[發明專利]頭顱結構標準率評估裝置、方法及計算機可讀存儲介質在審
| 申請號: | 202110887799.0 | 申請日: | 2021-08-03 |
| 公開(公告)號: | CN113598795A | 公開(公告)日: | 2021-11-05 |
| 發明(設計)人: | 岳江;魏海林;王冠;盤景松;牛牧 | 申請(專利權)人: | 羅慕科技(北京)有限公司 |
| 主分類號: | A61B6/00 | 分類號: | A61B6/00 |
| 代理公司: | 威海佩敏專利代理事務所(普通合伙) 37284 | 代理人: | 宋益敏 |
| 地址: | 100000 北京市順義*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 頭顱 結構 標準 評估 裝置 方法 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
本申請涉及醫學圖像處理技術領域,提供一種頭顱結構標準率評估裝置、方法及計算機可讀存儲介質,包括關鍵頭影測量項權重調節單元,用于確定關鍵頭影測量項和所述關鍵頭影測量項的權重;頭顱結構標準率確定單元,用于確定評估對象的頭顱結構相對于標準頭顱結構的標準率;顯示單元,用于顯示所述評估對象的頭顱結構的標準率。本申請的頭顱結構標準率評估裝置能夠根據評估對象有關的信息確定評估對象的頭顱結構整體標準率或特定組織結構的標準率,并能夠排除過于偏離標準值的組織結構的影響。
技術領域
本申請涉及醫學圖像處理技術領域,尤其涉及一種頭顱結構標準率評估裝置、方法及計算機可讀存儲介質。
背景技術
X線頭影測量分析(Cephalometric Analysis)是當今齒科正畸診斷治療過程中不可或缺的步驟,它包括對評估對象從側位進行X線(X-Ray)攝片所獲取的X線頭顱側位片進行標定、測量、計算、分析的醫學圖像處理技術,主要用于對患者頭顱結構,包括牙頜顱面軟硬組織形態、大小、位置及相互關系等進行的測量分析,為正畸治療提供依據。
隨著計算機技術的發展,數字化頭影測量軟件已逐漸普及,傳統醫生利用紙筆手動標記、測量計算的方式也逐步淘汰,而計算機的高速計算能力,使得更復雜全面的頭影測量計算方式的快速普及應用也成了可能。
目前主流的頭影測量分析法有Steiner分析法,北醫分析法,Tweed分析法,Downs分析法,Wits分析法,Ricketts分析法,Coben分析法等。
但是,上述現有X線頭影測量分析法只給出了包含單個測量指標的測量項目,如SNA測量上頜骨的矢狀向關系,SNB測量下頜骨的矢狀向關系,后續再通過年齡、人種、地域等研究得出每個測量項的標準值,醫生仍需不斷對每個測量項與每個測量項的標準值進行比較,仔細研究才能給病例一個總體評估,由于需要不斷人為干預判斷加之測量指標的分散性,并不利于大量病例的快速篩查對比工作,也很難用于大數據領域,更不能讓醫生快速得到一個病例的總體評估。
此外,在齒科正畸醫學研究中,有時根據特定的治療研究目的,需要分析研究對象頭顱結構中某一項或幾項特定組織結構的特征,例如:在治療研究骨性II類錯牙合(牙合為一個字,該字為口腔醫學領域用字,指上下牙列之間的接觸關系)畸形時,需要特別關注上下頜骨的結構特征,此時需要針對研究對象的該類組織結構特征分析其與標準頭顱結構的區別,同時還需要盡量減少評估對象頭顱結構中那些過于偏離標準值的結構特征對診斷或分析結果造成的污染。
發明內容
本申請的目的在于提供一種頭顱結構標準率評估裝置、方法及計算機可讀存儲介質,可以由使用者根據基于與評估對象有關的信息,確定關鍵頭影測量項并得到評估對象頭顱結構相對于標準頭顱結構的標準率,從而輔助使用者進行診斷治療或獲取研究信息。
本申請的一個方面提供一種頭顱結構標準率評估裝置,其包括:
關鍵頭影測量項權重調節單元,被配置為基于與評估對象有關的信息確定關鍵頭影測量項和所述關鍵頭影測量項的權重;
頭顱結構標準率確定單元,被配置為基于所述關鍵頭影測量項的測量值、所述關鍵頭影測量項的權重以及標準頭顱的頭影測量信息確定所述評估對象的頭顱結構相對于標準頭顱結構的標準率;以及
顯示單元,被配置為顯示所述關鍵頭影測量項、所述關鍵頭影測量項的權重、所述關鍵頭影測量項的測量值、所述標準頭顱的頭影測量信息和所述評估對象的頭顱結構的標準率。
在一些實施例中,所述關鍵頭影測量項權重調節單元包括:
評估對象信息獲取模塊,被配置為獲取所述與評估對象有關的信息,所述與評估對象有關的信息包括所述評估對象的X線頭顱側位片圖像、所述X線頭顱側位片的測量標志點信息和所述評估對象的基本身份信息;
評估目標確定模塊,被配置為根據所述與評估對象有關的信息,確定評估目標;
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