[發明專利]一種電容液位計及液位測量方法、系統、存儲介質

在審

• 申請號: 202110866423.1
• 申請日: 2021-07-29
• 公開（公告）號: CN113503938A
• 公開（公告）日: 2021-10-15
• 發明（設計）人: 朱三江
• 申請（專利權）人: 湖南銥鏑艾姆流體科技有限公司
• 主分類號: G01F23/26
• 分類號: G01F23/26
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 趙琴娜

1.一種電容液位計，其特征在于，包括：

內電極，包括多個首尾依次相鄰設置的內子電極，且相鄰兩個所述內子電極之間絕緣，多個所述內子電極的高度相等，每個所述內子電極皆具有用于獨立連接變送器的信號輸出端；

外電極，與所述內電極同軸設置，用于與每個所述內子電極形成子電容。

2.根據權利要求1所述的電容液位計，其特征在于，所述電容液位計還包括中間絕緣體，多個所述內子電極依次交錯布置所述中間絕緣體上。

3.根據權利要求1所述的電容液位計，其特征在于，所述內電極包括的所述內子電極的數量至少為5個。

4.根據權利要求1或3所述的電容液位計，其特征在于，每個所述內子電極的高度至少為30mm。

5.根據權利要求1所述的電容液位計，其特征在于，每個所述內子電極采用金屬圓棒或金屬圓管。

6.一種液位測量方法，基于如權利要求1至5任一所述的電容液位計，其特征在于，包括以下步驟：

獲取每個所述子電容的電容值，所述子電容總數為L，其中，完全處于第一介質中的所述子電容的電容值為第一電容值，完全處于第二介質中的所述子電容的電容值為第二電容值，與液面對應的所述子電容的電容值為第三電容值；

依據第一電容值確定L個所述子電容中完全處于所述第一介質中的所述子電容的數目M；

依據所述第一電容值、所述第二電容值、所述第三電容值以及所述內子電極的高度數據計算出與液面對應的所述子電容的相對高度信息；

依據每個所述子電容的高度數據、所述數目M和所述相對高度信息計算出實際液位高度。

7.根據權利要求6所述的液位測量方法，其特征在于，計算出與液面對應的所述子電容的相對高度信息的約束公式為：

h_d＝(E-B)h/(A-B)

式中，h_d為所述相對高度信息，A為所述第一電容值，B為所述第二電容值，E為所述第三電容值。

8.根據權利要求6所述的液位測量方法，其特征在于，確定所述第一介質為待測液體，所述依據每個所述子電容的高度數據、所述數目M和所述相對高度信息計算出實際液位高度包括以下步驟：

依據所述數目M計算出第一高度信息；

利用所述第一高度信息和所述相對高度信息計算出所述實際液位高度。

9.一種液位測量系統，其特征在于，包括：

如權利要求1至5任一所述的電容液位計；

變送器，分別與多個所述內子電容連接；

處理器，與所述變送器連接，用于獲取變送器采集的多個所述子電容的電容值并計算出所述電容液位計檢測的實際液位高度。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于：所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機可執行指令，所述計算機可執行指令用于使計算機執行如權利要求6至8任一所述的一種液位測量方法。