[發明專利]批量實現電子延期模塊老化實驗的測試系統及方法

在審

• 申請號: 202110967615.1
• 申請日: 2021-08-23
• 公開（公告）號: CN113608057A
• 公開（公告）日: 2021-11-05
• 發明（設計）人: 趙先鋒;李超飛;孫翼;周旭;張永剛
• 申請（專利權）人: 無錫盛景微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R19/00
• 代理公司: 蘇州國誠專利代理有限公司 32293
• 代理人: 顧陽

1.批量實現電子延期模塊老化實驗的測試系統，其特征在于：包括老化測試工裝，用于對至少一路待測樣品施加老化測試條件；

采集裝置，與所述老化測試工裝之間相連接，用于對所述待測樣品進行電流采樣，并將電流采樣測試數據發送至上位機控制裝置；

上位機控制裝置，與所述采集裝置之間通信連接，用于發送測試信號指令，接收所述采集裝置發送的電流采樣測試數據，對測試數據進行存儲分析，并對所述待測樣品進行實時狀態監測。

2.根據權利要求1所述的批量實現電子延期模塊老化實驗的測試系統，其特征在于：每路所述待測樣品均包括m組電子延期模組，每組所述電子延期模組均包括n個電子延期模塊，m組所述電子延期模組并聯集成于PCB板上形成所述待測樣品，其中m≥1，n≥1。

3.根據權利要求1所述的批量實現電子延期模塊老化實驗的測試系統，其特征在于：所述老化測試工裝包括老化測試板、定位板和限位板，所述老化測試板與限位板、定位板依次從下至上逐層連接后裝配于定位治具上，所述定位板上排布有多個定位塊，所述定位塊上開有安裝槽，待測樣品均插接在所述安裝槽中，所述老化測試板上排布有多個PIN夾，每路所述待測樣品對應2個PIN夾，并通過所述PIN夾將所述待測樣品接入老化電路中。

4.根據權利要求3所述的批量實現電子延期模塊老化實驗的測試系統，其特征在于：所述老化測試板上布置有電流采樣單元、多路復用單元、電流環調制單元、串并轉換單元，所述電流采樣單元、多路復用單元、電流環調制單元依次電連接，所述串并轉換單元接于所述多路復用單元；所述電流采樣單元的數量與所述待測樣品的數量相同，且均連接于所述多路復用單元；

其中，所述電流采樣單元，用于采集所述待測樣品的電流信號；

所述多路復用單元，用于控制選擇單個所述待測樣品；

所述電流環調制單元，用于對接收的所述待測樣品的電流信號實現抗干擾調制；

所述串并轉換單元，用于完成串行輸入、并行輸出的轉換，且控制所述多路復用單元。

5.根據權利要求4所述的批量實現電子延期模塊老化實驗的測試系統，其特征在于：所述采集裝置包括電流電壓轉換單元、控制單元、驅動單元，所述電流環調制單元依次連接所述電流電壓轉換單元、控制單元，所述控制單元與所述串并轉換單元之間連接所述驅動單元；

其中，所述電流電壓轉換單元，用于對接收的經所述電流環調制單元抗干擾調制的電流信號進行電流電壓轉換，并將轉換后的信號傳輸給所述控制單元。

6.根據權利要求5所述的批量實現電子延期模塊老化實驗的測試系統，其特征在于：所述上位機控制裝置包括上位機及與所述上位機相連接的顯示界面、報警器、數據庫，所述上位機控制裝置與所述控制單元之間通信連接。

7.批量實現電子延期模塊老化實驗的測試方法，其特征在于：其包括如權利要求1-6任一項所述的批量實現電子延期模塊老化實驗的測試系統，測試方法包括以下測試步驟：

S1、將若干個待測樣品安裝在老化測試工裝上，并對所述待測樣品進行編號，通過PIN夾將所述待測樣品與老化測試板相連接，以接入老化電路中；

S2、將組裝好的老化測試工裝置于烘箱中，設置一定的老化電壓、老化溫度和老化時間；

S3、對若干個所述待測樣品分別進行電流采樣，通過電流電壓轉換單元將采集到的電流進行轉換，并將采集到的數據發送至上位機控制裝置；

S4、所述上位機控制裝置接收所述采集裝置發送的電流采樣測試數據，對測試數據進行存儲分析，并對所述待測樣品進行實時狀態監測，進一步地，對于電流測試異常的所述待測樣品進行報警提示。

8.根據權利要求7所述的批量實現電子延期模塊老化實驗的測試方法，其特征在于：設置的老化電壓為15-30V，老化溫度為60-105℃，老化時間為2-10h。