[發明專利]通訊電子產品測試系統與通訊電子產品測試方法

在審

• 申請號: 202110898044.0
• 申請日: 2021-08-05
• 公開（公告）號: CN113660135A
• 公開（公告）日: 2021-11-16
• 發明（設計）人: 牛佛林;吳桂鑫;張博珺;陳春榮;毛肇文;郭興農
• 申請（專利權）人: 深圳市共進電子股份有限公司
• 主分類號: H04L12/26
• 分類號: H04L12/26
• 代理公司: 深圳眾鼎匯成知識產權代理有限公司 44566
• 代理人: 吳立

本申請涉及電子產品測試領域，提出了一種通訊電子產品測試系統和測試方法，其中，系統部分包括：通訊電子產品測試系統包括：第一級交換機、測試儀器、測試機、兩個以上第二級交換機、與第二級交換機的數量對應的兩個以上功分器和多個被測單元；第一級交換機的輸出端口分別與兩個以上第二級交換機的輸入端口連接，每個第二級交換機的不同輸出端口連接至兩個以上被測單元，第二級交換機上連接的兩個以上被測單元連接至同個功分器，不同第二級交換機上連接的兩個以上被測單元連接至不同的功分器，每個功分器連接至測試儀器相應的輸出端口，測試機連接至測試儀器的輸入端口以及第一級交換機的輸入端口。

技術領域

本申請涉及電子產品測試技術領域，尤其涉及到一種通訊電子產品測試系統、通訊電子產品測試方法。

背景技術

為了保證路由器、耳機等通訊電子產品的性能，通常需要對此類電子產品進行測試，以測試其性能。發明人研究發現，現有的通訊電子產品測試系統中，在產品生產過程，同一測試系統一般只能測試一臺產品，在訂單量大的時候，面對大量的產品，現有的通訊電子產品測試系統并不能滿足產能要求，測試效率比較低。

發明內容

本申請的目的在于提供一種通訊電子產品測試系統與通訊電子產品測試方法，以解決現有的通訊電子產品測試系統，對通訊電子產品的測試效率比較低的技術問題。

一種通訊電子產品測試系統，所述通訊電子產品測試系統包括：第一級交換機、測試儀器、測試機、兩個以上第二級交換機、與所述第二級交換機的數量對應的兩個以上功分器和多個被測單元；

所述第一級交換機的輸出端口分別與所述兩個以上第二級交換機的輸入端口連接，每個所述第二級交換機的不同輸出端口連接至兩個以上所述被測單元，所述第二級交換機上連接的兩個以上所述被測單元連接至同個所述功分器，不同所述第二級交換機上連接的兩個以上所述被測單元連接至不同的所述功分器，每個所述功分器連接至所述測試儀器相應的輸出端口，所述測試機連接至所述測試儀器的輸入端口以及所述第一級交換機的輸入端口。

在一實施方式中，所述通訊電子產品測試系統還包括與所述功分器的數量對應的兩個以上屏蔽箱，其中，所述第二級交換機上對應的功分器和兩個以上所述被測單元功分器，設置在同個所述屏蔽箱內。

在一實施方式中，所述第一級交換機和兩個以上所述第二級交換機均為虛擬局域網交換機，

一種基于通訊電子產品測試系統的通訊電子產品測試方法，所述方法包括：

所述測試機為被測單元開啟對應的線程，使所述線程執行如下測試：

所述測試機向被測單元發送測試狀態進入指令；

所述被測單元響應所述測試狀態進入指令，進入測試狀態；

所述測試機執行對所述被測單元的測試，以獲取測試數據。

在一實施方式中，所述測試機執行對所述被測單元的測試，以獲取測試數據之后，所述方法還包括：

所述測試機依據所述測試數據，得到測試結果。

在一實施方式中，所述測試機向被測單元發送測試狀態進入指令之前，所述方法還包括：

所述測試機獲取所述被測單元與對應功分器之間連接線纜的信號損耗；

當信號損耗符合預設損耗條件時，所述測試機向被測單元發送測試狀態進入指令。

在一實施方式中，所述測試機為被測單元開啟對應的線程，包括：

所述測試機獲取所述通訊電子產品測試系統中所述屏蔽箱的數量，和各所述屏蔽箱內的所述被測單元的數量；

所述測試機開啟與所述屏蔽箱的數量相同的第一線程，并根據各所述屏蔽箱內測試的被測單元的數量開啟同樣數量的第二線程；