[發明專利]一種觸摸屏性能提升的方法、裝置、移動終端及存儲介質

在審

• 申請號: 202110968412.4
• 申請日: 2021-08-23
• 公開（公告）號: CN113655908A
• 公開（公告）日: 2021-11-16
• 發明（設計）人: 王宗猛
• 申請（專利權）人: 努比亞技術有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 深圳協成知識產權代理事務所(普通合伙) 44458
• 代理人: 章小燕

本發明公開一種觸摸屏性能提升的方法、裝置、移動終端及存儲介質，屬于移動終端領域。所述方法包括：讀取觸摸屏的通道中每個節點的原始容值；根據每個節點的原始容值，確定通道節點的原始容值總和；根據所述通道節點的原始容值總和，確定通道節點的容值平均值；根據所述通道節點的容值平均值，將所述觸摸屏的通道中每個節點的原始容值調整為調試容值；根據所述觸摸屏的通道中每個節點的調試容值，調試所述觸摸屏的性能。通過本發明實施例，從而可以使觸摸屏的每個節點的容值比較均勻，可以很好的滿足用戶對調試觸摸屏高性能功能的需求，提高調試高性能觸摸效果，避免調試高性能觸摸效果失敗的問題，提升用戶體驗。

技術領域

本發明涉及移動終端領域，特別涉及一種觸摸屏性能提升的方法、裝置、移動終端及存儲介質。

背景技術

當前，移動終端的日益普及，使用移動終端的用戶越來越多，用戶日常使用移動終端也越來越頻繁，使得移動終端已經成為用戶必不可少的移動設備之一。

移動終端目前一般都是使用觸摸屏(TouchPad，TP)，而觸摸屏一般是使用ITO(Indium-Tin Oxide，氧化銦錫)走線，使得芯片會存在從近端到遠端衰減的現象，造成數據衰減。對于觸摸屏材料而言，靠近芯片端一般為近端，另一端為遠端，從近端到遠端有衰減，阻抗會越來越大，從而導致遠端和近端容值差異。在對觸摸屏進行高性能調試時，必然要求掃描周期比較大，從而導致衰減更嚴重，容值從近端到遠端出現相差太大，造成近端和遠端的靈敏度相差比較大(一般超過10％即可定義相差較大)，嚴重的會出現近端很靈敏而遠端觸摸無反應的情況，從而導致調試高性能觸摸效果失敗，即高靈敏度和高報點率，高抗干擾的觸摸效果失敗，影響用戶體驗。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供的一種觸摸屏性能提升的方法、裝置、移動終端及存儲介質，可以使觸摸屏的每個節點的容值比較均勻，可以很好的滿足用戶對調試觸摸屏高性能功能的需求，提高調試高性能觸摸效果，避免調試高性能觸摸效果失敗的問題，提升用戶體驗。

本發明解決上述技術問題所采用的技術方案如下：

根據本發明的一個方面，提供的一種觸摸屏性能提升的方法，應用于移動終端，所述方法包括：

讀取觸摸屏的通道中每個節點的原始容值；

根據每個節點的原始容值，確定通道節點的原始容值總和；

根據所述通道節點的原始容值總和，確定通道節點的容值平均值；

根據所述通道節點的容值平均值，將所述觸摸屏的通道中每個節點的原始容值調整為調試容值；

根據所述觸摸屏的通道中每個節點的調試容值，調試所述觸摸屏的性能。

在一個可能的設計中，所述根據每個節點的原始容值，確定通道節點的原始容值總和；包括：

將每個節點的原始容值相加，得到通道節點的原始容值總和。

在一個可能的設計中，所述根據所述通道節點的原始容值總和，確定通道節點的容值平均值；包括：

將所述通道節點的原始容值總和除以觸摸屏通道中所有節點數之和，得到通道節點的容值平均值。

在一個可能的設計中，所述根據所述通道節點的容值平均值，將所述觸摸屏的通道中每個節點的原始容值調整為調試容值；包括：

確定節點的原始容值與所述通道節點的容值平均值的差值；

如果差值為負，則所述節點的原始容值低于所述通道節點的容值平均值，在容值調整時，將所述節點的原始容值加上所述差值，得到所述節點的調試容值；

如果差值為正，則所述節點的原始容值高于所述通道節點的容值平均值，在容值調整時，將所述節點的原始容值減去所述差值，得到所述節點的調試容值。