[發(fā)明專利]用于在色譜圖中鑒定分析物的峰分布

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110886967.4
• 申請(qǐng)日: 2021-08-03
• 公開（公告）號(hào): CN114062585A
• 公開（公告）日: 2022-02-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: A·F·卡喬;K·斯里尼瓦桑;P·K·達(dá)斯谷普塔
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 戴安公司;德克薩斯州大學(xué)系統(tǒng)董事會(huì)
• 主分類號(hào): G01N30/96
• 分類號(hào): G01N30/96;G01N30/86
• 代理公司: 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100
• 代理人: 張鑫

本申請(qǐng)公開了用于在色譜圖中鑒定分析物的峰分布。描述了一種用于確定樣品中第一分析物的身份的方法，該方法包括使第一樣品通過色譜柱以及通過色譜檢測器檢測該第一分析物的信號(hào)曲線，其中該信號(hào)曲線包括該第一分析物的峰分布。該峰分布由被配置為繪制到信號(hào)坐標(biāo)系上的多個(gè)測量數(shù)據(jù)點(diǎn)定義。該方法進(jìn)一步包括將該第一分析物的該峰分布?xì)w一化以形成歸一化峰分布，其中該歸一化峰分布包括縮放該多個(gè)測量數(shù)據(jù)點(diǎn)，并且其中該歸一化峰分布由被配置為繪制到歸一化坐標(biāo)系上的多個(gè)歸一化數(shù)據(jù)點(diǎn)定義；以及將該第一分析物的該歸一化峰分布與第二分析物的歸一化峰分布進(jìn)行比較。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及色譜法領(lǐng)域。更具體地，本公開涉及一種離子色譜系統(tǒng)和方法，該離子色譜系統(tǒng)和方法在色譜法期間使用分析物的峰的分布來提供改進(jìn)的分析物的鑒定。

背景技術(shù)

色譜法是一種用于分離和鑒定混合物中的成分的技術(shù)。在色譜法中，分析物在流動(dòng)相(mobile phase)的影響下與固定相(stationary phase)相互作用時(shí)通過色譜柱。由于分析物和流動(dòng)相與固定相的親和力(affinity)不同，因而實(shí)現(xiàn)了分離。此外，通過比較未知峰的保留時(shí)間與注入純標(biāo)準(zhǔn)品的保留時(shí)間，可以獲得具有已知峰名稱的分析物的分配。與特定已知分析物具有相同保留時(shí)間的未知峰可以用作與已知分析物相對(duì)應(yīng)的分配例程。然而，這種分配方法不是一種鑒定方法，因?yàn)樗煌耆煽俊Ｔ谀承┣闆r下，當(dāng)在不同的注入濃度下進(jìn)行測試時(shí)，相同分析物的保留時(shí)間可能發(fā)生移位。類似地，大量的單一分析物或基質(zhì)離子可能會(huì)影響存在的其他分析物的保留時(shí)間。如果未考慮這些保留時(shí)間的變化，則可能會(huì)導(dǎo)致感興趣的分析物的錯(cuò)誤分配。另外，分析物彼此非常接近地洗脫(elute)可能導(dǎo)致錯(cuò)誤鑒定。為了解決這個(gè)和相關(guān)的挑戰(zhàn)，通常使用附加的分析物檢測器，諸如可以基于質(zhì)荷比來鑒定分析物的質(zhì)譜儀。然而，由于質(zhì)譜儀是相對(duì)昂貴的檢測器，需要相當(dāng)大的費(fèi)用來維護(hù)和專業(yè)知識(shí)來操作，因此許多實(shí)驗(yàn)室不容易獲得它們。此外，基質(zhì)誘導(dǎo)的保留時(shí)間移位也會(huì)影響基于質(zhì)譜的身份確定。

發(fā)明內(nèi)容

根據(jù)本文所描述的概念，一種確定樣品中的第一分析物(諸如未知分析物)的身份的方法可以包括使第一分析物通過色譜柱以及通過色譜檢測器檢測第一分析物的信號(hào)曲線。該信號(hào)曲線可以包括該第一分析物的峰分布，其中該峰分布可以由被配置為繪制到信號(hào)坐標(biāo)系上的多個(gè)測量數(shù)據(jù)點(diǎn)定義。接下來，該方法可以包括將該第一分析物的該峰分布?xì)w一化以形成歸一化峰分布，其中該歸一化峰分布可以包括縮放該多個(gè)測量數(shù)據(jù)點(diǎn)。由此，該歸一化峰分布由被配置為繪制到歸一化坐標(biāo)系上的多個(gè)歸一化數(shù)據(jù)點(diǎn)定義。進(jìn)一步地，該方法可以包括將該第一分析物的該歸一化峰分布與第二分析物的歸一化峰分布進(jìn)行比較，所述第二分析物諸如已知或預(yù)測分析物。最終，基于該比較將該第一分析物鑒定為該第二分析物。

在本文所描述的概念的一些方面，該方法可以包括將該第一分析物的該歸一化峰分布與該第二分析物的該歸一化峰分布進(jìn)行比較，包括將該第一分析物的該歸一化峰分布與該第二分析物的該歸一化峰分布相關(guān)。將該第一分析物的該歸一化峰分布相關(guān)還可以包括計(jì)算第一多個(gè)絕對(duì)比例誤差。該第一多個(gè)絕對(duì)比例誤差可以基于(1)該第一分析物的該歸一化峰分布的該多個(gè)歸一化數(shù)據(jù)點(diǎn)和(2)與該第二分析物的該歸一化峰分布相對(duì)應(yīng)的第一多個(gè)已知數(shù)據(jù)點(diǎn)。可以通過將小于預(yù)定絕對(duì)比例閾值的該絕對(duì)比例誤差的計(jì)數(shù)除以該第一多個(gè)絕對(duì)比例誤差中的絕對(duì)比例誤差的總數(shù)，來計(jì)算該第一多個(gè)絕對(duì)比例誤差的第一身份比例。

在另一個(gè)方面，一種用于確定樣品中第一分析物的身份的系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以包括色譜柱、色譜檢測器和數(shù)據(jù)處理器。該色譜檢測器可以被配置為從該色譜柱檢測分析物的量并且配置為檢測該分析物的峰分布。該峰分布可以由多個(gè)測量數(shù)據(jù)點(diǎn)定義，每個(gè)測量數(shù)據(jù)點(diǎn)具有被配置為繪制到坐標(biāo)系上的x坐標(biāo)和y坐標(biāo)。該數(shù)據(jù)處理器可以被配置為從該色譜檢測器接收該多個(gè)測量數(shù)據(jù)點(diǎn)，調(diào)整該第一分析物的該多個(gè)測量數(shù)據(jù)點(diǎn)中的每個(gè)測量數(shù)據(jù)點(diǎn)的y坐標(biāo)以形成歸一化峰分布，并且將該第一分析物的該歸一化峰分布與第二分析物的歸一化峰分布進(jìn)行比較。