[發明專利]一種分段式大豆劣變耐性鑒定方法及其應用有效
| 申請號: | 202110890968.6 | 申請日: | 2021-08-04 |
| 公開(公告)號: | CN113519233B | 公開(公告)日: | 2022-07-22 |
| 發明(設計)人: | 陳文杰;寧德嬌;郭小紅;梁江;陳淵;韋清源;湯復躍 | 申請(專利權)人: | 廣西壯族自治區農業科學院 |
| 主分類號: | A01C1/02 | 分類號: | A01C1/02;A01C1/00 |
| 代理公司: | 南寧東之智專利代理有限公司 45128 | 代理人: | 戴燕桃;汪治興 |
| 地址: | 530007 廣西*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 段式 大豆 耐性 鑒定 方法 及其 應用 | ||
1.一種分段式大豆劣變耐性鑒定方法,其特征在于,包括:
(1)選擇劣變處理表現穩定的大豆品種D1和D2做公共對照;
(2)將待鑒定材料和公共對照D1一同進行T5處理;T5處理為在溫度為45℃、相對濕度為85%的老化箱中老化處理5天;
(3)將步驟(2)處理后的材料用標準發芽法進行發芽試驗;
(4)發芽結束后統計待鑒定材料和公共對照材料的正常芽數、輕度損傷芽數、損傷芽數和嚴重損傷芽數,并計算各材料的正常芽率、輕度損傷率、損傷率和嚴重損傷率,然后按照綜合發芽力計算公式計算待鑒定材料經過T5處理后的綜合發芽力值V5;
其中,所述綜合發芽力計算公式為:V=正常芽率+90%*輕度損傷率+60%*損傷率+20%*嚴重損傷率;
(51)若公共對照材料D1的綜合發芽力值超過誤差范圍,則待鑒定材料的綜合發芽力值作廢;
(52)若公共對照材料D1的綜合發芽力值在誤差范圍內,且待鑒定材料的綜合發芽力值0<V5≤90%,則根據鑒定材料的綜合發芽力值V5確定耐劣變等級;
(53)若公共對照材料D1的綜合發芽力值在誤差范圍內,且待鑒定材料的綜合發芽力值V5>90%,則把該材料連同公共對照材料D2進行T8處理,T8處理為在溫度為45℃、相對濕度為85%的老化箱中老化處理8天;然后計算待鑒定材料經過T8處理后的綜合發芽力值V8;
(531)若公共對照材料D2的綜合發芽力值超過誤差范圍,則待鑒定材料的綜合發芽力值作廢;
(532)若公共對照材料D2的綜合發芽力值在誤差范圍內,且待鑒定材料的綜合發芽力值0<V8≤90%,則根據鑒定材料的綜合發芽力值V8確定耐劣變等級;
(533)若公共對照材料D2的綜合發芽力值在誤差范圍內,且待鑒定材料的綜合發芽力值V8>90%,則把該材料連同公共對照材料D2進行T11處理,并計算待鑒定材料經過T11處理后的綜合發芽力值V11;T11處理為在溫度為45℃、相對濕度為85%的老化箱中老化處理11天;
若公共對照材料D2的綜合發芽力值超過誤差范圍,則待鑒定材料的綜合發芽力值作廢;
若公共對照材料D2的綜合發芽力值在誤差范圍內,且待鑒定材料的綜合發芽力值0<V11≤90%,則根據鑒定材料的綜合發芽力值V11確定耐劣變等級;
(54)若公共對照材料D1的綜合發芽力值在誤差范圍內,且待鑒定材料的綜合發芽力值V5=0,則把該材料連同公共對照材料D1進行T2處理,T2處理為在溫度為45℃、相對濕度為85%的老化箱中老化處理2天;然后統計待鑒定材料經過T2處理后的綜合發芽力值V2;
若公共對照材料D1的綜合發芽力值超過誤差范圍,則待鑒定材料的綜合發芽力值作廢;
若公共對照材料D1的綜合發芽力值在誤差范圍內,且待鑒定材料的綜合發芽力值0<V2≤90%,則根據鑒定材料的綜合發芽力值V2確定耐劣變等級;
耐劣變等級分為16個等級,大豆材料經過T2處理后的綜合發芽力值V2占4個等級,大豆材料經過T5處理后的綜合發芽力值V5占4個等級,大豆材料經過T8處理后的綜合發芽力值V8占4個等級,大豆材料經過T11處理后的綜合發芽力值V11占4個等級,具體的:
0<V2≤25,耐劣變等級R為-4級;
25<V2≤50,耐劣變等級R為-3級;
50<V2≤75,耐劣變等級R為-2級;
75<V2≤90,耐劣變等級R為-1級;
0<V5≤25,耐劣變等級R為0級;
25<V5≤50,耐劣變等級R為1級;
50<V5≤75,耐劣變等級R為2級;
75<V5≤90,耐劣變等級R為3級;
0<V8≤25,耐劣變等級R為4級;
25<V8≤50,耐劣變等級R為5級;
50<V8≤75,耐劣變等級R為6級;
75<V8≤90,耐劣變等級R為7級;
0<V11≤25,耐劣變等級R為8級;
25<V11≤50,耐劣變等級R為9級;
50<V11≤75,耐劣變等級R為10級;
75<V11≤90,耐劣變等級R為11級;
大豆材料的發芽分類如下:
正常芽數:子葉、根、外觀正常且生長點完好,且根生長正常的大豆芽的個數;
輕度損傷芽數:生長點完好,且子葉、根損傷程度≤20%,即子葉有輕微壞斑點,即壞斑面積≤20%,或者根未出現明顯畸形,或輕微畸形的大豆芽數;
損傷芽數:生長點完好,但子葉和根損傷較嚴重,20%<子葉和根損傷程度≤60%,即葉片:20%<壞斑面積≤60%,或者根嚴重畸形的大豆芽數;
嚴重損傷芽數:種子能萌動,生長點壞死或者嚴重損傷,60%<子葉和根損傷程度<100%,即子葉嚴重損傷: 60%<壞斑面積<100%,或者下胚軸不能發育成根的大豆芽數;
正常芽率=正常芽數×100%/發芽總籽粒數;
輕度損傷率=輕度損傷芽數×100%/發芽總籽粒數;
損傷率=損傷芽數×100%/發芽總籽粒數;
嚴重損傷率=嚴重損傷芽數×100%/發芽總籽粒數;
公共對照材料D1選擇桂夏1號,公共對照材料D2選擇桂1607號;
公共對照材料D1的誤差范圍為已知值±5.12;
公共對照材料D2的誤差范圍為已知值±4.42。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于廣西壯族自治區農業科學院,未經廣西壯族自治區農業科學院許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110890968.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





