[發(fā)明專利]顯示面板及其光感檢測(cè)方法、顯示裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110924710.3 | 申請(qǐng)日: | 2021-08-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113702792B | 公開(公告)日: | 2023-04-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 盧峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海天馬微電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26;G01M11/02;G09F9/30 |
| 代理公司: | 北京晟睿智杰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11603 | 代理人: | 于淼 |
| 地址: | 201201 上海*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 顯示 面板 及其 檢測(cè) 方法 顯示裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種顯示面板及其光感檢測(cè)方法、顯示裝置,涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,包括:多個(gè)光感檢測(cè)單元,光感檢測(cè)單元包括光感檢測(cè)電路;與同一光感檢測(cè)單元對(duì)應(yīng)的光感檢測(cè)電路包括并聯(lián)的N個(gè)光感檢測(cè)支路,光感檢測(cè)支路包括存儲(chǔ)電容,其中,N≥2;N個(gè)光感檢測(cè)支路包括第一光感檢測(cè)支路和第二光感檢測(cè)支路,存儲(chǔ)電容包括位于第一光感檢測(cè)支路的第一存儲(chǔ)電容和位于第二光感檢測(cè)支路的第二存儲(chǔ)電容,第一存儲(chǔ)電容的容值大于第二存儲(chǔ)電容的容值。如此,在同一光感檢測(cè)電路中設(shè)置至少兩個(gè)并聯(lián)的光感檢測(cè)支路,不同光感檢測(cè)支路對(duì)應(yīng)不同的存儲(chǔ)電容,兼顧高靈敏度及多光強(qiáng)檢測(cè)范圍的需求,應(yīng)用范圍更廣。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,更具體地,涉及一種顯示面板及其光感檢測(cè)方法、顯示裝置。
背景技術(shù)
從CRT(Cathode?Ray?Tube,陰極射線管)時(shí)代到液晶時(shí)代,再到現(xiàn)在到來的OLED(Organic?Light-Emitting?Diode,有機(jī)發(fā)光二極管)時(shí)代,顯示行業(yè)經(jīng)歷了幾十年的發(fā)展變得日新月異。顯示產(chǎn)業(yè)已經(jīng)與我們的生活息息相關(guān),從傳統(tǒng)的手機(jī)、平板、電視和PC,再到現(xiàn)在的智能穿戴設(shè)備和VR等電子設(shè)備都離不開顯示技術(shù)。
為了滿足人們的使用需求,電子設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)的功能越來越多。電子設(shè)備一般設(shè)置有光感檢測(cè)單元,例如可進(jìn)行光學(xué)指紋識(shí)別或者環(huán)境光檢測(cè)。目前的產(chǎn)品中,光感檢測(cè)單元的靈敏度是固定的,只能應(yīng)用于固定光強(qiáng)環(huán)境的場(chǎng)景,應(yīng)用范圍較為局限。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明提供了一種顯示面板及其光感檢測(cè)方法、顯示裝置,設(shè)置至少兩個(gè)光感檢測(cè)支路,以滿足不同光強(qiáng)環(huán)境下的檢測(cè)需求,兼顧高靈敏度及多檢測(cè)范圍的需求,應(yīng)用范圍更廣。
第一方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N顯示面板,包括:多個(gè)光感檢測(cè)單元,所述光感檢測(cè)單元包括光感檢測(cè)電路;
與同一所述光感檢測(cè)單元對(duì)應(yīng)的所述光感檢測(cè)電路包括并聯(lián)的N個(gè)光感檢測(cè)支路,所述光感檢測(cè)支路包括存儲(chǔ)電容,其中,N≥2;N個(gè)光感檢測(cè)支路包括第一光感檢測(cè)支路和第二光感檢測(cè)支路,所述存儲(chǔ)電容包括位于所述第一光感檢測(cè)支路的第一存儲(chǔ)電容和位于所述第二光感檢測(cè)支路的第二存儲(chǔ)電容,所述第一存儲(chǔ)電容的容值大于所述第二存儲(chǔ)電容的容值。
第二方面,本發(fā)明提供了一種顯示面板的光感檢測(cè)方法,所述顯示面板包括:多個(gè)光感檢測(cè)單元,所述光感檢測(cè)單元包括光感檢測(cè)電路;與同一所述光感檢測(cè)單元對(duì)應(yīng)的所述光感檢測(cè)電路包括并聯(lián)的N個(gè)光感檢測(cè)支路,所述光感檢測(cè)支路包括存儲(chǔ)電容,其中,N≥2;N個(gè)光感檢測(cè)支路包括第一光感檢測(cè)支路和第二光感檢測(cè)支路,所述存儲(chǔ)電容包括位于所述第一光感檢測(cè)支路的第一存儲(chǔ)電容和位于所述第二光感檢測(cè)支路的第二存儲(chǔ)電容,所述第一存儲(chǔ)電容的容值大于所述第二存儲(chǔ)電容的容值;
所述光感檢測(cè)方法包括:
在光感檢測(cè)階段,選擇導(dǎo)通所述第一光感檢測(cè)支路和所述第二光感檢測(cè)支路中的至少一者,利用所述第一光感檢測(cè)支路和所述第二光感檢測(cè)支路中的至少一者進(jìn)行光感檢測(cè)。
第三方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N顯示裝置,包括顯示面板,所述顯示面板為本發(fā)明所提供的顯示面板。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明提供的一種顯示面板及其光感檢測(cè)方法、顯示裝置,至少實(shí)現(xiàn)了如下的有益效果:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海天馬微電子有限公司,未經(jīng)上海天馬微電子有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110924710.3/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





