[發明專利]背板檢測系統及其檢測方法

在審

• 申請號: 202110969435.7
• 申請日: 2021-08-23
• 公開（公告）號: CN115712209A
• 公開（公告）日: 2023-02-24
• 發明（設計）人: 蔣光平;林浩翔;蔡明達
• 申請（專利權）人: 重慶康佳光電技術研究院有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強

本發明涉及一種用于LED顯示背板的背板檢測系統及其檢測方法。背板檢測系統包括偏光組件、位于偏光組件之間的液晶裝置、位于偏光組件遠離LED顯示背板一側的圖像采集裝置，及電連接于LED顯示背板的信號加載裝置。圖像采集裝置包括光源及成像設備；信號加載裝置用于向LED顯示背板施加電信號，使LED顯示背板的每對電極之間具有呈周期性變化的電壓差值。該電壓差值可改變光源發射的透過偏光組件和液晶裝置入射到LED顯示背板上的光線的總量，進而使得成像設備接收LED顯示背板反射并透過偏光組件和液晶裝置的反射光線后能對應形成特征圖像，基于特征圖像即可判斷每一電極是否良好，避免不良電極與LED芯片鍵合，降低修復難度。

技術領域

本發明涉及檢測技術領域，尤其涉及一種用于LED顯示背板的背板檢測系統及其檢測方法。

背景技術

相比于目前的LCD和OLED顯示器件，Micro-LED顯示器件具有反應快、色域廣、高PPI、低能耗等突出優勢，因而逐漸發展成未來的顯示技術熱點之一件，并趨向于取代LCD和OLED顯示器件。

Micro-LED顯示器件作為多個紅、綠、藍三色Micro-LED芯片按照一定規則排列并與LED顯示背板鍵合的產物，Micro-LED芯片和LED顯示背板中的任一個存在缺陷時都會影響Micro-LED顯示器件的使用。其中，LED顯示背板在制作過程中，可能會存在表面劃傷、表面污染等外觀缺陷，也可能會存在電極短路或者電極斷路等內部缺陷，這些都會影響Micro-LED顯示器件的使用，因此LED顯示背板的檢測十分重要。

目前，LED顯示背板的檢測通常采用光學檢測的方式。具體而言，將良好的Micro-LED芯片和LED顯示背板鍵合后，向LED顯示背板施加電信號并通過拍攝Micro-LED芯片是否點亮來判斷LED顯示背板是否存在電極短路或者電極斷路(即不良電極)。然而，上述光學檢測的方法雖然可以檢測出LED顯示背板上的不良電極，但這些不良電極已經和Micro-LED芯片鍵合，大大增加了LED顯示背板的修復難度。

發明內容

鑒于上述現有技術的不足，本申請提出一種背板檢測系統及其檢測方法，用于檢測LED顯示背板時，能夠提前檢測出所述LED顯示背板是否存在不良電極，從而避免不良電極與LED芯片鍵合，降低修復難度。

一種背板檢測系統，用于檢測LED顯示背板，所述LED顯示背板的一側陣列設置多對電極，所述背板檢測系統包括：

偏光組件，包括位于所述LED顯示背板的一側的第一偏光件及位于所述第一偏光件遠離所述LED顯示背板的一側的第二偏光件，所述第一偏光件的偏光軸與所述第二偏光件的偏光軸垂直；

液晶裝置，位于所述第一偏光件和所述第二偏光件之間，所述液晶裝置包括至少覆蓋所述LED顯示背板上的所述多對電極的液晶層；

圖像采集裝置，位于所述第二偏光件遠離所述液晶裝置的一側，所述圖像采集裝置包括光源及成像設備，所述光源用于發射光線，所述成像設備用于接收反射光線并生成特征圖像；以及

信號加載裝置，所述信號加載裝置用于向所述LED顯示背板施加電信號，以使所述LED顯示背板上的每對所述電極之間具有呈周期性變化的電壓差值。

上述背板檢測系統中，通過所述信號加載裝置向所述LED顯示背板施加電信號，使所述LED顯示背板的每對電極之間具有呈周期性變化的電壓差值，進而能夠在每對所述電極之間形成電場大小也呈周期性變化的橫向電場，由此，在所述橫向電場的作用下，所述液晶層的液晶分子的偏轉角度也呈周期性變化，從而可以周期性調節透過所述偏光組件和所述液晶裝置并照射到所述LED顯示背板上的入射光線的總量，使得所述成像設備能夠接收所述LED顯示背板的反射光線并對應生成顯示有多個閃爍點的所述特征圖像。通過觀察所述特征圖像的顯示畫面，即可判斷所述LED顯示背板的每一所述電極是否良好，從而提前檢測出所述LED顯示背板是否存在不良電極，避免該不良電極與LED芯片鍵合，降低了所述LED顯示背板的修復難度。