[發明專利]一種寬角度高掃描率毫米波漏波天線

有效

• 申請號: 202110896667.4
• 申請日: 2021-08-05
• 公開（公告）號: CN113612026B
• 公開（公告）日: 2023-03-10
• 發明（設計）人: 王權;徐魁文
• 申請（專利權）人: 杭州電子科技大學
• 主分類號: H01Q5/20
• 分類號: H01Q5/20;H01Q5/55;H01Q13/10;H01Q3/22;H01Q1/36
• 代理公司: 杭州浙科專利事務所(普通合伙) 33213
• 代理人: 孫孟輝

1.一種寬角度高掃描率毫米波漏波天線，包括集成基片波導，所述集成基片波導包括上金屬層（1），上金屬層（1）上設有若干個縫隙調制單元（5），所述縫隙調制單元（5）包括一個矩形縫隙（51），所述矩形縫隙（51）位于縫隙調制單元（5）的中間位置，其特征在于，所述縫隙調制單元（5）還包括兩個開口諧振環（52），兩個開口諧振環（52）開口朝向矩形縫隙（51），對稱設置在矩形縫隙（51）的兩邊。

2.根據權利要求1所述的寬角度高掃描率毫米波漏波天線，其特征在于，通過控制所述開口諧振環（52）的開口寬度gap可以控制天線的工作頻段。

3.根據權利要求1所述的寬角度高掃描率毫米波漏波天線，其特征在于，所述縫隙調制單元（5）的數量為多個，漏波天線由多個縫隙調制單元（5）沿一條直線排列而成，每個縫隙調制單元（5）的間距相等。

4.根據權利要求1所述的寬角度高掃描率毫米波漏波天線，其特征在于，所述上金屬層（1）的兩端分別設有微帶線（6），所述微帶線（6）為一端朝連接上金屬層（1）的一端逐漸變大的梯形結構，并與上金屬層（1）導通，用以實現微帶線（6）和集成基片波導之間的阻抗匹配。

5.根據權利要求1所述的寬角度高掃描率毫米波漏波天線，其特征在于，所述集成基片波導還包括介質基板（2）和下金屬層（3），所述介質基板（2）位于上金屬層（1）和下金屬層（3）之間，介質基板（2）上設有導通上金屬層（1）和下金屬層（3）的多個導通結構（4），所述導通結構（4）呈兩排設置，所述縫隙調制單元（5）位于兩排導通結構（4）之間。

6.根據權利要求5所述的寬角度高掃描率毫米波漏波天線，其特征在于，所述導通結構（4）為金屬化孔。

7.根據權利要求1所述的寬角度高掃描率毫米波漏波天線，其特征在于，所述漏波天線的開放阻帶可以通過調整縫隙的長度來抑制。

8.根據權利要求4所述的寬角度高掃描率毫米波漏波天線，其特征在于，所述微帶線（6）的阻值為50歐姆。

9.根據權利要求1所述的寬角度高掃描率毫米波漏波天線，其特征在于，所述漏波天線由15個縫隙調制單元（5）組成。