[發明專利]薄玻璃彈性模量測試方法及裝置

在審

• 申請號: 202110959489.5
• 申請日: 2021-08-20
• 公開（公告）號: CN113790954A
• 公開（公告）日: 2021-12-14
• 發明（設計）人: 王肖義;李瑞佼;王世嵐;胡恒廣
• 申請（專利權）人: 河北光興半導體技術有限公司;東旭科技集團有限公司
• 主分類號: G01N3/04
• 分類號: G01N3/04;G01N3/38;G01N3/02
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司 11283
• 代理人: 肖冰濱;王曉曉

1.一種薄玻璃彈性模量測試方法，其特征在于，所述方法包括：

確定所述薄玻璃樣品的樣品數據；

對所述樣品設置夾持線，其中所述夾持線至少包括第一夾持線和第二夾持線，在所述第一夾持線的一側設置信號接收處，在所述第二夾持線與所述樣品的接觸區域設置激勵處；

獲取所述第二夾持線的激勵信號，所述激勵信號是根據所述激勵處在所述第二夾持線上選取一個挑起點，利用預設工具在所述挑起點上將所述第二夾持線挑起預設高度后引起所述樣品振動產生的；

根據所述激勵信號確定所述第二夾持線的激振頻率；

根據所述樣品數據和所述激振頻率確定所述樣品的楊氏模量、剪切模量以及泊松比。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取多個激勵信號，以得到多組測量數據，所述測量數據包括激振頻率、楊氏模量、剪切模量以及泊松比；

根據所述多組測量數據計算出數據的標準偏差；

在所述標準偏差小于或等于預設偏差閾值的情況下，根據所述多組測量數據確定所述樣品的楊氏模量、剪切模量以及泊松比。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一夾持線與所述第二夾持線的設置滿足以下條件：

所述第一夾持線與所述第二夾持線平行設置；

所述第一夾持線與所述第二夾持線與所述樣品的長度方向上垂直放置；

所述第一夾持線與所述第二夾持線的間距為預設間距值；

所述第一夾持線至所述樣品第一邊緣的距離，與所述第二夾持線至所述樣品第二邊緣的距離相等。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述樣品數據包括所述樣品的質量、寬度、長度和厚度；所述激振頻率包括所述第二夾持線的彎曲頻率；所述楊氏模量通過公式(1)計算得到：

其中，E表示為所述楊氏模量，單位為Pa；m表示為所述樣品的質量，單位為g；b表示為所述樣品的寬度，單位為mm；L表示為所述樣品的長度，單位為mm；t表示為所述樣品的厚度，單位為mm；f_f表示為所述彎曲頻率，T₁表示為修正因子。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述樣品數據包括所述樣品的質量、寬度、長度和厚度；所述激振頻率包括所述第二夾持線的扭曲頻率；所述剪切模量通過公式(2)計算得到：

其中，G表示為所述剪切模量，單位為Pa；m表示為所述樣品的質量，單位為g；b表示為所述樣品的寬度，單位為mm；L表示為所述樣品的長度，單位為mm；t表示為所述樣品的厚度，單位為mm；f_t表示為所述扭曲頻率，A為第一表達式，B為第二表達式。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，A的表達式為公式(3)

B的表達式為公式(4)：

7.根據權利要求4至6中任一項所述的方法，其特征在于，所述泊松比通過公式(5)計算得到：

其中，μ表示為所述泊松比，E表示為所述楊氏模量，G表示為所述剪切模量。

8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述激振頻率包括所述第二夾持線的彎曲頻率和扭曲頻率；所述方法還包括：

在所述彎曲頻率大于或等于2KHz，和/或所述扭曲頻率大于或等于5KHz的情況下，確定所述樣品不符合樣品標準。