[發(fā)明專利]一種應(yīng)用于熱處理設(shè)備的晶圓傳輸調(diào)度的裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110839378.0 | 申請(qǐng)日: | 2021-07-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113571463A | 公開(公告)日: | 2021-10-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 尹明清 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市星國(guó)華先進(jìn)裝備科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/683 | 分類號(hào): | H01L21/683;H01L21/67 |
| 代理公司: | 合肥國(guó)晟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 34204 | 代理人: | 戈余麗 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍華區(qū)觀*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 應(yīng)用于 熱處理 設(shè)備 傳輸 調(diào)度 裝置 方法 | ||
1.一種應(yīng)用于熱處理設(shè)備的晶圓傳輸調(diào)度的裝置,包括一側(cè)貫穿進(jìn)入熱處理設(shè)備內(nèi)部的橫向輸送機(jī)構(gòu)(1),其特征在于,還包括:
機(jī)械臂(2),吊裝設(shè)置在所述橫向輸送機(jī)構(gòu)(1)下方,并且由所述橫向輸送機(jī)構(gòu)(1)驅(qū)動(dòng)進(jìn)行循環(huán)移動(dòng);
非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3),固定設(shè)置在所述機(jī)械臂(2)遠(yuǎn)離所述橫向輸送機(jī)構(gòu)(1)的一端,用于采用非接觸的方式拿取晶圓;
所述非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)由所述機(jī)械臂(2)控制進(jìn)行移動(dòng);
熱風(fēng)機(jī)(4),設(shè)置在所述機(jī)械臂(2)頂端,通過金屬軟管與所述非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)連接,用于向所述非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)提供氣流;
所述非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)包括多個(gè)負(fù)壓噴頭(31),所述負(fù)壓噴頭(31)與所述熱風(fēng)機(jī)(4)管路連接,所述負(fù)壓噴頭(31)用于噴出氣流對(duì)晶圓進(jìn)行吸附。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種應(yīng)用于熱處理設(shè)備的晶圓傳輸調(diào)度的裝置,其特征在于:所述非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)還包括測(cè)溫探頭(32),所述測(cè)溫探頭(32)用于檢測(cè)負(fù)壓噴頭(31)吸附的晶圓的溫度;
所述機(jī)械臂(2)根據(jù)測(cè)溫探頭(32)測(cè)得的晶圓的溫度,改變機(jī)械臂(2)的姿態(tài),控制所述機(jī)械臂(2)操作端的高度;
機(jī)械臂(2)通過控制操作端的高度,控制所述非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)距離熱處理設(shè)備發(fā)熱端的距離。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種應(yīng)用于熱處理設(shè)備的晶圓傳輸調(diào)度的裝置,其特征在于:所述非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)還包括通氣殼體(33),所述通氣殼體(33)內(nèi)部設(shè)置有通氣主管(331),所述通氣主管(331)與多個(gè)所述負(fù)壓噴頭(31)之間均設(shè)置有通氣支管(332);
所述通氣殼體(33)頂部均設(shè)置有氣流連接口(333),所述氣流連接口(333)通過金屬軟管與所述熱風(fēng)機(jī)(4)之間連通,所述氣流連接口(333)用于連通熱風(fēng)機(jī)(4)向所述通氣主管(331)提供高溫高速氣流;
