[發明專利]基于風格特征通道注意力的X光安檢圖像違禁品檢測方法在審
| 申請號: | 202110941143.2 | 申請日: | 2021-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN113657493A | 公開(公告)日: | 2021-11-16 |
| 發明(設計)人: | 杜慧茜;王曼;傅雄軍;袁大森;謝民 | 申請(專利權)人: | 北京理工大學 |
| 主分類號: | G06K9/62 | 分類號: | G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京正陽理工知識產權代理事務所(普通合伙) 11639 | 代理人: | 張利萍 |
| 地址: | 100081 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 風格 特征 通道 注意力 安檢 圖像 違禁品 檢測 方法 | ||
本發明涉及基于風格特征通道注意力的X光安檢圖像違禁品檢測方法,屬于目標檢測技術領域。包括:1對數據集進行預處理獲取訓練集和測試集;2對訓練集進行數據增強和打亂處理;3構建SCIA模塊,并構建特征金字塔網絡SCIA?FPN;4將訓練集的X光安檢圖像輸入SCIA?FPN獲取特征圖;5將特征圖輸入RPN網絡獲取預測框;6將預測框和特征圖輸入ROI池化層,輸出池化后的特征圖;7將池化后的特征圖輸入分類回歸網絡;8重復2至7進行多次訓練獲取違禁品檢測模型;9將測試集輸入違禁品檢測模型輸出違禁品檢測結果。所述方法能有效檢測出X光安檢圖像中被遮擋的多尺度違禁品,給出違禁品類別分數并精確標出違禁品位置。
技術領域
本發明涉及基于風格特征通道注意力的X光安檢圖像違禁品檢測方法,屬于深度學習、目標檢測以及X光安檢圖像處理技術領域。
背景技術
違禁品檢測是目標檢測的一個重要分支,旨在自動檢測X光安檢圖像中是否存在一個或多個違禁的物品,并且給出每個違禁品的邊界框及相應的違禁品類別。X光安檢圖像違禁品檢測在維護公共場所秩序,交通樞紐安全保障,快遞寄送等領域有著廣泛的應用前景。當前,安檢仍需安檢人員通過肉眼識別X光安檢圖像中的違禁品,人工安檢容易受視覺疲勞影響而出現漏判和錯判現象。因此,X光安檢圖像違禁品檢測近年來受到了研究人員的廣泛關注。
現有X光安檢圖像違禁品檢測方法分為兩類。一類是基于機器學習的傳統方法,一類是基于深度學習的方法。
基于機器學習的傳統方法首先提取特征,然后進行分類識別。常用的特征描述方法包括加速穩健特征、快速加速穩健特征及尺度不變特征變換等,分類識別方法包括支持向量機、隨機森林、最鄰近算法等。傳統方法存在的問題是:提取特征依賴于人工選定,并且僅局限于小樣本數據集或某一類違禁品,性能較差,不能滿足實際應用。
近年來,深度學習不斷發展,由于深度卷積神經網絡可以自動提取特征,基于深度卷積神經網絡的目標檢測算法層出不窮,這一方法也被應用到X光安檢圖像違禁品檢測領域。如:Hassan等人利用結構張量提取違禁品的輪廓,但這種方法需要參數微調;Miao等人制作了一個安全檢查X光圖像數據集(security Inspection X-ray,SIXray),并提出了一個類別平衡多層次框架檢測該數據集中的違禁品;Wei等人制作了一個遮擋違禁品X光圖像數據集(Occluded Prohibited Items X-ray,OPIXray),提出一個結合邊緣檢測和注意力模型的抗遮擋注意力模塊,檢測數據集中不同遮擋水平的違禁品,但檢測精度有待提高。盡管深度學習極大地促進了X光安檢圖像中違禁品檢測的發展,但目前的違禁品檢測仍存在兩大難題:(1)多尺度問題:X光安檢圖像中違禁品尺寸各異,很難在檢測過程中兼顧各種尺寸的違禁品,尤其小尺寸違禁品易漏檢;(2)遮擋問題:X光安檢圖像中物品繁多,背景復雜,違禁品大多被嚴重遮擋,只有局部特征已知,不易檢測。
基于現有方法的不足,本文提出了基于風格特征通道注意力的X光安檢圖像違禁品檢測方法,利用X光安檢圖像中不同材質顯示不同顏色這一風格特征,結合特征金字塔網絡,解決違禁品的遮擋與多尺度問題。
發明內容
本發明的目的在于利用X光安檢圖像的風格特征,結合特征金字塔網絡,解決違禁品的遮擋與多尺度問題,提出了基于風格特征通道注意力的X光安檢圖像違禁品檢測方法。
為了達到上述目的,本發明采取如下技術方案。
所述X光安檢圖像違禁品檢測方法,包括如下步驟:
步驟1:對X光安檢圖像數據集進行預處理,設置成與VOC2007數據集格式相同的X光安檢圖像數據集;
步驟1具體為:從公開網站中下載X光安檢圖像數據集,將數據集中的所有X光安檢圖像放入一個文件夾,將所有的標記文件放入另一個文件夾,并將數據集以K:(10-K)的比例劃分為訓練集和測試集;
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