[發明專利]硬盤在位檢測裝置及方法

在審

• 申請號: 202110902398.8
• 申請日: 2021-08-06
• 公開（公告）號: CN115705270A
• 公開（公告）日: 2023-02-17
• 發明（設計）人: 武紅雙
• 申請（專利權）人: 富聯精密電子（天津）有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 常云敏

1.一種硬盤在位檢測裝置，其特征在于，包括：

連接器，電連接于所述硬盤，當第一類型的所述硬盤連接到所述連接器時，所述連接器輸出低電平的第一信號、第二信號和第三信號，當第二類型的所述硬盤連接到所述連接器時，所述連接器輸出低電平的第一信號、高電平的第二信號和低電平的第三信號，當沒有所述硬盤連接到所述連接器時，所述連接器輸出高電平的第一信號、第二信號和第三信號，所述第一信號、第二信號、第三信號用于表示所述硬盤的在位狀態和類型；

控制電路，包括延時電路和鎖存電路，所述延時電路用于將所述第三信號的下降沿延時并輸出為延時信號，所述鎖存電路用于對所述第一信號和所述第二信號進行鎖存邏輯運算并輸出運算結果為鎖存信號，所述控制電路用于根據所述第一信號、所述第二信號、所述延時信號和所述鎖存信號的電平狀態確定所述硬盤的在位狀態和類型，所述延時信號和所述鎖存信號用于修正由于所述第一信號和所述第二信號變化不同步而使所述控制電路確定所述硬盤的在位狀態和類型發生錯誤。

2.如權利要求1所述的硬盤在位檢測裝置，其特征在于，所述鎖存邏輯運算包括：

若所述第一信號和所述第二信號均為相同電平狀態，所述鎖存信號的電平狀態與所述第一信號的電平狀態相同；

若所述第一信號和所述第二信號的電平狀態不同，所述鎖存信號的電平狀態不變。

3.如權利要求1所述的硬盤在位檢測裝置，其特征在于：

所述控制電路根據所述第一信號、所述第二信號的低電平信號確定所述第一類型的所述硬盤在位，并根據所述第一信號的低電平信號、所述第二信號的高電平信號、所述延時信號的低電平信號和所述鎖存信號的高電平信號確定所述第二類型的所述硬盤在位。

4.如權利要求3所述的硬盤在位檢測裝置，其特征在于：

若所述控制電路確定所述第一類型的所述硬盤在位，則所述控制電路輸出第一在位信號的高電平信號；

若所述控制電路確定第二類型的硬盤在位，則所述控制電路輸出第二在位信號的高電平信號。

5.如權利要求3所述的硬盤在位檢測裝置，其特征在于：

所述連接器還用于輸出第四信號，當所述第三類型的硬盤連接到所述連接器時，所述連接器輸出低電平的第四信號，當所述第四類型的連接到所述連接器時，所述連接器輸出高電平的第四信號；

所述控制電路還用于根據所述第一信號、第二信號、第四信號的電平狀態確定所述第三類型或第四類型的硬盤的在位狀態和類型。

6.一種硬盤在位檢測方法，其特征在于，包括：

當第一類型的所述硬盤連接時，輸出低電平的第一信號、第二信號和第三信號，當第二類型的所述硬盤連接時，輸出低電平的第一信號、高電平的第二信號和低電平的第三信號，當沒有所述硬盤連接時，輸出高電平的第一信號、第二信號和第三信號，所述第一信號、第二信號、第三信號用于表示所述硬盤的在位狀態和類型；

將所述第三信號的下降沿延時并輸出為延時信號；

對所述第一信號和所述第二信號進行鎖存邏輯運算并輸出運算結果為鎖存信號；

根據所述第一信號、所述第二信號、所述延時信號和所述鎖存信號的電平狀態確定所述硬盤的在位狀態和類型，所述延時信號和所述鎖存信號用于修正由于所述第一信號和所述第二信號變化不同步而使確定所述硬盤的在位狀態和類型發生錯誤。

7.如權利要求6所述的硬盤在位檢測方法，其特征在于，所述鎖存邏輯運算包括：

若所述第一信號和所述第二信號均為相同電平狀態，所述鎖存信號的電平狀態與所述第一信號的電平狀態相同；

若所述第一信號和所述第二信號的電平狀態不同，所述鎖存信號的電平狀態不變。

8.如權利要求6所述的硬盤在位檢測方法，其特征在于：

根據所述第一信號、所述第二信號的低電平信號確定所述第一類型的所述硬盤在位，并根據所述第一信號的低電平信號、所述第二信號的高電平信號、所述延時信號的低電平信號和所述鎖存信號的高電平信號確定所述第二類型的所述硬盤在位。