[發明專利]一種射頻開關的諧波測試方法及裝置

在審

• 申請號: 202110910056.0
• 申請日: 2021-08-09
• 公開（公告）號: CN113567742A
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發明（設計）人: 胡信偉;戴海平;侯林;李翔
• 申請（專利權）人: 南京派格測控科技有限公司
• 主分類號: G01R23/16
• 分類號: G01R23/16
• 代理公司: 北京之于行知識產權代理有限公司 11767
• 代理人: 韓岳

本發明涉及一種射頻開關的諧波測試方法及裝置，所述方法至少包括：基于接入被測件前與接入被測件后的諧波信號數據變化的矢量差來確定受所述被測件接入的影響產生的諧波信號。與現有技術直接通過高質量信號源來測試被測件產生的諧波信號相比，本發明能夠適用于不同質量的信號源，并且通過諧波信號的變化的數據處理來得到準確的諧波信號，數據處理步驟少，誤差小。本發明降低了產生高質量信號源的設備的成本，并且取消了濾波裝置，使得諧波測試裝置更加簡化，操作簡單，體積更小。

技術領域

本發明涉及射頻集成電路技術領域，尤其涉及一種射頻開關的諧波測試方法及裝置。

背景技術

在進行射頻芯片測試的時候有時候會需要測試僅由被測件接入影響產生的諧波信號。一般而言，信號發生器發出信號之后，由于本身的非線性的影響會產生若干個不同頻率的諧波，接入被測件之后由于被測件的影響又會產生若干個不同頻率的諧波，那么就很有必要分清楚哪些是我們所需要的諧波。最理想的現有方案是使用高質量的信號源，這種信號源發出之后是沒有諧波干擾的，接入被測件之后產生的諧波就是我們所需要的諧波了。然而發生高質量的信號源是需要極高的成本的，放在平時的測量當中也不太現實。還有一種現有方案是載入帶通濾波器，但是濾波器的體積是與其通過的功率成正比的，所以在實際測量過程中可能會需要多個大體積的濾波器，成本較高，而且結構復雜。

例如，中國專利CN110632544A公開了一種諧波測試系統，包括檢定儀、第一三相變壓器、第一錄波儀、CVT設備、第二錄波儀、分壓電路、第三錄波儀和第一微處理芯片，檢定儀的輸出級與第一錄波儀的輸入級和第一三相變壓器的二次側電連接；第一錄波儀的輸出級與微處理芯片的第一輸入級電連接；第一三相變壓器的三次側與CVT設備的輸入級電連接；CVT設備的輸出級與第二錄波儀的輸入級電連接；第二錄波儀的輸出級與微處理芯片的第二輸入級電連接；第一三相變壓器的三次側與分壓電路的輸入級電連接；分壓電路的輸出級與第三錄波儀的輸入級電連接；第三錄波儀的輸出級與微處理芯片的第三輸入級電連接。該發明通過對三種信號進行比對，從而得到CVT設備內部的諧波產出情況。該系統依然需要高質量的信號源。

中國專利CN102565672B一種基于PXI測試設備的射頻功率放大器諧波測試電路，包括PXI測試設備和被測射頻功率放大器，PXI測試設備和被測射頻功率放大器之間連接有諧波信號獲取電路，諧波信號獲取電路和PXI測試設備之間還連接有基波和載波抑制電路，諧波信號獲取電路采用耦合器實現，耦合器從被測射頻功率放大器輸出信號上耦合獲取完整的信號，諧波信號獲取電路獲取的信號經基波和載波抑制電路進入PXI測試設備。采用該電路的測試板卡，可降低諧波測試部分的電路復雜性，進而降低了測試板卡的成本，同時經過該電路處理過的諧波信號對PXI測試設備的要求更低，進一步的降低了測試成本。該系統依然需要高質量的信號源來完成測試。

因此，現有技術中測試諧波信號的成本太高，如何提供一種成本較低且測試質量較好的諧波信號測試方法及裝置是當前沒有解決的技術問題。

此外，一方面由于本領域技術人員的理解存在差異；另一方面由于發明人做出本發明時研究了大量文獻和專利，但篇幅所限并未詳細羅列所有的細節與內容，然而這絕非本發明不具備這些現有技術的特征，相反本發明已經具備現有技術的所有特征，而且申請人保留在背景技術中增加相關現有技術之權利。

發明內容

現有技術中，一般采用高質量的信號源來進行被測件的諧波測試。由于高質量信號源不存在諧波，那么檢測到的諧波就是被測件產生的。但是高質量信號源成本較高，在日常測量中不能夠頻繁進行。現有技術還通過載入帶通濾波器來進行諧波測試，但是濾波器的體積是與其通過的功率成正比的，所以在實際測量過程中可能會需要多個大體積的濾波器，成本較高，而且結構復雜。現有技術中，本領域技術人員一般集中于提高儀器的過濾精度來過濾掉有干擾的諧波，總是希望在儀器測量后能夠直接獲得所需要的諧波，而忽略了對測得諧波數據進行數據處理的技術手段。