[發明專利]波長測算方法、裝置、設備與計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202110867820.0
• 申請日: 2021-07-29
• 公開（公告）號: CN113588102A
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發明（設計）人: 杜源;姚海軍;胡振華
• 申請（專利權）人: 深圳市亞派光電器件有限公司
• 主分類號: G01J9/02
• 分類號: G01J9/02
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 關向蘭

本發明公開了一種波長測算方法、裝置、設備和計算機可讀存儲介質，該方法包括：在檢測到測算指令時，將待測光源輸入起偏器，得到待測線偏振光；將所述待測線偏振光輸入固定光路，得到第一干涉條紋的數量，并根據所述第一干涉條紋的數量和預設處理器中的數據，測算出所述待測光源的第一波長。本發明通過將待測光源輸入起偏器，得到待測線偏振光，并將待測線偏振光輸入固定光路得到第一干涉條紋的數量，再根據第一干涉條紋的數量和預設處理器中的數據，測算出待測光源的第一波長，降低了波長測算的成本。

技術領域

本發明涉及光通信技術領域，尤其涉及波長測算方法、裝置、設備與計算機可讀存儲介質。

背景技術

在光纖通信領域中，激光器作為關鍵核心部件在各種產品中大范圍應用，各種應用環境對激光器波長都有不同的要求，測量激光器波長是每一個光模塊廠商都必須要做的基本測試，現有測量儀器如波長計，光譜儀等都能實現光波長的精確測量，但是由于波長計和光譜儀購買成本較高，且體積龐大，因此如何降低波長測算的成本，是急需解決的問題。

發明內容

本發明的主要目的在于提出一種波長測算方法、裝置、設備與計算機可讀存儲介質，旨在解決如何降低波長測算的成本的問題。

為實現上述目的，本發明提供一種波長測算方法，所述波長測算方法包括如下步驟：

在檢測到測算指令時，將待測光源輸入起偏器，得到待測線偏振光；

將所述待測線偏振光輸入固定光路，得到第一干涉條紋的數量，并根據所述第一干涉條紋的數量和預設處理器中的數據，測算出所述待測光源的第一波長。

優選地，在檢測到測算指令時，將待測光源輸入起偏器，得到待測線偏振光的步驟之前，所述波長測算方法還包括：

獲取標準光源的第二波長，并將所述第二波長儲存到所述預設處理器中；

將所述標準光源輸入所述起偏器，得到具有初始相位的標準線偏振光；

將所述標準線偏振光輸入所述固定光路，得到第二干涉條紋，并統計所述第二干涉條紋的數量，將所述第二干涉條紋的數量儲存到所述預設處理器中。

優選地，將待測光源輸入起偏器，得到待測線偏振光的步驟包括：

將所述待測光源輸入所述起偏器，使得所述待測光源發生偏振并轉換為所述待測線偏振光，所述待測線偏振光具有與所述標準線偏振光相同的所述初始相位。

優選地，將所述待測線偏振光輸入固定光路，得到第二干涉條紋數量的步驟包括：

將所述待測線偏振光輸入所述固定光路，使得所述待測線偏振光同時輸入所述固定光路中的第一光路和第二光路，所述第一光路與所述第二光路存在光程差；

將通過所述第一光路和所述第二光路的所述待測線偏振光投射到預設擋板上，得到所述第一干涉條紋，并統計所述第一干涉條紋的數量。

優選地，統計所述第一干涉條紋的數量的步驟包括：

通過紅外CCD相機對所述預設擋板上的所述第一干涉條紋進行掃描操作，得到所述第一干涉條紋對應的掃描結果；

對所述掃描結果進行預設操作，得到所述第一干涉條紋的數量。

優選地，根據所述第一干涉條紋的數量和預設處理器中的數據，測算出所述待測光源的第一波長的步驟包括：

獲取所述預設處理器中所述第二波長和所述第二干涉條紋的數量，并根據所述第二波長、所述第二干涉條紋的數量和所述第一干涉條紋的數量，測算出所述待測光源的所述第一波長。