[發明專利]一種超級電容器容量異常檢測方法

在審

• 申請號: 202110871424.5
• 申請日: 2021-07-30
• 公開（公告）號: CN113567754A
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發明（設計）人: 章躍平;明晉平
• 申請（專利權）人: 寧波三星醫療電氣股份有限公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26;G01R31/64
• 代理公司: 寧波誠源專利事務所有限公司 33102
• 代理人: 袁忠衛;李娜

1.一種超級電容器容量異常檢測方法，其特征在于：所述超級電容器采用RC方式充電，所述方法包括，

S1、獲取超級電容器的第一電壓V1和第二電壓V2，所述第二電壓V2相較于第一電壓V1在t秒后獲取；

S2、比較V1、V2與第一閾值Vt1之間的關系，并在滿足條件時，繼續獲取V1、V2值；

S3、比較繼續獲取的V1、V2與第一閾值Vt1之間的關系，并在符合條件時，比較繼續獲取的V1、V2與第二閾值Vt2之間的關系，并在達到標準時，停止獲取V1和V2；

S4、計算超級電容器容值偏差k，比較k與設定值k0之間的關系，據此判斷超級電容器的容值是否存在異常。

2.根據權利要求1所述超級電容器容量異常檢測方法，其特征在于：所述S1具體包括，

S11、系統進入上電工作模式；

S12、計算超級電容器的第一電壓V1；

S13、判斷V1是否小于Vt1，并在判斷結果為是時，間隔t秒后再次計算超級電容器的第二電壓V2。

3.根據權利要求2所述超級電容器容量異常檢測方法，其特征在于：

所述S1還包括，當判斷出V1＞Vt1時，結束檢測。

4.根據權利要求2所述超級電容器容量異常檢測方法，其特征在于：所述S2中的在滿足條件時，繼續獲取V1、V2值具體包括，

S21、判斷是否存在V1≤Vt1≤V2，若是，將計時器T清零，啟動計時；

S22、將V2賦值給V1，間隔t秒后再次計算超級電容器的第二電壓V2。

5.根據權利要求4所述超級電容器容量異常檢測方法，其特征在于：

所述S3中的在符合條件時，比較繼續獲取的V1、V2與第二閾值Vt2之間的關系，并在達到標準時，停止獲取V1和V2，具體包括，

S31、當S21中的判斷結果為否時，判斷是否存在V1≤Vt2≤V2，若是，停止計時器T。

6.根據權利要求5所述超級電容器容量異常檢測方法，其特征在于：

所述S3中的判斷若未達到標準時，跳轉執行S22。

7.根據權利要求5所述超級電容器容量異常檢測方法，其特征在于：

所述S4中的計算超級電容器容值偏差k所采用的公式為k＝T/T0-1，其中T0為標稱容值的超級電容器在Vt1～Vt2電壓區間內的充電時間。

8.根據權利要求7所述超級電容器容量異常檢測方法，其特征在于：

所述S4中的比較k與設定值k0之間的關系，據此判斷超級電容器的容值是否存在異常，具體包括，

判斷是否存在k≥k0或k≤-k0，若是，得出超級電容器容值偏差超限，記錄異常事件，并警示，結束檢測，反之，得出超級電容器容值偏差在允許范圍內，結束檢測。

9.根據權利要求2所述超級電容器容量異常檢測方法，其特征在于：所述方法還包括，在執行S11之前，還進行了如下操作，

S01、MCU上電復位；

S02、檢測電源是否有電；

S03、檢測結果為是，執行S11，檢測結果為否，得出MCU進入掉電工作模式，執行S02。

10.根據權利要求8所述超級電容器容量異常檢測方法，其特征在于：

所述t取值為1，Vt1取值為50％Vs，Vt2取值為90％Vs，k0取值為30％Vs，Vs為充電電源電壓。