多個(gè)所述通氣支管(332)用于將通氣主管(331)的氣流分別送入對(duì)應(yīng)的所述負(fù)壓噴頭(31)中噴出。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種應(yīng)用于熱處理設(shè)備的晶圓傳輸調(diào)度的裝置,其特征在于:多個(gè)所述通氣支管(332)的連通路徑長(zhǎng)度均相同。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種應(yīng)用于熱處理設(shè)備的晶圓傳輸調(diào)度的裝置,其特征在于:所述負(fù)壓噴頭(31)內(nèi)部均設(shè)置有接觸識(shí)別機(jī)構(gòu)(311),所述接觸識(shí)別機(jī)構(gòu)(311)用于檢測(cè)晶圓是否與所述負(fù)壓噴頭(31)接觸,并且在晶圓與所述負(fù)壓噴頭(31)接觸時(shí)發(fā)出接觸信號(hào);
所述熱風(fēng)機(jī)(4)根據(jù)是否存在所述接觸信號(hào),調(diào)整輸出的氣流的流速。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種應(yīng)用于熱處理設(shè)備的晶圓傳輸調(diào)度的裝置,其特征在于:所述接觸識(shí)別機(jī)構(gòu)(311)包括接觸銷(312)、壓力傳感器(313)和回復(fù)彈簧(314);
所述接觸銷(312)一端通過回復(fù)彈簧(314)與負(fù)壓噴頭(31)的內(nèi)壁之間連接;
所述接觸銷(312)另一端設(shè)置有接觸頭(315),所述接觸頭(315)使用軟性材料制成;
所述壓力傳感器(313)設(shè)置在所述負(fù)壓噴頭(31)的內(nèi)壁,所述接觸銷(312)向所述負(fù)壓噴頭(31)內(nèi)部移動(dòng)時(shí),對(duì)所述壓力傳感器(313)產(chǎn)生壓力;
所述壓力傳感器(313)受到壓力后發(fā)出接觸信號(hào)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種應(yīng)用于熱處理設(shè)備的晶圓傳輸調(diào)度的裝置,其特征在于:所述橫向輸送機(jī)構(gòu)(1)按照其是否設(shè)置在熱處理設(shè)備內(nèi)部分為高溫處理段(11)和低溫回復(fù)段(12);
所述橫向輸送機(jī)構(gòu)(1)上設(shè)置有環(huán)形導(dǎo)軌,所述環(huán)形導(dǎo)軌驅(qū)動(dòng)所述機(jī)械臂(2)在所述環(huán)形導(dǎo)軌內(nèi)部循環(huán)移動(dòng);
所述熱風(fēng)機(jī)(4)根據(jù)晶圓位于高溫處理段(11)或低溫回復(fù)段(12)的不同狀態(tài),控制供給所述非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)的氣流溫度。
8.一種應(yīng)用于熱處理設(shè)備晶圓傳輸調(diào)度的方法,使用了權(quán)利要求1-7的裝置,其特征在于,包括:
S1.通過橫向輸送機(jī)構(gòu)(1)將機(jī)械臂(2)移動(dòng)至待熱處理的晶圓上方;
S2.通過熱風(fēng)機(jī)(4)向非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)供給高速氣流,非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)噴出高速氣流吸附待熱處理的晶圓;
S3.通過橫向輸送機(jī)構(gòu)(1)將非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)吸附的晶圓輸送至熱處理設(shè)備中進(jìn)行熱處理;
S4.測(cè)溫探頭(32)探測(cè)晶圓的溫度,機(jī)械臂(2)根據(jù)晶圓的溫度,調(diào)整晶圓與熱處理設(shè)備的發(fā)熱端的距離;
S5.在晶圓熱處理過程中,通過橫向輸送機(jī)構(gòu)(1)帶動(dòng)晶圓在熱處理設(shè)備中移動(dòng),在晶圓熱處理一定時(shí)間后,通過機(jī)械臂(2)和非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)將晶圓移出熱處理裝置;
S6.晶圓移出熱處理裝置后,熱風(fēng)機(jī)(4)通過非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)仍舊對(duì)晶圓進(jìn)行熱風(fēng)加熱,使晶圓緩慢降溫;
S7.晶圓抵達(dá)晶圓收集處后,熱風(fēng)機(jī)(4)緩慢停止對(duì)非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)供給氣流,非接觸式拿取機(jī)構(gòu)(3)不再產(chǎn)生吸附作用,將晶圓放下。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
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H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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