[發(fā)明專利]硬盤錯(cuò)誤的檢測方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)和電子裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110920400.4 | 申請(qǐng)日: | 2021-08-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113590405A | 公開(公告)日: | 2021-11-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王林鋒;魏齊良;林森 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浙江大華技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/22 | 分類號(hào): | G06F11/22;G06F11/34 |
| 代理公司: | 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 江舟 |
| 地址: | 310051 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 硬盤 錯(cuò)誤 檢測 方法 裝置 存儲(chǔ) 介質(zhì) 電子 | ||
1.一種硬盤錯(cuò)誤的檢測方法,其特征在于,包括:
提取一個(gè)或者多個(gè)硬盤錯(cuò)誤日志;
確定與所述硬盤錯(cuò)誤日志中每個(gè)目標(biāo)硬盤錯(cuò)誤日志所匹配的目標(biāo)錯(cuò)誤類型,得到具有對(duì)應(yīng)關(guān)系的目標(biāo)硬盤錯(cuò)誤日志和目標(biāo)錯(cuò)誤類型;
根據(jù)具有對(duì)應(yīng)關(guān)系的目標(biāo)硬盤錯(cuò)誤日志和目標(biāo)錯(cuò)誤類型,生成目標(biāo)硬盤狀態(tài)信息,其中,所述目標(biāo)硬盤狀態(tài)信息用于指示生成所述硬盤錯(cuò)誤日志的硬盤所處于的硬盤運(yùn)行狀態(tài);
展示所述目標(biāo)硬盤狀態(tài)信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,提取一個(gè)或者多個(gè)硬盤錯(cuò)誤日志包括:
在訪問硬盤的過程中檢測到執(zhí)行的訪問指令發(fā)生錯(cuò)誤的情況下,獲取所述訪問指令對(duì)應(yīng)的錯(cuò)誤信息,其中,所述錯(cuò)誤信息包括:硬盤定位數(shù)據(jù),當(dāng)前時(shí)間和錯(cuò)誤數(shù)據(jù),所述硬盤定位數(shù)據(jù)包括以下至少之一:硬盤槽位號(hào)、序列號(hào)、錯(cuò)誤命令訪問的邏輯扇區(qū)號(hào),所述錯(cuò)誤數(shù)據(jù)包括以下至少之一:錯(cuò)誤掩碼、當(dāng)前硬盤溫度、硬盤已上電時(shí)間;
在日志集合中記錄所述錯(cuò)誤信息所對(duì)應(yīng)的硬盤錯(cuò)誤日志;
每隔目標(biāo)時(shí)間從所述日志集合中提取當(dāng)前所述目標(biāo)時(shí)間內(nèi)所記錄的硬盤錯(cuò)誤日志作為所述硬盤錯(cuò)誤日志。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述確定與所述硬盤錯(cuò)誤日志中每個(gè)目標(biāo)硬盤錯(cuò)誤日志所匹配的目標(biāo)錯(cuò)誤類型包括:
在所述目標(biāo)硬盤錯(cuò)誤日志中攜帶了錯(cuò)誤掩碼的情況下,將所述錯(cuò)誤掩碼所屬于的錯(cuò)誤類型確定為所述目標(biāo)錯(cuò)誤類型,其中,所述錯(cuò)誤掩碼所屬于的錯(cuò)誤類型包括以下至少之一:總線錯(cuò)誤,設(shè)備錯(cuò)誤,超時(shí)錯(cuò)誤,物理介質(zhì)錯(cuò)誤;
在所述目標(biāo)硬盤錯(cuò)誤日志中所攜帶的當(dāng)前硬盤溫度未落入溫度閾值范圍的情況下,根據(jù)所述當(dāng)前硬盤溫度與所述溫度閾值范圍之間的關(guān)系,將過溫錯(cuò)誤確定為所述目標(biāo)錯(cuò)誤類型,其中,所述過溫錯(cuò)誤包括:高溫錯(cuò)誤或者低溫錯(cuò)誤;
在所述目標(biāo)硬盤錯(cuò)誤日志中所攜帶的硬盤已上電時(shí)間超過時(shí)間閾值的情況下,將老化錯(cuò)誤確定為所述目標(biāo)錯(cuò)誤類型。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,根據(jù)具有對(duì)應(yīng)關(guān)系的目標(biāo)硬盤錯(cuò)誤日志和目標(biāo)錯(cuò)誤類型,生成目標(biāo)硬盤狀態(tài)信息包括:
根據(jù)具有對(duì)應(yīng)關(guān)系的目標(biāo)硬盤錯(cuò)誤日志和目標(biāo)錯(cuò)誤類型,確定硬盤出現(xiàn)錯(cuò)誤的原因類型,其中,所述原因類型包括:硬盤原因和非硬盤原因;
根據(jù)所述原因類型和所述目標(biāo)錯(cuò)誤類型生成目標(biāo)告警信息和目標(biāo)建議信息,得到所述目標(biāo)硬盤狀態(tài)信息,其中,所述目標(biāo)告警信息用于對(duì)硬盤錯(cuò)誤進(jìn)行告警,所述目標(biāo)建議信息用于對(duì)消除硬盤錯(cuò)誤進(jìn)行指導(dǎo)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,根據(jù)具有對(duì)應(yīng)關(guān)系的目標(biāo)硬盤錯(cuò)誤日志和目標(biāo)錯(cuò)誤類型,確定硬盤出現(xiàn)錯(cuò)誤的原因類型包括:
在所述目標(biāo)錯(cuò)誤類型中包括預(yù)設(shè)錯(cuò)誤類型的情況下,確定預(yù)設(shè)錯(cuò)誤類型對(duì)應(yīng)的硬盤錯(cuò)誤日志的所述原因類型為所述硬盤原因,其中,所述預(yù)設(shè)錯(cuò)誤類型包括以下至少之一:設(shè)備錯(cuò)誤,超時(shí)錯(cuò)誤,老化錯(cuò)誤;
在所述目標(biāo)錯(cuò)誤類型中包括物理介質(zhì)錯(cuò)誤,并且,物理介質(zhì)錯(cuò)誤對(duì)應(yīng)的硬盤錯(cuò)誤日志的日志數(shù)量落入數(shù)量閾值的情況下,確定物理介質(zhì)錯(cuò)誤對(duì)應(yīng)的硬盤錯(cuò)誤日志的所述原因類型為所述硬盤原因;
在所述目標(biāo)錯(cuò)誤類型中包括總線錯(cuò)誤,或者,過溫錯(cuò)誤的情況下,確定總線錯(cuò)誤對(duì)應(yīng)的硬盤錯(cuò)誤日志,或者,過溫錯(cuò)誤對(duì)應(yīng)的硬盤錯(cuò)誤日志的所述原因類型為所述非硬盤原因。
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測;錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測試作故障硬件的檢測或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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