[發明專利]一種高頻高性能SAW器件用碳化硅基AlScN模板及制備方法在審
| 申請號: | 202110971256.7 | 申請日: | 2021-08-24 |
| 公開(公告)號: | CN113871289A | 公開(公告)日: | 2021-12-31 |
| 發明(設計)人: | 吳亮;付丹揚;王琦琨;龔建超 | 申請(專利權)人: | 奧趨光電技術(杭州)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L21/203;H01L21/205 |
| 代理公司: | 杭州宇信聯合知識產權代理有限公司 33401 | 代理人: | 梁群蘭 |
| 地址: | 311100 浙江省杭州市余杭區余*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 高頻 性能 saw 器件 碳化硅 alscn 模板 制備 方法 | ||
1.一種高頻高性能SAW器件用碳化硅基AlScN模板,其特征在于:所述碳化硅基AlScN模板為多層結構,以單晶碳化硅為襯底,在碳化硅的拋光面上依次生長有SiO2層、金屬鈍化層、AlN種子層、低濃度Sc摻雜的AlScN層以及高濃度Sc摻雜的AlScN層;
其中:所述低濃度Sc摻雜的AlScN層化學式為Al1-xScxN,其中x≤0.3;所述高濃度Sc摻雜的AlScN層化學式為Al1-yScyN,其中0.3≤y≤0.6。
2.根據權利要求1所述一種高頻高性能SAW器件用碳化硅基AlScN模板,其特征在于:所述SiO2層膜厚為10-1000nm、所述金屬鈍化層膜厚為5-1000nm;所述AlN種子層膜厚為10-5000nm;所述低濃度Sc摻雜的AlScN層膜厚為10-5000nm;所述高濃度Sc摻雜的AlScN層膜厚為10-5000nm。
3.根據權利要求1所述一種高頻高性能SAW器件用碳化硅基AlScN模板,其特征在于:所述碳化硅基AlScN模板頻率溫度系數低于-14.73ppm/K,相速度達到5500m/s以上。
4.制備如權利要求1-3任一項所述一種高頻高性能SAW器件用碳化硅基AlScN模板的方法,其特征在于,包括步驟如下:
1)準備碳化硅襯底;碳化硅襯底采用單面拋光的單晶片;
2)碳化硅襯底表面進行預處理;
3)在預處理后的碳化硅襯底表面制備SiO2層;
4)在SiO2層上制備金屬層;
5)在金屬層上制備AlN種子層;
6)在AlN種子層上制備低Sc濃度的Al1-xScxN層,其中x≤0.3;
7)在所述低Sc濃度的Al1-xScxN層上制備高Sc濃度的Al1-yScyN層,0.3≤y≤0.6。
5.根據權利要求4所述一種高頻高性能SAW器件用碳化硅基AlScN模板的制備方法,其特征在于:步驟2)采用離子轟擊法,去除碳化硅襯底表面氧化物和污染物。
6.根據權利要求4所述一種高頻高性能SAW器件用碳化硅基AlScN模板的制備方法,其特征在于:步驟5)采用MOCVD法或者磁控濺射法生長AlN種子層。
7.根據權利要求4所述一種高頻高性能SAW器件用碳化硅基AlScN模板的制備方法,其特征在于:步驟6)或者步驟7)采用磁控濺射法。
8.根據權利要求7所述一種高頻高性能SAW器件用碳化硅基AlScN模板的制備方法,其特征在于:步驟6)中,采用磁控濺射法的制備工藝為:氮氣流量為5-400 sccm,氬氣流量為5-400 sccm,腔室內總氣壓為0.1-10pa,濺射功率為0.1-15 KW,溫度30-1000℃。
9.根據權利要求7所述一種高頻高性能SAW器件用碳化硅基AlScN模板的制備方法,其特征在于:步驟7)中,采用磁控濺射法的制備工藝為:氮氣流量為5-400 sccm,氬氣流量為5-200 sccm,腔室內總氣壓為0.1-5pa,濺射功率為0.1-15 KW,溫度30-600℃。
10.根據權利要求4所述一種高頻高性能SAW器件用碳化硅基AlScN模板的制備方法,其特征在于:所述金屬層為金屬Al層或者金屬鎢層。
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H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





