[發明專利]電容壽命檢測方法、裝置及終端設備在審
| 申請號: | 202110849903.7 | 申請日: | 2021-07-27 |
| 公開(公告)號: | CN113608046A | 公開(公告)日: | 2021-11-05 |
| 發明(設計)人: | 吳慶彬;上官昌焜;楊燕芬 | 申請(專利權)人: | 科華數據股份有限公司;漳州科華電氣技術有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 河北國維致遠知識產權代理有限公司 13137 | 代理人: | 彭競馳 |
| 地址: | 361101 福建省廈*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電容 壽命 檢測 方法 裝置 終端設備 | ||
1.一種電容壽命檢測方法,其特征在于,包括:
獲取目標電路在空載狀態和帶載狀態下的控制信息、待檢測電容在目標檢測時段的主路電流值和鄰近支路電流值,并基于目標電路在空載狀態和帶載狀態下的控制信息對所述主路電流值進行優化,基于優化后的主路電流值以及所述鄰近支路電流值確定待檢測電容在目標檢測時段的電流值;其中,所述主路電流值為所述待檢測電容對應主路的電流值,所述鄰近支路電流值為與所述待檢測電容所在支路相鄰的各條支路的電流總值,所述目標電路為所述待檢測電容所在的整個電路,包含待檢測電容對應主路、待檢測電容所在支路、待檢測電容對應的鄰近支路;
獲取待檢測電容在目標檢測時段的電壓值,并基于目標電路在空載狀態和帶載狀態下的控制信息對待檢測電容在目標檢測時段的電壓值進行優化;
根據優化后的待檢測電容在目標檢測時段的電壓值、待檢測電容在目標檢測時段的電流值確定待檢測電容在目標檢測時段的電容值,基于待檢測電容在目標檢測時段的電容值確定待檢測電容的壽命。
2.如權利要求1所述的電容壽命檢測方法,其特征在于,若目標電路為開關電路且所述待檢測電容對應主路包含電感,所述控制信息為目標電路對應的開關占空比,則基于目標電路在空載狀態和帶載狀態下的控制信息對所述主路電流值進行優化,包括:
獲取目標檢測時段內所述電感的電感電流;
基于目標電路在空載狀態和帶載狀態下對應的開關占空比的差值、以及所述電感電流對所述主路電流值進行優化;
相應的,基于目標電路在空載狀態和帶載狀態下的控制信息對待檢測電容在目標檢測時段的電壓值進行優化,包括:
基于目標電路在空載狀態和帶載狀態下對應的開關占空比的差值對待檢測電容在目標檢測時段的電壓值進行優化。
3.如權利要求2所述的電容壽命檢測方法,其特征在于,根據下式對所述主路電流值進行優化:
其中,i主(t)為優化前的主路電流值,i'主(t)為優化后的主路電流值,PWM0、PWMload分別為目標電路在空載狀態和帶載狀態下對應的開關占空比,iL(t)為目標檢測時段內所述電感的電感電流;
相應的,根據下式對待檢測電容在目標檢測時段的電壓值進行優化:
其中,u(t)為優化前的電壓值,u'(t)為優化后的電壓值,PWM0、PWMload分別為目標電路在空載狀態和帶載狀態下對應的開關占空比。
4.如權利要求1所述的電容壽命檢測方法,其特征在于,所述基于待檢測電容在目標檢測時段的電容值確定待檢測電容的壽命,包括:
獲取待檢測電容的運行標識量;
若所述運行標識量為第一標識量,則基于待檢測電容在目標檢測時段的電容值、以及預設的理論電容值確定待檢測電容的壽命;
若所述運行標識量為第二標識量,則獲取待檢測電容的預計環境溫度值、預計工作電壓值、預計電壓紋波頻率,并基于所述預計環境溫度值、預計工作電壓值、預計電壓紋波頻率、待檢測電容在目標檢測時段的電容值確定待檢測電容的壽命;
其中,所述第一標識量表示待檢測電容的工作電壓和環境溫度在預設時段內的變化幅度小于預設值,所述第二標識量表示待檢測電容的工作電壓和/或環境溫度在預設時段內的變化幅度不小于預設值。
5.如權利要求4所述的電容壽命檢測方法,其特征在于,所述基于待檢測電容在目標檢測時段的電容值、以及預設的理論電容值確定待檢測電容的壽命,包括:
計算待檢測電容在目標檢測時段的電容值的平均值,并根據所述平均值與預設的理論電容值的比值確定待檢測電容的壽命。
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