[發(fā)明專利]一種基于深度學(xué)習(xí)的干涉圖像相位解調(diào)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110885403.9 | 申請(qǐng)日: | 2021-08-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113340211B | 公開(公告)日: | 2021-10-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫喜博;張穎;耿遠(yuǎn)超;馬文靜;黃晚晴;劉蘭琴;王文義;袁強(qiáng);胡東霞;鄧學(xué)偉;袁曉東 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國工程物理研究院激光聚變研究中心 |
| 主分類號(hào): | G01B11/02 | 分類號(hào): | G01B11/02;G01J9/02;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京同輝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 于晶晶 |
| 地址: | 621999*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 深度 學(xué)習(xí) 干涉 圖像 相位 解調(diào) 方法 | ||
1.一種基于深度學(xué)習(xí)的干涉圖像相位解調(diào)方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟S1、參考光和測(cè)量光均為具有螺旋相位的偏振光束,測(cè)量光照射至物體上,參考光和測(cè)量光干涉形成瓣?duì)钋倚D(zhuǎn)的干涉圖像,當(dāng)物體發(fā)生位移時(shí),隨機(jī)生成測(cè)量光與參考光之間光程差,位移前的干涉圖像與位移后的干涉圖像之間存在旋轉(zhuǎn)角度,采集干涉圖像并計(jì)算獲得旋轉(zhuǎn)角度;
步驟S2、將步驟S1中干涉圖像與旋轉(zhuǎn)角度形成輸入輸出數(shù)據(jù)集,將輸入輸出數(shù)據(jù)集分為訓(xùn)練數(shù)據(jù)集與測(cè)試數(shù)據(jù)集;
步驟S3、搭建卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型,利用訓(xùn)練數(shù)據(jù)集對(duì)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行迭代優(yōu)化,直至利用測(cè)試數(shù)據(jù)集對(duì)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)效果符合終止條件;
步驟S4、采集待解調(diào)的干涉圖像,并輸入到訓(xùn)練后的卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型,輸出待解調(diào)的旋轉(zhuǎn)角度,計(jì)算得到測(cè)量光相位變化信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的干涉圖像相位解調(diào)方法,其特征在于,測(cè)量光與參考光之間光程差和旋轉(zhuǎn)角度的表達(dá)式為:,其中,表示旋轉(zhuǎn)角度,表示參考光和測(cè)量光拓?fù)浜刹畹慕^對(duì)值,表示線偏振光束的波長(zhǎng),表示測(cè)量光與參考光之間光程差,在、和已知的條件下,計(jì)算得到。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的干涉圖像相位解調(diào)方法,其特征在于,步驟S2中,通過生成系列隨機(jī)光程差,將步驟S1中干涉圖像與旋轉(zhuǎn)角度形成輸入輸出數(shù)據(jù)集。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的干涉圖像相位解調(diào)方法,其特征在于,步驟S3中,所述卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型包含卷積層、激活層和全連接層,對(duì)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行訓(xùn)練調(diào)參時(shí),全連接層利用梯度下降方法優(yōu)化損失函數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的干涉圖像相位解調(diào)方法,其特征在于,步驟S4中,卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型輸出待解調(diào)的旋轉(zhuǎn)角度后,依據(jù)測(cè)量光與參考光之間光程差和旋轉(zhuǎn)角度的表達(dá)式,計(jì)算獲得測(cè)量光相位變化信息。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的干涉圖像相位解調(diào)方法,其特征在于,步驟S1中,采集干涉圖像的方法為:
激光器輸出的線偏振光束經(jīng)第一分束器分為參考光和測(cè)量光,所述參考光經(jīng)第一光場(chǎng)調(diào)控元件變?yōu)榫哂新菪辔坏木€偏振光束,并經(jīng)反射傳輸至第二分束器,所述測(cè)量光經(jīng)第二光場(chǎng)調(diào)控元件變?yōu)榫哂新菪辔坏木€偏振光束,并經(jīng)第二分束器照射至物體上,經(jīng)物體折返反射的測(cè)量光與參考光在第二分束器合束形成干涉光,獲取干涉圖像。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的干涉圖像相位解調(diào)方法,其特征在于,步驟S1中,采集干涉圖像的方法為:
激光器輸出的線偏振光束經(jīng)光場(chǎng)調(diào)控模塊變?yōu)榫哂新菪辔坏膱A偏振光束,圓偏振光束分為參考光和測(cè)量光,且測(cè)量光分為垂直偏振光和水平偏振光,參考光、垂直偏振光和水平偏振光進(jìn)入不同光路并合束形成干涉光,獲取干涉圖像。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的干涉圖像相位解調(diào)方法,其特征在于,步驟S1中,計(jì)算獲得旋轉(zhuǎn)角度的方法為:
參考光進(jìn)入?yún)⒖脊饴罚瑴y(cè)量光經(jīng)第一偏振分束器分為垂直偏振光和水平偏振光,水平偏振光進(jìn)入第一測(cè)量光路,垂直偏振光進(jìn)入第二測(cè)量光路,且參考光、垂直偏振光和水平偏振光均返回至分束器并合束,獲取第一參考干涉圖像和第二參考干涉圖像,改變第二測(cè)量光路的光程生成測(cè)量光與參考光之間光程差,獲取第一干涉圖像和第二干涉圖像;
第一干涉圖像與第一參考干涉圖像存在的旋轉(zhuǎn)變化形成第一旋轉(zhuǎn)角度,第二干涉圖像與第二參考干涉圖像存在的旋轉(zhuǎn)變化形成第二旋轉(zhuǎn)角度,在、和已知的條件下,借助測(cè)量光與參考光之間光程差和旋轉(zhuǎn)角度的表達(dá)式,計(jì)算得到第一旋轉(zhuǎn)角度和第二旋轉(zhuǎn)角度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國工程物理研究院激光聚變研究中心,未經(jīng)中國工程物理研究院激光聚變研究中心許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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