀三擲開關的靜觸點與所述第一動觸點電連接,以使所述射頻收發器通過所述信號發射口發射通路測試信號。
8.一種分集天線的檢測裝置,其特征在于,包括:
第一目標信號獲取模塊,用于在接收到天線通路檢測指令后,獲取饋電點位置處的第一目標信號,其中,所述饋電點為所述分集開關與所述分集天線的電連接點;
天線測試信號發射模塊,用于在所述第一目標信號的強度值滿足第一預設閾值時,控制射頻收發器發射天線測試信號至所述分集天線;
第二目標信號獲取模塊,用于獲取分集天線發射的第二目標信號;
天線狀態確定模塊,用于在所述第二目標信號滿足第二預設閾值時,確定分集天線的發射通路導通。
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