[發明專利]測溫設備的校正方法和裝置

在審

• 申請號: 202110882327.6
• 申請日: 2021-08-02
• 公開（公告）號: CN113588110A
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發明（設計）人: 陳光勝
• 申請（專利權）人: 上海東軟載波微電子有限公司
• 主分類號: G01K7/16
• 分類號: G01K7/16
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 宋興;臧建明

1.一種測溫設備的校正方法，其特征在于，包括：

獲取測溫設備的熱電堆在第一校正溫度下的第一電壓值以及在第二校正溫度下的第二電壓值，且獲取所述測溫設備的熱敏電阻在所述第一校正溫度下的第一電阻值以及在所述第二校正溫度下的第二電阻值；

根據所述第一電阻值確定所述熱敏電阻的第一靈敏度，并根據所述第二電阻值確定所述熱敏電阻的第二靈敏度；

根據所述第一電壓值、所述第二電壓值、所述第一電阻值、所述第二電阻值、所述第一靈敏度以及所述第二靈敏度，確定所述熱電堆的第三靈敏度以及所述熱敏電阻在第一環境溫度下的第三電阻值；

根據所述第三靈敏度以及所述第三電阻值，校正所述測溫設備。

2.根據權利要求1所述的測溫設備的校正方法，其特征在于，所述獲取測溫設備的熱電堆在第一校正溫度下的第一電壓值以及在第二校正溫度下的第二電壓值，且獲取所述測溫設備的熱敏電阻在所述第一校正溫度下的第一電阻值以及在所述第二校正溫度下的第二電阻值的步驟包括：

控制所述測溫設備對輸出第一校正溫度的黑體爐進行量測，得到所述熱電堆在所述第一校正溫度下的第一電壓值以及所述熱敏電阻在所述第一校正溫度下的第一電阻值；

控制所述測溫設備對輸出第二校正溫度的所述黑體爐進行量測，得到所述熱電堆在所述第二校正溫度下的第二電壓值以及所述熱敏電阻在所述第二校正溫度下的第二電阻值。

3.根據權利要求1所述的測溫設備的校正方法，其特征在于，所述根據所述第一電阻值確定所述熱敏電阻的第一靈敏度，并根據所述第二電阻值確定所述熱敏電阻的第二靈敏度的步驟包括：

獲取所述第一校正溫度對應的第一映射表以及所述第二校正溫度對應的第二映射表，其中，所述第一映射表包括所述熱敏電阻在所述第一校正溫度下的電阻值與靈敏度，所述第二映射表包括所述熱敏電阻在第二校正溫度下的電阻值與靈敏度；

在所述第一映射表中確定所述第一電阻值對應的所述第一靈敏度，并在所述第二映射表中確定所述第二電阻值對應的所述第二靈敏度。

4.根據權利要求1所述的測溫設備的校正方法，其特征在于，所述根據所述第一電壓值、所述第二電壓值、所述第一電阻值、所述第二電阻值、所述第一靈敏度以及所述第二靈敏度，確定所述熱電堆的第三靈敏度以及所述熱敏電阻在第一環境溫度下的第三電阻值的步驟包括：

根據所述第一電壓、所述第一校正溫度以及第一預設公式確定所述第三靈敏度與第二環境溫度之間的第一對應關系，所述第二環境溫度根據所述第一校正溫度確定；

根據所述第二電壓、所述第二校正溫度以及第一預設公式確定所述第三靈敏度與第三環境溫度之間的第二對應關系，所述第三環境溫度根據所述第二校正溫度確定；

根據所述第一電阻值、所述第一靈敏度以及第二預設公式確定所述第三電阻值與所述第二環境溫度之間的第三對應關系；

根據所述第二電阻值、所述第二靈敏度以及第二預設公式確定所述第三電阻值與所述第三環境溫度之間的第四對應關系；

根據所述第一對應關系、所述第二對應關系、所述第三對應關系以及所述第四對應關系，確實所述第三電阻值以及所述第三靈敏度。

5.根據權利要求4所述的測溫設備的校正方法，其特征在于，所述根據所述第三靈敏度以及所述第三電阻值，校正所述測溫設備的步驟包括：

獲取當前確定的第三電阻值與上一次確定的第三電阻值之間的差值；

在所述差值小于預設差值時，將所述測溫設備內所述電熱堆的靈敏度更新為當前確定的所述第三靈敏度，并將所述測溫設備內所述熱敏電阻的電阻值更新為當前確定的所述第三電阻值。