[發明專利]一種設備測試方法、系統、裝置、電子設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202110972660.6
• 申請日: 2021-08-24
• 公開（公告）號: CN113671292A
• 公開（公告）日: 2021-11-19
• 發明（設計）人: 儲銅江;張啟益
• 申請（專利權）人: 蘇州歐清電子有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 蘇舒音

1.一種設備測試方法，其特征在于，應用于設備測試系統，包括：

確定多個待測設備的至少一個測試項目；

在確定各所述測試項目為第一測試項目的情況下，確定各所述待測設備的測試項目的錯位測試順序；其中，各所述待測設備在同一錯位測試順序的測試項目不同；

根據所述錯位測試順序對各所述待測設備的測試項目進行錯位測試。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定各所述測試項目為第一測試項目，包括：

根據本地配置數據確定同步測試項目類型；其中，所述本地配置數據包括本地配置的目標測試模塊的類別以及每個所述目標測試模塊的數量；

在確定所述測試項目與所述同步測試項目類型不完全匹配的情況下，將所述測試項目確定為所述第一測試項目。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，還包括：

在確定所述測試項目與所述同步測試項目類型完全匹配的情況下，確定所述待測設備的測試項目為第二測試項目；

確定所述待測設備的測試項目的同步測試順序；

根據所述同步測試順序對各所述待測設備的測試項目進行同步測試。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定各所述待測設備的測試項目的錯位測試順序，包括：

確定所述待測設備的基礎測試環節包括的基礎同步測試項目，為所述基礎同步測試項目分配基礎同步測試順序；其中，各所述待測設備在同一基礎同步測試順序的測試項目相同；

確定所述待測設備的非基礎測試環節包括的測試項目，根據所述基礎同步測試順序為所述非基礎測試環節包括的測試項目分配錯位測試順序。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，在所述根據所述基礎同步測試順序為所述非基礎測試環節包括的測試項目分配錯位測試順序之后，還包括：

通過GPIO通用型輸入輸出引腳向所述待測設備發送低電壓信號，以使所述待測設備進入測試狀態；

通過UART通用異步收發傳輸器通信方式按照所述錯位測試順序向所述待測設備發送測試開啟信號，以使所述待測設備的所述測試項目進入測試狀態。

6.根據權利要求1-5任一所述的方法，其特征在于，所述待測設備包括遙控器。

7.一種設備測試系統，其特征在于，包括中心控制模塊以及目標測試模塊，其中：

所述中心控制模塊與所述目標測試模塊通信連接，用于確定多個待測設備的至少一個測試項目；在確定各所述測試項目為第一測試項目的情況下，確定各所述待測設備的測試項目的錯位測試順序；其中，各所述待測設備在同一錯位測試順序的測試項目不同；

所述目標測試模塊，用于根據所述錯位測試順序對各所述待測設備的測試項目進行錯位測試。

8.一種設備測試裝置，其特征在于，包括：

測試項目確定模塊，用于確定多個待測設備的至少一個測試項目；

錯位測試順序確定模塊，用于在確定各所述測試項目為第一測試項目的情況下，確定各所述待測設備的測試項目的錯位測試順序；其中，各所述待測設備在同一錯位測試順序的測試項目不同；

錯位測試模塊，用于根據所述錯位測試順序對各所述待測設備的測試項目進行錯位測試。

9.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括：

一個或多個處理器；

存儲裝置，用于存儲一個或多個程序；

當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行，使得所述一個或多個處理器實現如權利要求1-6中任一所述的設備測試方法。

10.一種計算機存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執行時實現如權利要求1-6中任一所述的設備測試方法。