[發(fā)明專利]一種注射針加工流程的多重智能報警方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110957421.3 | 申請日: | 2021-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN113721568B | 公開(公告)日: | 2022-04-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 祁建忠;彭懋;譚偉 | 申請(專利權(quán))人: | 揚州美德萊醫(yī)療用品有限公司 |
| 主分類號: | G05B19/418 | 分類號: | G05B19/418 |
| 代理公司: | 南京源點知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32545 | 代理人: | 王佳妹;黃啟兵 |
| 地址: | 225000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 注射針 加工 流程 多重 智能 報警 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種注射針加工流程的多重智能報警方法,其中,所述方法應(yīng)用于一多重智能報警系統(tǒng),所述方法包括:
獲得第一工序的基礎(chǔ)信息,其中,所述第一工序為加工注射針的工序;
獲得第一工序參數(shù)信息,其中,所述第一工序參數(shù)為控制所述第一工序中注射針位置的參數(shù);
獲得第一工序分析指令,基于所述第一工序分析指令對所述第一工序的基礎(chǔ)信息進(jìn)行工序分析,獲得所述第一工序參數(shù)對應(yīng)的第一工件位置偏移信息;
構(gòu)建所述第一工序的工件位置分析處理模型,將所述第一工件位置偏移信息輸入所述第一工序的工件位置分析處理模型,獲得第一預(yù)警值;
構(gòu)建所述第一工序參數(shù)信息、所述第一工件位置偏移信息和所述第一預(yù)警值的第一映射關(guān)系;
獲得第N工序參數(shù)信息,其中,所述第N工序參數(shù)為控制所述第一工序中注射針位置的參數(shù),且所述第N工序參數(shù)為根據(jù)第N-1預(yù)警值調(diào)整獲得,其中,N為大于1的正整數(shù);
獲得第N工序分析指令,基于所述第N工序分析指令對所述第一工序進(jìn)行工序分析,獲得所述第N工序參數(shù)對應(yīng)的第N工件位置偏移信息;
將所述第N工件位置偏移信息輸入所述第一工序的工件位置分析處理模型,獲得第N預(yù)警值;
構(gòu)建所述第N工序參數(shù)信息、所述第N工件位置偏移信息和所述第N預(yù)警值的第N映射關(guān)系,根據(jù)所述第一映射關(guān)系、第N映射關(guān)系構(gòu)建第一狀態(tài)分布數(shù)據(jù)庫;
獲得第一期望預(yù)警值,將所述第一期望預(yù)警值輸入所述第一狀態(tài)分布數(shù)據(jù)庫,匹配第M預(yù)警值,其中,M可以為1-N之間的任一正整數(shù),所述第一期望預(yù)警值是指將所述第一工序中,將1-N個注射針工件的位置偏移信息輸入所述第一工序的工件位置分析處理模型后,得到的預(yù)警值信息;
基于所述第M預(yù)警值獲得第M工序參數(shù)信息,當(dāng)檢測到所述第一工序中的實際工序參數(shù)滿足所述第M工序參數(shù)信息時,獲得預(yù)警信息進(jìn)行預(yù)警。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,所述方法還包括:
獲得所述第一工序的第一實際參數(shù);
獲得第一判斷指令,根據(jù)所述第一判斷指令判斷所述第一實際參數(shù)是否處于第一工序參數(shù)信息至所述第M工序參數(shù)信息之間;
當(dāng)所述第一實際參數(shù)處于所述第一工序參數(shù)信息至所述第M工序參數(shù)信息之間時,基于所述第一實際參數(shù)匹配第P工序參數(shù)信息,并將所述第P工序參數(shù)信息輸入所述第一狀態(tài)分布數(shù)據(jù)庫,獲得第P預(yù)警值,基于所述第P預(yù)警值匹配第P預(yù)警信息進(jìn)行預(yù)警。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述方法還包括:
構(gòu)建第一參數(shù)調(diào)整模型,其中,所述第一參數(shù)調(diào)整模型通過監(jiān)督學(xué)習(xí)獲得,所述監(jiān)督學(xué)習(xí)的參數(shù)包括:具有映射關(guān)系的所述第一工序參數(shù)和所述第一預(yù)警值、標(biāo)識每一節(jié)點預(yù)警調(diào)整值的標(biāo)識信息;
將所述第一工序參數(shù)信息輸入所述第一參數(shù)調(diào)整模型,獲得第二工序調(diào)整參數(shù),以此類推,獲得所述第N工序調(diào)整參數(shù)。
4.如權(quán)利要求2所述的方法,其中,所述方法還包括:
將所述第P工序參數(shù)信息輸入所述第一狀態(tài)分布數(shù)據(jù)庫,獲得第P工件位置偏移信息;
獲得第一評估指令;
根據(jù)所述第一評估指令對所述第P工件位置偏移信息進(jìn)行評估,獲得第一偏移影響度評估結(jié)果,其中,所述第一偏移影響度評估結(jié)果為所述第P工件位置偏移信息對于當(dāng)前工件在所述第一工序的影響程度;
根據(jù)所述第一偏移影響度評估結(jié)果獲得第一調(diào)整參數(shù),基于所述第一調(diào)整參數(shù)對當(dāng)前工件的實際參數(shù)進(jìn)行調(diào)整。
5.如權(quán)利要求4所述的方法,其中,所述方法還包括:
當(dāng)所述第一調(diào)整參數(shù)未應(yīng)用于當(dāng)前工件的實際參數(shù)調(diào)整時,獲得第二工序的基礎(chǔ)信息,其中,所述第二工序為所述第一工序的下一工序;
獲得第二評估指令,根據(jù)所述第二評估指令基于所述第二工序的基礎(chǔ)信息和所述第P工件位置偏移信息進(jìn)行評估,獲得第二偏移影響度評估結(jié)果;
基于所述第二偏移影響度評估結(jié)果對所述第二工序進(jìn)行預(yù)警。
6.如權(quán)利要求5所述的方法,其中,所述方法還包括:
當(dāng)所述第一調(diào)整參數(shù)用于當(dāng)前工件的實際參數(shù)調(diào)整時,基于所述第一調(diào)整參數(shù)和所述第P工序參數(shù)信息獲得第三偏移影響度評估結(jié)果;
基于所述第三偏移影響度評估結(jié)果對所述第二工序進(jìn)行預(yù)警。
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