[發明專利]一種新的X射線照射在待測物表面強度的調校方法

在審

• 申請號: 202110971475.5
• 申請日: 2021-08-24
• 公開（公告）號: CN113790686A
• 公開（公告）日: 2021-12-14
• 發明（設計）人: 劉安
• 申請（專利權）人: 蘇州艾克瑞特儀器有限公司
• 主分類號: G01B15/02
• 分類號: G01B15/02
• 代理公司: 深圳至誠化育知識產權代理事務所(普通合伙) 44728
• 代理人: 劉英

本發明涉及X射線測厚儀領域，且公開了一種新的X射線照射在待測物表面強度的調校方法。該一種新的X射線照射在待測物表面強度的調校方法，本發明通過精密可調電位器與準直器套筒高度調節旋鈕通過帶齒傳動皮帶相連接，可以換算出標準片表面和準直器套筒之間的間距l，從而得知標準片所接收的X射線強度；第二步，調節攝像頭焦距，使得攝像頭獲得標準片最清晰圖像，也就使得標準片處于攝像頭的焦點處；第三步，在待測物載臺放置待測物，調整待測物載臺高度，使得待測物頂部表面處在可調焦距攝像頭的焦點上，保證待測物頂部表面獲得的X射線強度與第一步中的X射線強度相同，本發明結構簡單，提高了測量物體鍍層厚度的效率以及精準度。

技術領域

本發明涉及X射線測厚儀領域，尤其涉及一種新的X射線照射在待測物表面強度的調校方法。

背景技術

目前在X射線測厚儀領域，傳統的技術一般都是采用激光測距或者紅外測距來測定被測物與準直器之間的間距，以獲得X射線照射到被測物表面的強度，但是傳統技術的激光測距以及紅外測距是通過直接將光線達到物體上，再通過物體反彈光線以及接受的方式對物體進行測量，此方式較為傳統并且存在一定的誤差，而本發明提供了一種新的X射線照射在待測物表面強度的調校方法，以保證對X射線照射在待測物表面強度的調校效率以及精準度，保證對測量物體鍍層厚度的效率以及精準度。為此，我們提出一種新的X射線照射在待測物表面強度的調校方法。

發明內容

本發明主要是解決上述現有技術所存在的技術問題，提供一種新的X射線照射在待測物表面強度的調校方法。

為了實現上述目的，本發明采用了如下技術方案，一種新的X射線照射在待測物表面強度的調校方法，包括以下工作步驟：

第一步：待測物載臺放置一個超薄標準片，調節準直器套筒高度調節旋鈕，將準直器套筒高度調節旋鈕固定到某一個位置，精密可調電位器與準直器套筒高度調節旋鈕通過帶齒傳動皮帶相連接，與準直器套筒高度調節旋鈕一起轉動，從精密可調電位器讀出電阻值，可以換算出待測物載臺和準直器套筒之間的間距，減去超薄標準片厚度，得到標準片表面與準直器套筒之間的間距l，從而得知標準片表面所接收的X射線強度；

第二步：調節可調焦距攝像頭，使得待測物載臺上標準片剛好在可調焦距攝像頭的焦點上，此時從可調焦距攝像頭屏幕上能看到標準片最清晰的圖像，此時焦距與l形成一對一對應關系，由此對應關系，可以得出焦距與標準片表面接收的X射線強度形成一對一對應關系；

第三步：待測物置于待測物載臺表面，旋轉載臺高度調節旋鈕，使得待測物頂部處于可調焦距攝像頭的焦點上，也就是使可調焦距攝像頭屏幕看到的清晰的待測物頂部表面，由于待測物頂部表面處在可調焦距攝像頭的焦點上，也是待測物頂部表面與攝像頭之間的間距，和第二步中的可調焦距攝像頭和標準片的間距l相同；因此，待測物頂部表面接收的X射線強度與第一步標準片表面接收的X射線強度相同；

第四步：按照相同的操作步驟，對其它待測物進行放置和調節矯正。

作為優選，所述第一步和第二步完成之后，此時的準直器套筒高度調節旋鈕不可再調節，此時系統固定了待測物載臺和準直器套筒之間的間距。

作為優選，所述準直器套筒高度調節旋鈕不可再調節后，可調焦距攝像頭的焦點不可再調節，此時固定了可調焦距攝像頭與待測物載臺之間的間距。

作為優選，所述待測物置于待測物載臺表面，由于待測物高出待測物載臺一些距離，因此，待測物頂部表面接收到的X射線強度是未知的，此時，可調焦距攝像頭屏幕看到的待測物頂部由于不在焦點上，視頻圖像是模糊的。