[發明專利]基于宏細觀參數關聯準則的DEM細觀參數標定方法在審
| 申請號： | 202110973540.8 | 申請日： | 2021-08-24 |
| 公開（公告）號： | CN113836789A | 公開（公告）日： | 2021-12-24 |
| 發明（設計）人： | 周宗青;白松松;李利平;褚開維;屠文鋒;孫基偉;商成順 | 申請（專利權）人： | 山東大學 |
| 主分類號： | G06F30/27 | 分類號： | G06F30/27;G06N20/00;G06F111/10;G06F119/14 |
| 代理公司： | 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221 | 代理人： | 祖之強 |
| 地址： | 250061 山東*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 宏細觀 參數 關聯 準則 dem 標定 方法 | ||
1.一種基于宏細觀參數關聯準則的DEM細觀參數標定方法，其特征在于：包括以下過程：
獲取經室內基礎力學試驗得到的巖石DEM宏觀力學參數；
根據巖石DEM宏觀力學參數、先驗條件和預設機器學習模型，得到用于巖石力學特征模擬的巖石DEM細觀力學參數；
其中，細觀力學參數為預設機器學習模型的預測結果與各先驗證條件結果的加權和。
2.如權利要求1所述的基于宏細觀參數關聯準則的DEM細觀參數標定方法，其特征在于：
宏觀力學參數至少包括宏觀彈性模量、泊松比、宏觀抗壓強度和宏觀抗剪強度。
3.如權利要求1所述的基于宏細觀參數關聯準則的DEM細觀參數標定方法，其特征在于：
細觀力學參數至少包括顆粒有效模量、顆粒密度、粘結有效模量和粘結強度。
4.如權利要求1所述的基于宏細觀參數關聯準則的DEM細觀參數標定方法，其特征在于：
將宏觀力學參數和細觀力學參數的對應關系作為預設機器學習模型的先驗條件。
5.如權利要求1所述的基于宏細觀參數關聯準則的DEM細觀參數標定方法，其特征在于：
細觀力學參數為：第一系數與預設機器學習模型的預測結果的乘積，再同各先驗條件計算結果與對應的第二系數的乘積的加和。
6.如權利要求5所述的基于宏細觀參數關聯準則的DEM細觀參數標定方法，其特征在于：
每個先驗條件包括一個對應的第二系數。
7.如權利要求5或6所述的基于宏細觀參數關聯準則的DEM細觀參數標定方法，其特征在于：
各個第二系數的加和為第一數值，第一系數為第二數值，第一數值和第二數值的加和為1。
8.一種基于宏細觀參數關聯準則的DEM細觀參數標定系統，其特征在于：包括：
數據獲取模塊，被配置為：獲取經室內基礎力學試驗得到的巖石DEM宏觀力學參數；
細觀參數標定模塊，被配置為：根據巖石DEM宏觀力學參數、先驗條件和預設機器學習模型，得到用于巖石力學特征模擬的巖石DEM細觀力學參數；
其中，細觀力學參數為預設機器學習模型的預測結果與各先驗證條件結果的加權和。
9.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有程序，其特征在于，該程序被處理器執行時實現如權利要求1-7任一項所述的基于宏細觀參數關聯準則的DEM細觀參數標定方法中的步驟。
10.一種電子設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的程序，其特征在于，所述處理器執行所述程序時實現如權利要求1-7任一項所述的基于宏細觀參數關聯準則的DEM細觀參數標定方法中的步驟。
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