[發(fā)明專利]一種用于實(shí)現(xiàn)高分辨的大口徑拼接主鏡光學(xué)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110853193.5 | 申請(qǐng)日: | 2021-07-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113568151A | 公開(公告)日: | 2021-10-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王臣臣;謝遠(yuǎn);張蕾;王文成;田曉;張陳俊;魏麗敏;李香草 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安航空學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G02B17/02 | 分類號(hào): | G02B17/02;G02B17/06;G02B27/00 |
| 代理公司: | 北京金智普華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11401 | 代理人: | 巴曉艷 |
| 地址: | 710089 *** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 實(shí)現(xiàn) 分辨 口徑 拼接 光學(xué)系統(tǒng) | ||
1.一種用于實(shí)現(xiàn)高分辨的大口徑拼接主鏡光學(xué)系統(tǒng),其特征在于,所述光學(xué)系統(tǒng)沿光線傳播方向依次包括第一拼接反射主鏡、第二反射鏡、第三反射鏡和折軸鏡;
所述第一拼接反射主鏡和所述第二反射鏡相對(duì)設(shè)置,兩者之間的距離大于所述第二反射鏡的焦距;
所述第三反射鏡和所述折軸鏡分設(shè)在所述第一拼接反射主鏡的兩側(cè),且所述折軸鏡設(shè)置在所述第二反射鏡的焦點(diǎn)與所述第一拼接反射主鏡之間;
所述系統(tǒng)在所述折軸鏡的焦面上成像。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于實(shí)現(xiàn)高分辨的大口徑拼接主鏡光學(xué)系統(tǒng),其特征在于,所述第一拼接反射主鏡由若干子鏡拼接而成;每個(gè)子鏡相互獨(dú)立,所有子鏡對(duì)稱分布,對(duì)系統(tǒng)成像產(chǎn)生的影響能夠疊加。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于實(shí)現(xiàn)高分辨的大口徑拼接主鏡光學(xué)系統(tǒng),其特征在于,所述子鏡的個(gè)數(shù)為4個(gè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于實(shí)現(xiàn)高分辨的大口徑拼接主鏡光學(xué)系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)采用偏視場(chǎng),防止所述第三反射鏡的反射光線被遮擋。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于實(shí)現(xiàn)高分辨的大口徑拼接主鏡光學(xué)系統(tǒng),其特征在于,所述第一拼接反射主鏡光學(xué)特性為:-0.25f′<f′1<-0.075f′,-0.5f′<R1<-0.15f′;所述第二反射鏡的光學(xué)特性為:-0.025f′<f′2<-0.005f′,-0.05f′<R2<-0.01f′;所述第三反射鏡的光學(xué)特性為:-0.025f′<f′3<-0.01f′,-0.05f′<R3<-0.02f′;所述折軸鏡的光學(xué)特性為:f′4=∞,R4=∞;
其中,f′為系統(tǒng)焦距,f′1、f′2、f′3、f′4均為焦距;R1、R2、R3、R4均為曲率半徑。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于實(shí)現(xiàn)高分辨的大口徑拼接主鏡光學(xué)系統(tǒng),其特征在于,所述第一拼接反射主鏡的填充因子小于1,有效口徑小于6m。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于實(shí)現(xiàn)高分辨的大口徑拼接主鏡光學(xué)系統(tǒng),其特征在于,所述子鏡為圓形凹面鏡。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于實(shí)現(xiàn)高分辨的大口徑拼接主鏡光學(xué)系統(tǒng),其特征在于,所述光學(xué)系統(tǒng)焦距為75-85m,視場(chǎng)大小為0.1°×0.3°-0.3°×0.5°,口徑為5.5-6.5m,探測(cè)器像元尺寸大小為5-15μm。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于實(shí)現(xiàn)高分辨的大口徑拼接主鏡光學(xué)系統(tǒng),其特征在于,所述光學(xué)系統(tǒng)成像譜段覆蓋0.5-1.2μm。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于實(shí)現(xiàn)高分辨的大口徑拼接主鏡光學(xué)系統(tǒng),其特征在于,在整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)存在無法校正的像差的條件下,能夠通過所述光學(xué)系統(tǒng)的成像結(jié)果對(duì)成像質(zhì)量進(jìn)行分析;分析方式為成像亮斑尺寸對(duì)比、傳遞函數(shù)曲線分析和波前圖分析。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于西安航空學(xué)院,未經(jīng)西安航空學(xué)院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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