[發(fā)明專利]充電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110866545.0
• 申請(qǐng)日: 2021-07-29
• 公開（公告）號(hào): CN113589080A
• 公開（公告）日: 2021-11-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張婷婷;符鋒
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 恩施冠易科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00;G01R31/12
• 代理公司: 武漢知產(chǎn)時(shí)代知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42238
• 代理人: 王佩

本發(fā)明涉及自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域，提供一種充電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法，包括：上位機(jī)、集中控制板、交流電源、輸入管理模塊、第一測(cè)試單元、第二測(cè)試單元、第三測(cè)試單元、輸入開關(guān)單元、待測(cè)單元、負(fù)載開關(guān)單元和測(cè)試負(fù)載單元；輸入管理模塊與第一測(cè)試單元、第二測(cè)試單元和第三測(cè)試單元電性連接；第一測(cè)試單元與輸入開關(guān)單元和負(fù)載開關(guān)單元電性連接；第二測(cè)試單元和第三測(cè)試單元與輸入開關(guān)單元電性連接；輸入開關(guān)單元與待測(cè)單元電性連接；待測(cè)單元與負(fù)載開關(guān)單元電性連接；負(fù)載開關(guān)單元與測(cè)試負(fù)載單元電性連接。本發(fā)明可以同時(shí)對(duì)大量充電器同時(shí)進(jìn)行耐壓測(cè)試、電性能測(cè)試和老化測(cè)試，節(jié)約了充電器的測(cè)試成本，同時(shí)減少了充電器的整體測(cè)試時(shí)間。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種充電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

傳統(tǒng)的充電器測(cè)試方法是通過人工對(duì)每個(gè)充電器依次進(jìn)行耐壓測(cè)試、電性能測(cè)試和老化測(cè)試，存在著人力成本過高、無法大批量的集中測(cè)試以及無法對(duì)多個(gè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行同時(shí)測(cè)試的問題。

上述內(nèi)容僅用于輔助理解本發(fā)明的技術(shù)方案，并不代表承認(rèn)上述內(nèi)容是現(xiàn)有技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于，解決現(xiàn)有技術(shù)中人力成本過高、無法大批量的集中測(cè)試以及無法對(duì)多個(gè)測(cè)試項(xiàng)進(jìn)行同時(shí)測(cè)試的技術(shù)問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種充電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，包括：上位機(jī)、集中控制板、交流電源、輸入管理模塊、第一測(cè)試單元、第二測(cè)試單元、第三測(cè)試單元、輸入開關(guān)單元、待測(cè)單元、負(fù)載開關(guān)單元和測(cè)試負(fù)載單元；

所述上位機(jī)與所述集中控制板電性連接，所述集中控制板與所述輸入管理模塊、所述第一測(cè)試單元、所述第二測(cè)試單元、所述第三測(cè)試單元、輸入開關(guān)單元、待測(cè)單元、負(fù)載開關(guān)單元和測(cè)試負(fù)載單元電性連接；

所述交流電源與所述輸入管理模塊電性連接；所述輸入管理模塊與所述第一測(cè)試單元、所述第二測(cè)試單元和所述第三測(cè)試單元均電性連接；所述第一測(cè)試單元與所述輸入開關(guān)單元和所述負(fù)載開關(guān)單元電性連接；所述第二測(cè)試單元與輸入開關(guān)單元電性連接；所述第三測(cè)試單元與所述輸入開關(guān)單元電性連接；所述輸入開關(guān)單元與所述待測(cè)單元電性連接；所述待測(cè)單元與所述負(fù)載開關(guān)單元電性連接；所述負(fù)載開關(guān)單元與所述測(cè)試負(fù)載單元電性連接。

優(yōu)選地，所述輸入開關(guān)單元包括n個(gè)輸入開關(guān)，具體為：輸入開關(guān)1至輸入開關(guān)n；

所述負(fù)載開關(guān)單元包括n個(gè)負(fù)載開關(guān)，具體為：負(fù)載開關(guān)1至負(fù)載開關(guān)n；

所述待測(cè)單元包括n個(gè)充電器插槽，具體為：充電器插槽1至充電器插槽n；

所述測(cè)試負(fù)載單元包括：可調(diào)負(fù)載、可調(diào)負(fù)載檢測(cè)模塊和n個(gè)負(fù)載，具體為：負(fù)載1至負(fù)載n；

所述第一測(cè)試單元包括：升壓模塊、高壓檢測(cè)模塊和高壓開關(guān)，所述升壓模塊與所述高壓檢測(cè)模塊和所述高壓開關(guān)電性連接；

所述第二測(cè)試單元包括：第一可調(diào)電源、低壓檢測(cè)模塊和第一低壓開關(guān)，所述第一可調(diào)電源與所述低壓檢測(cè)模塊和所述第一低壓開關(guān)；

所述第三測(cè)試單元包括：第二可調(diào)電源和第二低壓開關(guān)，所述第二可調(diào)電源與所述低壓檢測(cè)模塊和所述第二低壓開關(guān)電性連接。

優(yōu)選地，所述輸入管理模塊與所述第一測(cè)試單元、所述第二測(cè)試單元和所述第三測(cè)試單元均電性連接；所述第一測(cè)試單元與所述輸入開關(guān)單元和所述負(fù)載開關(guān)單元電性連接；所述第二測(cè)試單元與輸入開關(guān)單元電性連接；所述第三測(cè)試單元與所述輸入開關(guān)單元電性連接，具體為：

所述輸入管理模塊與所述升壓模塊、所述第一可調(diào)電源和所述第二可調(diào)電源電性連接；

所述高壓開關(guān)的A端與所述輸入開關(guān)單元中的各所述輸入開關(guān)均電性連接，所述高壓開關(guān)的B端與所述負(fù)載開關(guān)單元中的各所述負(fù)載開關(guān)均電性連接；