[發明專利]折轉式探測器光學系統

在審

• 申請號: 202110887097.2
• 申請日: 2021-08-03
• 公開（公告）號: CN113687500A
• 公開（公告）日: 2021-11-23
• 發明（設計）人: 沈正祥;余俊;王占山;何春伶;夏傑;杜建立
• 申請（專利權）人: 潤坤（上海）光學科技有限公司
• 主分類號: G02B17/08
• 分類號: G02B17/08
• 代理公司: 深圳市蘭鋒盛世知識產權代理有限公司 44504
• 代理人: 羅炳鋒

1.折轉式探測器光學系統，包括第一拋物反射鏡(1)，其特征在于：所述第一拋物反射鏡(1)左下角設置有第一平面反射鏡(3)，所述第一平面反射鏡(3)左側設置有第二拋物反射鏡(2)，所述第二拋物反射鏡(2)底部設置有第二平面反射鏡(4)，所述第二平面反射鏡(4)右側設置有第三平面反射鏡(5)，所述第三平面反射鏡(5)頂部設置有第四平面反射鏡(6)，所述第四平面反射鏡(6)右側設置有第五平面反射鏡(7)，所述第五平面反射鏡(7)底部設置有第六平面反射鏡(8)，所述第六平面反射鏡(8)右側設置有凸透鏡(9)，所述凸透鏡(9)右側設置有三膠合透鏡(10)，所述三膠合透鏡(10)右側設置有第一雙膠合透鏡(11)，所述第一雙膠合透鏡(11)右側設置有第二雙膠合透鏡(12)，所述第二雙膠合透鏡(12)右側設置有第三雙膠合透鏡(13)。

2.根據權利要求1所述的折轉式探測器光學系統，其特征在于：所述第一拋物反射鏡(1)和第二拋物反射鏡(2)之間設置有第一空氣間隔，第二拋物反射鏡(2)和第一平面反射鏡(3)之間設置有第二空氣間隔，第一平面反射鏡(3)和第二平面反射鏡(4)之間設置有第三空氣間隔，第二平面反射鏡(4)和第三平面反射鏡(5)之間設置有第四空氣間隔，第三平面反射鏡(5)和第四平面反射鏡(6)之間設置有第五空氣間隔，第四平面反射鏡(6)和第五平面反射鏡(7)之間設置有第六空氣間隔，第五平面反射鏡(7)和第六平面反射鏡(8)之間設置有第七空氣間隔，第六平面反射鏡(8)和凸透鏡(9)之間設置有第八空氣間隔，凸透鏡(9)和三膠合透鏡(10)之間設置有第九空氣間隔，三膠合透鏡(10)和第一雙膠合透鏡(11)之間設置有第十空氣間隔，第一雙膠合透鏡(11)和第二雙膠合透鏡(12)之間設置有第十一空氣間隔，第二雙膠合透鏡(12)和第三雙膠合透鏡(13)之間設置有第十二空氣間隔，所述第三雙膠合透鏡(13)右側設置有成像面，第三雙膠合透鏡(13)和成像面之間設置有第十三空氣間隔。

3.根據權利要求1所述的折轉式探測器光學系統，其特征在于：所述第一拋物反射鏡(1)沿Y軸方向偏離-300mm～-100mm，第二拋物反射鏡(2)沿Y軸方向偏離-1mm～0mm，第一平面反射鏡(3)沿X軸旋轉-90°～0°，第二平面反射鏡(4)沿X軸旋轉0°～90°，第三平面反射鏡(5)沿X軸旋轉0°～90°，第第四平面反射鏡(6)沿X軸旋轉-90°～0°，第第五平面反射鏡(7)沿X軸旋轉-90°～0°，第六平面八反射鏡(8)沿X軸旋轉0°～90°。

4.根據權利要求1所述的折轉式探測器光學系統，其特征在于：所述凸透鏡(9)前表面近似平面，后表面曲率半徑范圍為-200mm～-250mm，光學厚度為13mm～17mm，光學材料為BAF5。

5.根據權利要求1所述的折轉式探測器光學系統，其特征在于：所述三膠和透鏡(10)設置有三片，第一片前后表面曲率半徑范圍分別為150mm～180mm和-90mm～-70mm，光學厚度為13mm～17mm，光學材料為H-ZBAF3，第二片后表面曲率半徑范圍為40mm～60mm，光學厚度為5mm～8mm，光學材料為TF3，第三片后表面近似平面，光學厚度為13mm～17mm，光學材料為H-FK61。

6.根據權利要求1所述的折轉式探測器光學系統，其特征在于：所述第一雙膠合透鏡(11)設置有兩片，第一片前后表面曲率半徑范圍分別為-600mm～-500mm和-80mm～-60mm，光學厚度為13mm～17mm，光學材料為H-ZK7；第二片后表面曲率半徑范圍為500mm～600mm，光學厚度為5mm～8mm，光學材料為H-LAF50B。

7.根據權利要求1所述的折轉式探測器光學系統，其特征在于：所述第二雙膠合透鏡(12)設置有兩片，第一片前后表面曲率半徑范圍分別為40mm～60mm和-700mm～-600mm，光學厚度為13mm～17mm，光學材料為H-BAK7；第二片后表面曲率半徑范圍為200mm～300mm，光學厚度為5mm～8mm，光學材料為H-LAK11。