[發明專利]一種和差體制低副瓣平板縫隙天線

有效

• 申請號: 202110902909.6
• 申請日: 2021-08-06
• 公開（公告）號: CN113346227B
• 公開（公告）日: 2021-11-16
• 發明（設計）人: 朱自力;嚴文濤;孫振龍;周經偉
• 申請（專利權）人: 南京天朗防務科技有限公司
• 主分類號: H01Q1/36
• 分類號: H01Q1/36;H01Q1/50;H01Q13/10;H01Q21/00;H01Q21/06
• 代理公司: 江蘇圣典律師事務所 32237
• 代理人: 徐曉鷺

1.一種和差體制低副瓣平板縫隙天線，其特征在于：包括天線單元，所述天線單元包括輻射波導（1）和耦合波導（2），所述耦合波導（2）設于所述輻射波導（1）的下方，且與該輻射波導（1）的中心軸線正交，所述輻射波導（1）嵌入耦合波導（2）內構成橫截面呈“T”形的層疊結構；在所述輻射波導（1）的寬壁上開有若干個橫向排列的偏置縫，且該偏置縫在所述輻射波導（1）的中軸線兩側交錯分布；在耦合波導（2）上開有若干對用于能量耦合的傾斜縫，該傾斜縫對按照“八”字形分布；將所述天線單元排列成天線陣列，按照偏置縫的數量分成六縫子陣（5）和四縫子陣（6），數量均為四個，按照六縫子陣（5）、六縫子陣（5）、四縫子陣（6）、四縫子陣（6）的順序單邊排列，鏡像對稱形成另一半，所述六縫子陣（5）和四縫子陣（6）中，首個及末個偏置縫的縫中心與相鄰的輻射波導寬邊的間距為1/4波導波長，首個及末個傾斜縫的縫中心與相鄰的耦合波導寬邊的間距為1/2個波導波長，且該傾斜縫的縫中心點偏離輻射波導（1）中心線與耦合波導（2）中心線的交點；所述輻射波導（1）和耦合波導（2）為同個頻段、同一尺寸的標準波導。

2.根據權利要求1所述的和差體制低副瓣平板縫隙天線，其特征在于：該耦合波導（2）腔體一端閉合，另一端開口，開口一端為激勵口。

3.根據權利要求2所述的和差體制低副瓣平板縫隙天線，其特征在于：相鄰兩個所述偏置縫的中心間距為1/2波導波長；相鄰兩個所述傾斜縫的中心間距也為1/2波導波長。

4.根據權利要求3所述的和差體制低副瓣平板縫隙天線，其特征在于：所述傾斜縫的中心軸線與耦合波導（2）腔體的中心軸線的夾角為該傾斜縫的傾斜值，該傾斜值為10°~45°。

5.根據權利要求4所述的和差體制低副瓣平板縫隙天線，其特征在于：所述傾斜縫和偏置縫的長度均為1/4~1/2個波導波長，該波導波長包括縫隙圓角（3）長度，所述縫隙圓角（3）為直徑等于縫隙寬度的半圓。

6.根據權利要求5所述的和差體制低副瓣平板縫隙天線，其特征在于：所述六縫子陣的偏置縫的偏置距離為7°~14°，所述四縫子陣的偏置縫的偏置距離為11°~14°。

7.根據權利要求6所述的和差體制低副瓣平板縫隙天線，其特征在于：所述六縫子陣的傾斜縫的傾斜值為10°~33°，所述四縫子陣的傾斜縫的傾斜值為12°~32°。