[發明專利]光檢測芯片、圖像處理裝置及其運作方法在審
| 申請號: | 202110947523.7 | 申請日: | 2019-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN113766143A | 公開(公告)日: | 2021-12-07 |
| 發明(設計)人: | 王國振 | 申請(專利權)人: | 原相科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H04N5/235 | 分類號: | H04N5/235;H04N5/232;H04N5/355;H04N5/357;G06N3/08;G06T5/00;H04N5/374 |
| 代理公司: | 北京潤平知識產權代理有限公司 11283 | 代理人: | 肖冰濱;王曉曉 |
| 地址: | 中國臺灣新竹科學*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 芯片 圖像 處理 裝置 及其 運作 方法 | ||
一種光檢測芯片、圖像處理裝置及其運作方法。該光檢測芯片包含:光檢測組件,該光檢測組件用于以第一曝光時間檢測光并輸出第一圖像;以及處理器,該處理器電性連接所述光檢測組件以接收所述第一圖像,并用于根據所述第一圖像相關的圖像參數判斷運作模式,其中當判斷所述運作模式為強光模式時,所述處理器輸出所述第一圖像,及當判斷所述運作模式為弱光模式時,控制所述光檢測組件以第二曝光時間檢測光并輸出第二圖像,其中所述第二曝光時間比所述第一曝光時間長,及使用預存的學習模型將所述第二圖像轉換為轉換后圖像,再輸出所述轉換后圖像。
本申請是申請號為201911011986.1、申請日為2019年10月23日、名稱為“光檢測芯片、圖像處理裝置及其運作方法”的中國發明專利申請的分案申請。
技術領域
本發明有關一種圖像處理技術,更特別有關一種適用于低照度環境的圖像處理裝置及其運作方法。
背景技術
已知的圖像獲取裝置具有可調的曝光時間。強環境光下,所述圖像獲取裝置以短曝光獲取圖像。弱環境光下,所述圖像獲取裝置以長曝光獲取圖像,藉以增加所獲取圖像中的圖像特征以利正確進行物體判斷。
然而,當這種圖像獲取裝置應用于在弱環境光下獲取移動物體的物體圖像時,則會產生問題。由于曝光時間大幅延長了,在延長的曝光時間內移動物體與圖像獲取裝置之間的相對移動會反映在所獲取的圖像中而產生模糊的物體影像,甚至在快速相對移動的情境下,有可能在某些圖像中根本無法獲取物體圖像。
有鑒于此,一種即使在低照度環境下仍能夠獲取有效圖像,以提高判斷精確度的圖像處理裝置實為所需。
發明內容
本發明提供一種從強光到弱光環境不調整光檢測組件的曝光時間的光檢測芯片、圖像處理裝置及其運作方法。
本發明還提供一種使用機器學習模型將短曝光圖像轉換為擬長曝光(quasi-longexposure)圖像以增加圖像中圖像特征的光檢測芯片、圖像處理裝置及其運作方法,可有效提升操作精度。
本發明提供一種包含光檢測組件以及處理器的光檢測芯片。所述光檢測組件用于以第一曝光時間檢測光并輸出第一圖像。所述處理器電性連接所述光檢測組件以接收所述第一圖像,并用于根據所述第一圖像相關的圖像參數判斷運作模式。當判斷所述運作模式為強光模式時,所述處理器輸出所述第一圖像。當判斷所述運作模式為弱光模式時,控制所述光檢測組件以第二曝光時間檢測光并輸出第二圖像,其中所述第二曝光時間比所述第一曝光時間長,及使用預存的學習模型將所述第二圖像轉換為轉換后圖像,再輸出所述轉換后圖像。
本發明還提供一種包含光檢測芯片以及電子裝置的圖像處理裝置。所述光檢測芯片用于以第一曝光時間檢測光并輸出第一圖像。所述電子裝置耦接所述光檢測芯片,并包含處理器用于根據所述第一圖像相關的圖像參數判斷運作模式。當判斷所述運作模式為強光模式時,所述處理器使用所述第一圖像進行物體判斷。當判斷所述運作模式為弱光模式時,控制所述光檢測芯片以第二曝光時間檢測光并輸出第二圖像,其中所述第二曝光時間比所述第一曝光時間長,及使用預存的學習模型將所述第二圖像轉換為轉換后圖像,再使用所述轉換后圖像進行物體判斷。
本發明還提供一種圖像處理裝置的運作方法,該圖像處理裝置包含相互耦接的光檢測組件及處理器。所述運作方法包含下列步驟:以所述光檢測組件使用第一曝光時間檢測光以輸出第一圖像;以所述處理器比較所述第一圖像相關的圖像參數與參數閾值;當所述圖像參數超過所述參數閾值時,直接使用所述第一圖像進行物體判斷;以及當所述圖像參數未超過所述參數閾值時,控制所述光檢測組件以第二曝光時間檢測光并輸出第二圖像,其中所述第二曝光時間比所述第一曝光時間長,及使用預存的學習模型將所述第二圖像轉換為轉換后圖像后,再使用所述轉換后圖像進行物體判斷。
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