[發明專利]一種基于空間分布擬合的γ光子多次散射校正方法在審
| 申請號： | 202110957666.6 | 申請日： | 2021-08-19 |
| 公開（公告）號： | CN113670961A | 公開（公告）日： | 2021-11-19 |
| 發明（設計）人： | 范兼睿;劉小姣;徐風友;汪玥;張昕婷;沈高青;李志林;曹盼 | 申請（專利權）人： | 南京航空航天大學 |
| 主分類號： | G01N23/20066 | 分類號： | G01N23/20066;G06F17/15 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 210016*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 空間 分布 擬合 光子 多次 散射 校正 方法 | ||
1.一種基于空間分布擬合的γ光子多次散射校正方法，具體包括以下步驟：
步驟1：在三維數據采集模式下，基于探測器對A、B記錄的發生多次散射符合事件的γ光子對，建立γ光子多次散射校正數學模型；
步驟2：將空間三維坐標系XYZ投影變換到LoR數據重組后的二維坐標系Lθ，得出γ光子多次散射分布高斯核函數；
步驟3：計算探測器對A、B記錄的發生多次散射符合事件的γ光子對數目。
2.根據權利要求1所述的基于空間分布擬合的γ光子多次散射校正方法，其特征在于：在三維數據采集模式下，基于探測器對A、B記錄的發生多次散射符合事件的γ光子對，γ光子多次散射校正數學模型的建立步驟如下：
步驟1-1：將空間坐標系XYZ變換為極坐標系令為核素空間分布函數，為衰減系數；
步驟1-2：每次γ光子散射事件屬于互相獨立事件，因此多次散射的概率密度完全可以按照獨立事件的方式進行計算，令IS(A，B)為γ光子單次散射分布函數，KM(x，y，z)為γ光子多次散射概率分布高斯核函數，其計算公式如下：
步驟1-3：γ光子多次散射分布IM(A，B)看作是γ光子單次散射分布函數和多次散射高斯核函數的卷積，其計算公式如下：
其中V是γ光子探測空間。
3.根據權利要求1所述的基于空間分布擬合的γ光子多次散射校正方法，其特征在于：將空間三維坐標系XYZ投影變換到LoR數據重組后的二維坐標系Lθ，γ光子多次散射分布高斯核函數的計算步驟如下：
步驟2-1：計算高斯擬合系數δ，其計算公式如下：
其中δM是空間分布擬合γ光子多次散射的高斯函數系數，δS是空間分布擬合γ光子單次散射的高斯函數系數；
步驟2-2：計算γ光子多次散射分布高斯核函數，其計算公式如下：
其中A是高斯擬合系數。
4.根據權利要求1所述的基于軌跡映射的γ光子單次散射校正方法，其特征在于：探測器對A、B記錄的發生多次散射符合事件的γ光子對數目的計算過程如下：
步驟3-1：將公式(4)代入公式(2)，探測器對A、B記錄的發生多次散射符合事件的γ光子對數目如下：
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