[發明專利]光學測定用池和光學分析裝置

在審

• 申請號: 202110974670.3
• 申請日: 2021-08-24
• 公開（公告）號: CN114324175A
• 公開（公告）日: 2022-04-12
• 發明（設計）人: 志水徹;赤松武
• 申請（專利權）人: 株式會社堀場STEC
• 主分類號: G01N21/03
• 分類號: G01N21/03;G01N21/3504;G01N21/3577
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 鹿屹;李雪春

1.一種光學測定用池，其特征在于，

所述光學測定用池具有透射光的透光窗，并且在內部導入試樣，

所述光學測定用池包括：

平板狀的窗構件，形成所述透光窗；

接合支承部，與所述窗構件的主面的外緣部接合，支承所述窗構件；以及

低熱膨脹部件，設置在所述接合支承部的外側周面，具有比所述接合支承部的熱膨脹率低的熱膨脹率。

2.根據權利要求1所述的光學測定用池，其特征在于，所述低熱膨脹部件設置成與所述接合支承部的外側周面貼緊。

3.根據權利要求1所述的光學測定用池，其特征在于，所述低熱膨脹部件與所述接合支承部的外側周面嵌合。

4.根據權利要求1所述的光學測定用池，其特征在于，

所述接合支承部的外側周面具有第一傾斜面，所述第一傾斜面隨著離開所述窗構件而外形尺寸變大，

所述低熱膨脹部件的內側周面具有第二傾斜面，所述第二傾斜面與所述接合支承部的所述第一傾斜面對應，

所述光學測定用池還包括固定機構，在使所述接合支承部的所述第一傾斜面與所述低熱膨脹部件的所述第二傾斜面貼緊的狀態下，所述固定機構固定所述低熱膨脹部件。

5.根據權利要求1所述的光學測定用池，其特征在于，

所述光學測定用池還包括凸緣部，所述凸緣部以包圍所述窗構件的方式與所述接合支承部連續設置，

在所述凸緣部中的位于所述接合支承部側的面上，以包圍所述接合支承部的方式形成有環狀的槽。

6.根據權利要求5所述的光學測定用池，其特征在于，所述凸緣部的位于所述槽的內側的內側壁部的壁厚小于所述接合支承部的壁厚。

7.根據權利要求5所述的光學測定用池，其特征在于，在所述凸緣部的所述槽的底部設置有熱變形吸收部。

8.根據權利要求1所述的光學測定用池，其特征在于，所述低熱膨脹部件不位于所述窗構件的外側周面的側方。

9.一種光學分析裝置，其特征在于，包括：

權利要求1所述的光學測定用池；

光照射部，向所述光學測定用池照射光；

光檢測部，檢測透射了所述光學測定用池的光；以及

濃度算出部，使用由所述光檢測部得到的光強度信號，算出所述試樣中的成分濃度。