[發明專利]Mura補償信息生成方法、裝置、設備、介質及Mura補償方法在審
| 申請號: | 202110944665.8 | 申請日: | 2021-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN113674719A | 公開(公告)日: | 2021-11-19 |
| 發明(設計)人: | 曹弘圭;錢建宇;萬金靈;廖歡 | 申請(專利權)人: | 晟合微電子(肇慶)有限公司 |
| 主分類號: | G09G5/10 | 分類號: | G09G5/10 |
| 代理公司: | 深圳市嘉勤知識產權代理有限公司 44651 | 代理人: | 辛鴻飛 |
| 地址: | 526000 廣東省肇慶市鼎湖區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | mura 補償 信息 生成 方法 裝置 設備 介質 | ||
本申請公開了一種Mura補償信息生成方法、裝置、設備、介質及Mura補償方法,其先獲取標準圖像在預設灰度時的包括多個亮度信息的亮度信息集,然后隨機選取N個亮度信息作為集合中心,并將除所述集合中心外的亮度信息劃分至N個集合中,然后計算每一所述集合內亮度信息的離散度,判斷所述離散度是否小于或等于預設的離散閾值,并根據判斷結果更新集合中心;在所述判斷結果為離散度小于或等于所述離散閾值,則確定所述第n集合中心為所述預設灰度對應的亮度信息;根據每一集合的所述集合中心生成Mura補償信息表。本申請可降低Mura補償信息表的數據量。
技術領域
本申請涉及顯示設備領域,尤其涉及一種Mura補償信息生成方法、裝置、設備、介質及Mura補償方法。
背景技術
Mura是指OLED或LCD顯示設備在制造過程中,由于制程技術并未完全統一地應用到每個設備像素中,使顯示裝置產生亮度差異,因而引起的各種瑕疵,Mura用來表現OLED、LCD等顯示設備的質量。從根本上說,提高顯示設備的只做工藝技術是消除Mura(行業內通常稱為DeMura)最有效的方法,但從成本和技術上,幾乎不可能完全去除OLED,LCD顯示設備的Mura。因此,各大顯示設備產商大多是采用Mura補償算法來減少Mura。
目前,各大顯示設備產商通常的做法為對顯示設備進行圖像顯示時,對顯示設備的顯示面板進行拍照,以圖像所有的像素的亮度,并進行去背景、降噪等圖像處理步驟,以獲得顯示面板上的像素的亮度值檢測顯示面板上的Mura,然后采用一些算法對Mura進行修正、補償等操作,得到所有像素的亮度補償值,最后根據所有像素的亮度補償值生成Mura補償信息表,并存儲于待補償的顯示設備的存儲單元中,以備顯示設備調用進行Mura補償。
由此可見,采用此種方式產生的Mura補償信息表,其數據量非常大,會占用顯示設備的存儲單元較多的存儲空間。
發明內容
本申請實施例提供一種Mura補償信息生成方法及Mura補償方法、系統、設備及介質,以降低Mura補償信息表的數據量。
本申請實施例提出了一種Mura補償信息生成方法,包括:
S11:獲取標準圖像在預設灰度時的亮度信息集,所述亮度信息集包括每一預設尺寸的像素模塊亮度信息,所述亮度信息通過獲取每一預設尺寸的像素模塊的平均亮度信息得到,所述像素模塊通過將標準圖像上的像素劃分為多個非重疊的模塊得到,所述標準圖像為經過DeMura處理后得到的圖像;
S12:隨機選取N個所述亮度信息作為集合中心;
S13:將除所述集合中心外的亮度信息劃分至N個集合中;
S14:計算每一所述集合內亮度信息的離散度,判斷所述離散度是否小于或等于預設的離散閾值,并根據判斷結果更新集合中心;
S15:若所述判斷結果為離散度大于離散閾值,則計算所述集合中每一亮度信息與所述集合中心的距離,并確定與所述集合中心的距離最小的亮度信息作為第n集合中心,并重復執行步驟S13~S14,其中,且n表示第n次重復執行步驟S13~S14;
S15’:若所述判斷結果為離散度小于或等于所述離散閾值,則確定所述第n集合中心為所述預設灰度對應的亮度信息;
S16:根據每一集合的所述集合中心生成Mura補償信息表,所述Mura補償信息表包括多個Mura補償信息,所述Mura補償信息為所述集合中心。
可選地,根據以下條件,將除所述集合中心外的亮度信息劃分至N個集合中:
其中,所述X表示亮度信息集中的任意一個亮度信息,Y表示集合中心,T表示亮度信息集,r表示第r個亮度信息,d表示亮度信息與集合中心的距離,j表示第j個集合中心,i表示第i個集合中心。
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