[發明專利]一種光感元件的高速暗箱測試設備及方法

在審

• 申請號: 202110886280.0
• 申請日: 2021-08-03
• 公開（公告）號: CN113624455A
• 公開（公告）日: 2021-11-09
• 發明（設計）人: 李輝;王體;李俊強;張春俊
• 申請（專利權）人: 深圳市諾泰芯裝備有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 南京新眾合專利代理事務所(普通合伙) 32534
• 代理人: 彭雄

1.一種光感元件的高速暗箱測試設備，其特征在于，包括機構安裝底板(1)、位置檢測傳感器(2)、頂開傳動機構(3)、XY軸直線運動機構(4)、定位夾持機構(5)，所述頂開傳動機構(3)、XY軸直線運動機構(4)均安裝在機構安裝底板(1)的上側；

所述XY直線運動機構4包括：Y軸線性機構(41)、X軸絲桿機構(42)、伺服電機(43)，所述Y軸線性機構(41)上滑動連接有所述定位夾持機構(5)，所述伺服電機(43)通過電機安裝板安裝于機構安裝底板(1)上，且伺服電機(43)與X軸絲桿機構(42)連接；所述Y軸線性機構(41)包括A組Y軸線性機構(411)和B組Y軸線性機構(412)，所述A組Y軸線性機構(411)和B組Y軸線性機構(412)平行設置在機構安裝底板1上；所述X軸絲桿機構(42)包括A組X軸絲桿機構(421)和B組X軸絲桿機構(422)，；伺服電機包括A組伺服電機(431)和B組伺服電機(432)，所述A組伺服電機設置在A組X軸絲桿機構(421)的側面，所述B組伺服電機設置在B組X軸絲桿機構(422)的側面；

所述位置檢測傳感器(2)設于A組Y軸線性機構(411)的外側面；

所述定位夾持機構(5)包括A組定位夾持機構(51)、B組定位夾持機構(52)，所述定位夾持機構包括A組定位夾持機構(51)、B組定位夾持機構(52)，所述A組定位夾持機構(51)滑動連接在所述A組Y軸線性機構(411)上，所述B組定位夾持機構(51)滑動連接在所述B組Y軸線性機構(412)上；

所述頂開傳動機構(3)包括伺服電機(31)、Z軸微調偏心桿(32)、深溝球軸承(33)、軸承內軸擋圈(34)、安裝支撐板(35)、傳感器支架(36)、偏心聯軸件(37)、凸輪隨動器(38)，所述伺服電機(31)上安裝有安裝支撐板(35),且通過Z軸微調偏心桿(32)將安裝支撐板(35)與支撐聯接板固定連接，所述深溝球軸承(33)安裝在安裝支撐板(35)上，通過所述軸承內軸擋圈(34)將偏心聯軸件(37)安裝在深溝球軸承(33)上，且所述傳感器支架(36)固定連接在偏心聯軸件(37)的兩側，所述偏心聯軸件(37)設在偏心聯軸件(37)的上方。

2.根據權利要求1所述的一種光感元件的高速暗箱測試設備，其特征在于，還包括光感元件測試機構(6)，所述光感元件測試機構(6)設在A組Y軸線性機構(411)和B組Y軸線性機構(412)中間，且安裝在機構安裝底板(1)上。

3.根據權利要求1所述的一種光感元件的高速暗箱測試設備，其特征在于，所述Y軸線性機構(41)與X軸絲桿機構(42)平行設置。

4.根據權利要求1所述的一種光感元件的高速暗箱測試設備，其特征在于，所述電機(43)與X軸絲桿結構(42)之間的連接通過電機安裝板和聯軸器裝置進行連接。

5.根據權利要求1所述的一種光感元件的高速暗箱測試設備，其特征在于，還包括暗箱測試盒裝置(7)。

6.一種基于權利要求1至5任意一項所述設備實現的高速暗箱測試方法，其特征在于，包括以下步驟：一種光感元件的高速暗箱測試的方法，其特征在于，包括以下步驟：

1)通過啟動伺服電機(31)，使頂開傳動機構(3)開始運作；

2)啟動A組伺服電機(431)，使A組定位夾持機構(51)進入放料工位進行取放料工作，

3)A組定位夾持機構(51)轉移運動至暗箱測試區域，啟動B組伺服電機(432),使B組定位夾持機構(52)運動至放料區域；

4)A組定位夾持機構(51)轉移運動至測試工位進行暗箱測試，B組定位夾持機構(52)轉移運動至放料工位進行取放料操作；

5)A組定位夾持機構(51)轉移運動至放料區域，B組定位夾持機構(52)轉移運動至暗箱測試區域；

6)A組定位夾持機構轉移運動至放料工位進行取放料，B組定位夾持機構(52)轉移運動至測試工位進行暗箱測試。

7.根據權利要求6所述的高速暗箱測試方法，其特征在于，所述A組定位夾持機構(51)與B組定位夾持機構(52)是在XY軸直線運動機構(4)上運動。