[發明專利]一種性能測試方法、設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202110888363.3 | 申請日: | 2021-08-03 |
| 公開(公告)號: | CN113742217A | 公開(公告)日: | 2021-12-03 |
| 發明(設計)人: | 田歐 | 申請(專利權)人: | 北京達佳互聯信息技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36;H04L12/26 |
| 代理公司: | 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100085 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 性能 測試 方法 設備 存儲 介質 | ||
1.一種性能測試方法,應用于施壓節點,其特征在于,包括:
獲取待測試程序的初始地址,以及所述待測試程序對應的至少一個接入節點的標識;所述初始地址中包括所述待測試程序的主機地址;所述至少一個接入節點與所述主機地址對應;
從所述至少一個接入節點中確定目標接入節點,并生成目標地址;所述目標地址包括所述目標接入節點的標識,所述目標地址用于指示通過所述目標接入節點請求對所述待測試程序進行性能測試;
基于所述目標地址以及所述主機地址,生成壓測請求,并向所述目標接入節點發送所述壓測請求;所述壓測請求包括所述目標地址以及所述主機地址,所述壓測請求用于請求對所述待測試程序進行性能測試。
2.根據權利要求1所述的性能測試方法,其特征在于,所述生成目標地址,包括:
將所述初始地址中的所述主機地址替換為所述目標接入節點的標識。
3.根據權利要求1所述的性能測試方法,其特征在于,所述初始地址還包括所述性能測試的測試內容以及所述測試內容的路徑;所述生成目標地址,包括:
基于所述目標接入節點的標識、所述測試內容以及所述測試內容的路徑,生成所述目標地址。
4.根據權利要求1所述的性能測試方法,其特征在于,所述目標地址位于所述壓測請求的請求行中,所述主機地址位于所述壓測請求的請求頭中。
5.根據權利要求4所述的性能測試方法,其特征在于,所述主機地址為所述請求頭中目標鍵值對的值,所述目標鍵值對的鍵為主機Host。
6.一種施壓節點,其特征在于,包括獲取單元、確定單元、生成單元以及發送單元;
所述獲取單元,用于獲取待測試程序的初始地址,以及所述待測試程序對應的至少一個接入節點的標識;所述初始地址中包括所述待測試程序的主機地址;所述至少一個接入節點與所述主機地址對應;
所述確定單元,用于從所述至少一個接入節點中確定目標接入節點;
所述生成單元,用于生成目標地址;所述目標地址包括所述目標接入節點的標識,所述目標地址用于指示通過所述目標接入節點請求對所述待測試程序進行性能測試;
所述生成單元,還用于基于所述目標地址以及所述主機地址,生成壓測請求;所述壓測請求包括所述目標地址以及所述主機地址,所述壓測請求用于請求對所述待測試程序進行性能測試;
所述發送單元,用于向所述目標接入節點發送所述生成單元生成的所述壓測請求。
7.一種性能測試系統,其特征在于,包括至少一個施壓節點、至少一個接入節點、至少一個被壓節點、施壓主控節點以及接入主控節點;
所述接入主控節點用于管理所述至少一個接入節點,且所述接入主控節點包括主機地址與接入節點的標識之間的映射關系;所述主機地址用于標識待測試程序;
所述施壓主控節點用于管理所述至少一個施壓節點,且所述施壓主控節點用于生成施壓指令,并向所述至少一個施壓節點發送施壓指令;所述施壓指令為所述施壓主控節點響應于所述待測試程序的測試開始操作生成的,所述施壓指令用于指示所述至少一個施壓節點通過所述至少一個接入節點對所述待測試程序進行性能測試;
所述至少一個施壓節點中的每個施壓節點均包括施壓程序,且所述每個施壓節點均用于執行權利要求1-5中任一項所述的性能測試方法;
所述至少一個接入節點中的每個接入節點均包括接入層程序;所述每個接入節點用于通過所述接入層程序向被壓節點發送權利要求要求1-5中任一項所述的壓測請求;
所述至少一個被壓節點中的每個被壓節點均包括所述待測試程序,且所述每個被壓節點均用于在接收到所述壓測請求之后,對所述待測試程序進行性能測試。
8.一種施壓節點,其特征在于,包括:處理器、用于存儲所述處理器可執行的指令的存儲器;其中,所述處理器被配置為執行指令,以實現所述權利要求1-5中任一項所述的性能測試方法。
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