[發明專利]基于對共同鄰近方法至多晶系推廣的缺陷檢索方法及系統

有效

• 申請號: 202110975207.0
• 申請日: 2021-08-24
• 公開（公告）號: CN113903406B
• 公開（公告）日: 2023-03-10
• 發明（設計）人: 曾雉;汪瑜;張傳國;袁偉偉;屈方
• 申請（專利權）人: 中國科學院合肥物質科學研究院
• 主分類號: G16C20/20
• 分類號: G16C20/20;G16C20/40;G16C20/70;G16C20/90
• 代理公司: 合肥市浩智運專利代理事務所(普通合伙) 34124
• 代理人: 張景云

1.基于對共同鄰近方法至多晶系推廣的缺陷檢索方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1.得到晶體的空間群結構，對空間群結構進行平移變換，得到最簡晶胞結構；

步驟2.對精簡后的晶胞結構計算近鄰距離及個數；對近鄰數個數進行統計，得到12近鄰、14近鄰、同時具有12近鄰和14近鄰的三種情況，累計出現12或14時，保留此時近鄰距離r₁和下一個近鄰距離r₂；

步驟3.根據近鄰個數進行逐個篩選，得到有缺陷原子和無缺陷原子；

3.1對于累計近鄰數12時用FCC和HCP結構的配位數進行篩選，截止半徑選擇

3.2對于累計近鄰數14時用BCC結構的配位數進行篩選，截止半徑選擇

3.3對于又有12近鄰和14近鄰的，先采用步驟3.1的方法篩選出有缺陷原子，在有缺陷原子中，再采用驟3.2的方法進行進一步篩選；

步驟4.針對步驟3篩選得到的有缺陷原子，先利用位錯檢索方法區別出晶界面和層錯界面，然后再對層錯和孿晶結果進行分類；

所述步驟4的具體過程為：

利用位錯檢索方法區別出晶界面和層錯界面，然后再通過步驟4.1、4.2對層錯和孿晶結果進行分類；

4.1對于無缺陷結構的原子進行CSP數據統計

先對無缺陷結構的原子，進行中心對稱參數數據統計，選取最近鄰數，并對前三個峰值的數據進行記錄，利用OVITO軟件，選取第四個峰值處做上界，進行著色；

4.2對于有缺陷結構原子進行中心對稱參數數據統計，選取最近鄰數，并對第四個峰值處設置著色上界，然后與步驟4.1中著色后的無缺陷結構原子進行比對，得到孿晶和層錯缺陷。

2.根據權利要求1所述的基于對共同鄰近方法至多晶系推廣的缺陷檢索方法，其特征在于，所述步驟1中，對于大分子晶體，采取取質心的方式進行精簡空間群結構；對于化合物原子晶體，采取保留主元素的方式精簡空間群結構。

3.根據權利要求1所述的基于對共同鄰近方法至多晶系推廣的缺陷檢索方法，其特征在于，所述步驟2中，對精簡后的晶胞結構進行正負方向擴一個單位，得到8個晶胞，對8個晶胞進行近鄰個數計算。

4.根據權利要求1至3任一所述的基于對共同鄰近方法至多晶系推廣的缺陷檢索方法，其特征在于，在步驟1之前還包括獲取模型的晶格常數值及對應角度，判斷是否為FCC,BCC,HCP,DIAMOND其中一種結構，若是，則采用CAN方法和DXA方法分析晶體產生的位錯和晶界，然后執行步驟4；若否，則依次執行步驟1至步驟4。