[發明專利]一種PLC芯片等級檢測方法

在審

• 申請號: 202110893544.5
• 申請日: 2021-08-04
• 公開（公告）號: CN113624783A
• 公開（公告）日: 2021-11-09
• 發明（設計）人: 何祺昌;林棣棚
• 申請（專利權）人: 安捷芯科技有限公司
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956;G01N21/01
• 代理公司: 廣東科信啟帆知識產權代理事務所(普通合伙) 44710
• 代理人: 吳少東

本申請公開了一種PLC芯片等級檢測方法，檢測方法通過：首先獲取各個通道的最大插損光譜曲線CH00nMAX、最小插損光譜曲線CH00nMIN以及平均插損光譜曲線CH00nAVG，然后在對應的光譜曲線中獲取PB IL測試數據、PDW測試數據、1dB BW測試數據、3dB BW測試數據、AX測試數據，比對各通道的PB IL測試數據、PDW測試數據、1dB BW測試數據、3dB BW測試數據、AX測試數據數值大小，選出PB IL比對數據、PDW比對數據、1dB BW比對數據、3dB BW比對數據、AX比對數據及計算出IL unif比對數據，將各芯片比對數據與等級對比數據表中的各對比數據數值進行比對，從而判斷芯片的等級，由于各類型芯片均具有上述的測試數據，本檢測方法通用性強，避免出錯。

技術領域

本發明屬于光通訊技術領域，尤其涉及一種PLC芯片等級檢測方法。

背景技術

隨著5G通訊的發展，波分復用(WDM)產品突顯優勢，平面光波導芯片(PLC)需求也日益增長，生產芯片過程中，需要對芯片等級進行劃分，現有的劃分方法是建立MicrosoftExcel宏模版，向宏模版中輸入測試數據，通過宏模版對測試數據進行分析，從而判斷芯片等級，由于PLC芯片類型較多對應的測試數據類型不同，因此需要構建不同類型的分析宏模版，通用性差，在較多種類宏模版的情況下，分析前需要選擇合適的分析宏模版，若選擇錯誤，分析不精準。

發明內容

(一)發明目的

為了克服以上不足，本發明的目的在于提供一種PLC芯片等級檢測方法，以解決現有的PLC芯片等級檢測方法需要構建不同的分析宏模版，通用性差，且選擇錯誤的分析宏模版后，容易導致分析不精準的技術問題。

(二)技術方案

為實現上述目的，本申請提供的技術方案如下：

為實現上述目的，本申請一方面提供的技術方案如下：

一種PLC芯片等級檢測方法，包括：

獲取各個通道光譜曲線：獲取各個通道的最大插損光譜曲線CH00nMAX、最小插損光譜曲線CH00nMIN、平均插損光譜曲線CH00nAVG、TM偏振態光譜曲線以及TE偏振態光譜曲線；

獲取各通道的測試數據：獲取各通道的PB IL測試數據、PDW測試數據、1dB BW測試數據、3dB BW測試數據以及AX測試數據，其中，PB IL測試數據是基于各通道的最大插損光譜曲線CH00nMAX獲取的，PDW測試數據基于各通道的TM偏振態光譜曲線以及各通道的TE偏振態光譜曲線獲取的，1dB BW測試數據以及3dB BW測試數據是基于各通道的平均插損光譜曲CH00nAVG獲取的，AX測試數據是基于各通道的平均插損光譜曲CH00nAVG獲取的；

選取芯片比對數據：在得到的各個通道的測試數據中選取：PB IL比對數據、PDW比對數據、1dB BW比對數據、3dB BW比對數據、AX比對數據IL unif比對數據；

判斷芯片等級：將選出的所有的芯片比對數據分別與預先設定的等級比對參數：PB IL比對參數、PDW比對參數、1dB BW比對參數、3dB BW比對參數、AX比對參數、IL unif比對參數進行對比，獲取芯片等級；