[發明專利]核電廠工藝系統過程風險評估系統及方法

有效

• 申請號: 202110964938.5
• 申請日: 2021-08-20
• 公開（公告）號: CN113743750B
• 公開（公告）日: 2023-07-18
• 發明（設計）人: 楊建峰;張曉明;王晗丁;馮丙辰;黃立華;伍妍;王李娟;王超;楊志超;郭建兵;李瓊哲
• 申請（專利權）人: 蘇州熱工研究院有限公司;中國廣核集團有限公司;中國廣核電力股份有限公司
• 主分類號: G06Q10/0635
• 分類號: G06Q10/0635;G06Q50/06;G06F18/243;G06F18/2415
• 代理公司: 深圳市瑞方達知識產權事務所(普通合伙) 44314
• 代理人: 張秋紅

1.一種核電廠工藝系統過程風險評估方法，其特征在于，包括

S1.分析界定步驟：確定分析范圍和目標；

S2.劃分節點步驟：將生產過程分成數個節點；

S3.偏差分析步驟：根據HAZOP工具庫中的引導詞和生產參數對數個所述節點預設偏差，根據所述偏差進行偏差分析并得到偏差分析結果；

S4.初始事件分析步驟：對所述偏差分析的原因進行初始事件分析，并得到初始事件分析結果；

S5.事件樹分析步驟：根據事件樹工具進行事件樹分析，并得到事件樹分析結果；

S6.保護層系統分析步驟：對保護層系統進行基礎分析并得到基礎分析結果，所述基礎分析結果包括故障樹分析結果、設備數據分析結果、人因分析結果及共因分析結果；各保護層之間相互關聯，根據故障樹及其轉移門的方式表示其關系；

S7.建模及計算步驟：根據所述初始事件分析結果、所述事件樹分析結果、所述故障樹分析結果、所述設備數據分析結果、所述人因分析結果、所述共因分析結果建模，所述初始事件分析結果、所述事件樹分析結果、所述故障樹分析結果、所述設備數據分析結果、所述人因分析結果、所述共因分析結果包括n個最小割集，并根據公式5計算事故序列失效概率F：

其中，F(MCS_i)表示第i個最小割集失效概率，所述初始事件分析結果、所述事件樹分析結果、所述故障樹分析結果、所述設備數據分析結果、所述人因分析結果、所述共因分析結果包括第1、2……n個最小割集失效概率；

并根據公式6計算風險頻率值Q：

其中，Fi為第i個最小割集事故序列失效概率；

并根據公式4計算共因分析結果Q_k：

其中：

Q_tot：CCF組中每個基本事件的總不可利用度

Q_k：K階CCF事件不可利用度

n：CCF組中基本事件數。

2.根據權利要求1所述的核電廠工藝系統過程風險評估方法，其特征在于，所述核電廠工藝系統過程風險評估方法還包括步驟S8：重要影響度分析步驟：根據公式7和公式8計算i基本事件的風險重要度FVi和i基本事件的風險增進值RAWi：

FV_i＝Q_i/Q??????公式7

RAW_i＝Q_i+/Q?????公式8

其中，FVi為i基本事件的風險重要度；RAWi為i基本事件的風險重要度；Q為堆芯損壞年發生頻率；Qi為含i基本事件的最小割集頻率之和；Qi+為將i基本事件發生概率設定為1后的堆芯損壞頻率；所述初始事件分析結果、所述事件樹分析結果、所述故障樹分析結果、所述設備數據分析結果、所述人因分析結果、所述共因分析結果還包括所述Q、Qi、Qi+。

3.根據權利要求1所述的核電廠工藝系統過程風險評估方法，其特征在于，所述核電廠工藝系統過程風險評估方法還包括S9.判斷步驟：判斷所述風險頻率值Q是否超過一風險閾值，若是，則增加和/或修改保護層，并返回步驟S1；若否，則結束。

4.根據權利要求1-3任一項所述的核電廠工藝系統過程風險評估方法，其特征在于，所述步驟S6中還包括以下子步驟：

S61.故障樹分析步驟：對保護層系統進行故障樹分析并得到所述故障樹分析結果；

S62.設備數據分析步驟：對保護層系統進行設備數據分析并得到所述設備數據分析結果；

S63.人因分析步驟：對保護層系統進行人因分析并得到所述人因分析結果；

S64.共因分析步驟：對保護層系統進行共因分析并得到所述共因分析結果。

5.根據權利要求1-3任一項所述的核電廠工藝系統過程風險評估方法，其特征在于，所述偏差分析的原因包括管道泄漏、硬件故障、程序缺失、人為失誤、外界干擾的一種或幾種的組合。