[發(fā)明專利]基于圖像分割的透明待檢物缺陷識別方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202110909232.9
• 申請日: 2021-08-09
• 公開（公告）號: CN113592841A
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 姜涌;林鑫杰;范偉華;吳垠;吳文鑫;鄒志豪
• 申請（專利權(quán)）人: 高視科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/62;G06T5/00;G01N21/958;G01N21/88
• 代理公司: 惠州市超越知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44349
• 代理人: 陳文福

1.一種基于圖像分割的透明待檢物缺陷識別方法，其特征在于，包括：

獲取第一處理圖像，所述第一處理圖像為透明待檢物的拍攝圖像；

對所述第一處理圖像進(jìn)行對比度增強(qiáng)處理以及樣本方差閾值分割，得到第二處理圖像，所述第二處理圖像為潛在缺陷對應(yīng)的圖像；

根據(jù)所述第一處理圖像的亮斑圖像進(jìn)行區(qū)域分割，得到分割位置信息和區(qū)域分割圖像；

對所述區(qū)域分割圖像進(jìn)行局部自適應(yīng)閾值分割，得到第三處理圖像，所述第三處理圖像為潛在缺陷和潛在倒影對應(yīng)的圖像；

根據(jù)所述第三處理圖像對應(yīng)的分割位置信息，確定所述第二處理圖像在相應(yīng)圖像位置是否存在局部潛在缺陷圖像；若存在局部潛在缺陷圖像，則根據(jù)所述局部潛在缺陷圖像去除所述第三處理圖像中的潛在缺陷的圖像信息，得到僅體現(xiàn)潛在倒影的待識別圖像；

根據(jù)所述第二處理圖像和所述待識別圖像進(jìn)行透明待檢物的缺陷類型識別。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于圖像分割的透明待檢物缺陷識別方法，其特征在于，所述對所述第一處理圖像進(jìn)行對比度增強(qiáng)處理以及樣本方差閾值分割之前，包括：

對所述第一處理圖像進(jìn)行高斯濾波，得到降噪后的第一處理圖像。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于圖像分割的透明待檢物缺陷識別方法，其特征在于，

所述對比度增強(qiáng)處理為gamma對比度增強(qiáng)處理；

所述樣本方差閾值分割為var-threshold閾值分割。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于圖像分割的透明待檢物缺陷識別方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一處理圖像的亮斑圖像進(jìn)行區(qū)域分割，得到分割位置信息和區(qū)域分割圖像，包括：

S1、獲取所述第一處理圖像中的一塊亮斑圖像；

S2、以當(dāng)前亮斑圖像的中心點(diǎn)為中心，在所述第一處理圖像中設(shè)定區(qū)域分割框，得到當(dāng)前亮斑圖像對應(yīng)的區(qū)域分割圖像；

S3、判斷所述第一處理圖像中是否還有亮斑圖像未執(zhí)行區(qū)域分割；若是，則執(zhí)行步驟S1；若否，則執(zhí)行步驟S4;

S4、根據(jù)所述第一處理圖像中所有亮斑圖像的區(qū)域分割圖像，確定每個亮斑圖像對應(yīng)的分割位置信息。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述基于圖像分割的透明待檢物缺陷識別方法，其特征在于，所述區(qū)域分割框的尺寸根據(jù)以下公式確定，包括：

其中，R為區(qū)域分割框內(nèi)最大內(nèi)切圓的半徑，L為潛在表面異物高度，為照射光源與所述透明待檢物所在水平面的光源夾角，為照射光源在所述透明待檢物上的折射角，h為所述透明待檢物的厚度。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述基于圖像分割的透明待檢物缺陷識別方法，其特征在于，根據(jù)以下公式確定，包括：

其中，n為所述透明待檢物的折射率。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于圖像分割的透明待檢物缺陷識別方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第二處理圖像和所述待識別圖像進(jìn)行透明待檢物的缺陷類型識別，包括：

分析所述待識別圖像和所述局部潛在缺陷圖像中亮斑圖像的關(guān)聯(lián)關(guān)系，所述局部潛在缺陷圖像包括第一亮斑圖像和/或第二亮斑圖像，所述待識別圖像包括第三亮斑圖像，其中，所述第三亮斑圖像的灰度值小于所述第一亮斑圖像或所述第二亮斑圖像；

若存在所述第三亮斑圖像為所述局部潛在缺陷圖像的其中一個亮斑圖像的倒影，則確定該其中一個亮斑圖像為第一亮斑圖像，確定所述第一亮斑圖像相對應(yīng)位置的缺陷為表面異物；

確定所述局部潛在缺陷圖像中除所述第一亮斑圖像之外，其余的亮斑圖像為第二亮斑圖像，確定所述第二亮斑圖像相對應(yīng)位置的缺陷為內(nèi)部異物。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述基于圖像分割的透明待檢物缺陷識別方法，其特征在于，所述分析所述待識別圖像和所述局部潛在缺陷圖像中亮斑圖像的關(guān)聯(lián)關(guān)系，包括：

確定所述第三亮斑圖像與所述局部潛在缺陷圖像的亮斑圖像，是否分布在倒影成像分界線的兩側(cè)；所述倒影成像分界線為在光源照射下，表面異物成像和表面異物倒影成像的對稱軸線；

若否，則確定當(dāng)前對比的局部潛在缺陷圖像的亮斑圖像為第二亮斑圖像。