[發(fā)明專利]基于22nm工藝的抗輻照FDSOI場效應(yīng)管及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110907056.5 | 申請日: | 2021-08-09 |
| 公開(公告)號: | CN113644115B | 公開(公告)日: | 2023-03-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉紅俠;范曉洋;王樹龍;陳樹鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 西安電子科技大學(xué) |
| 主分類號: | H01L29/06 | 分類號: | H01L29/06;H01L29/423;H01L29/78;H01L21/336 |
| 代理公司: | 陜西電子工業(yè)專利中心 61205 | 代理人: | 王品華;陳媛 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 22 nm 工藝 輻照 fdsoi 場效應(yīng) 及其 制備 方法 | ||
1.一種基于22nm工藝的抗輻照FDSOI場效應(yīng)管的制作方法,其特征在于,包括如下步驟:
1)選取兩塊尺寸相同的硅片,利用干氧工藝在第一硅片上生長第一厚度的埋氧層(3);
2)對氧化處理后的第一硅片進行氫或者氦離子注入,使得在硅片內(nèi)部形成一氣泡層,將第一硅片含有氣泡層的一側(cè)和第二硅片進行鍵合和熱處理制備出FDSOI襯底;
3)通過濕法刻蝕去除FDSOI襯底上的單晶硅,對去除單晶硅后的FDSOI襯底進行P型摻雜制備P型襯底層(1);
4)在埋氧層(3)上通過淀積的方法生長Si3N4犧牲層(18);
5)通過外延法在所述Si3N4犧牲層(18)上生長單晶硅層(4);
6)在單晶硅層(4)上制備三個淺槽隔離區(qū),即第一淺槽隔離區(qū)(5)、第二淺槽隔離區(qū)(6)、第三淺槽隔離區(qū)(7);
7)對P型襯底層(1)進行N型離子注入形成N阱(2);
8)在單晶硅層(4)上制備Z字型柵氧化層(13)及Z字型虛擬柵:
8a)利用原子沉積ALD工藝在第二淺槽隔離區(qū)(6)、第三淺槽隔離區(qū)(7)中間部分的單晶硅層(4)上沉積高K介質(zhì)材料形成22-28nm的條形柵氧化層,在條形柵的后方至第二淺槽隔離區(qū)(6)的部分和條形柵的前方至第三淺槽隔離區(qū)(7)的部分沉積高K介質(zhì)材料形成22-28nm的兩條水平柵氧化層,該條形柵氧化層與兩條水平柵氧化層組成Z字型柵氧化層(13);
8b)在Z字型柵氧化層(13)上面沉積蓋帽層,在蓋帽層上面淀積多晶硅形成Z字型虛擬柵;
9)在條形虛擬柵兩側(cè)的單晶硅層(4)上制備輕摻雜源漏區(qū)(16);
10)在輕摻雜源漏區(qū)(16)上制備氮化硅左側(cè)墻(14)和氮化硅右側(cè)墻(15);
11)對輕摻雜源漏區(qū)(16)兩側(cè)的單晶硅層(4)外延并進行摻雜,制備源極有源區(qū)(9),源極抬起(11)和漏極有源區(qū)(10),漏極抬起(12);
12)通過濕法刻蝕的方式去除之前沉積的Z字型虛擬柵,在Z字型柵氧化層上沉積金屬鋁形成Z字型金屬柵極(17),通過退火和化學(xué)機械拋光工藝去除多余的鋁金屬,完成器件制作。
2.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的方法,其特征在于:步驟6)中在單晶硅層(4)上制備三個淺槽隔離區(qū),實現(xiàn)如下:
6a)對單晶硅層(4)進行P型離子注入形成P型溝道,并采用干氧氧化工藝在其上生長第一SiO2緩沖層;
6b)在第一SiO2緩沖層上沉積第一Si3N4犧牲層,并在其上涂抹光刻膠;
6c)通過曝光和刻蝕去除掉部分單晶硅層(4)、第一SiO2緩沖層、第一Si3N4保護層和光刻膠,以形成三個場區(qū)隔離槽;
6d)在三個場區(qū)隔離槽內(nèi)分別生長SiO2材料,以制備第一淺槽隔離區(qū)(5)、第二淺槽隔離區(qū)(6)、第三淺槽隔離區(qū)(7)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的方法,其特征在于:步驟7)中對P型襯底層(1)進行N型離子注入形成N阱(2),實現(xiàn)如下:
7a)對P型襯底層(1)進行熱氧化處理,以在P型襯底層(1)的表面形成第二SiO2緩沖層;
7b)在第二SiO2緩沖層上生長第二Si3N4保護層,在該第二Si3N4保護層上旋涂光刻膠,并通過在光刻膠上的注入窗口進行離子注入形成N阱摻雜區(qū)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的方法,其特征在于:步驟9)中在條形虛擬柵兩側(cè)的單晶硅層(4)上制備輕摻雜的源漏區(qū)(16),實現(xiàn)如下:
9a)利用干氧工藝在條形虛擬柵表面形成第三SiO2緩沖層,在第三SiO2緩沖層上旋涂光刻膠;
9b)通過曝光在條形虛擬柵兩側(cè)的單晶硅層(4)上刻蝕出輕摻雜源漏區(qū)的注入窗口;
9c)在輕摻雜源漏區(qū)的注入窗口進行離子注入,以形成位于條形虛擬柵兩側(cè)的輕摻雜源漏區(qū)(16),并去除剩余光刻膠。
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H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
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