[發(fā)明專利]一種測試電路板在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202110838421.1 | 申請日: | 2021-07-23 |
| 公開(公告)號: | CN113625007A | 公開(公告)日: | 2021-11-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 夏歡;張勇 | 申請(專利權(quán))人: | 金動力智能科技(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 廣州一銳專利代理有限公司 44369 | 代理人: | 甘奎強(qiáng) |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市龍華區(qū)*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測試 電路板 | ||
本發(fā)明具體公開了一種測試電路板,應(yīng)用于被動元器件,包括基板和導(dǎo)電接觸件,基板包括相對設(shè)置的基板正面和基板背面,基板正面設(shè)置有用于與測試接頭連接的焊盤和測試電路,焊盤和測試電路電連接,導(dǎo)電接觸件和測試電路對應(yīng)接觸連接。本發(fā)明將待測的被動元器件放置到導(dǎo)電接觸件上,被動元器件的引腳與導(dǎo)電接觸件保持緊密連接,導(dǎo)電接觸件與基板上的測試電路保持緊密連接,通過測試接頭連接相關(guān)的監(jiān)測設(shè)備后可對被動元器件進(jìn)行測試,能夠?qū)崿F(xiàn)被動元器件測試時無損傷、接觸良好、不短路和操作可靠,從而保證了測試精度和測試結(jié)果,測試省時省力。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及被動元器件檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種測試電路板。
背景技術(shù)
隨著電子產(chǎn)品的應(yīng)用普及,被動元器件的應(yīng)用量越來越大,為了保證被動元器件的可靠性和性能,被動元器件的測試是必不可少的過程。濾波器作為常見的被動元器件之一,由于是微波器件,尺寸較小,目前濾波器的測試時采用的方法是通常直接將測試線焊在電路板的接觸點上,因為濾波器尺寸較小時無法完成焊接且特別容易短路,這種測試方法存在著嚴(yán)重的不足,在焊接的過程中破壞了電路板本身的屬性,且費時費力,測試過程容易出錯,從而會影響到測試精度和測試結(jié)果。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種測試電路板,能夠避免被動元器件測試時損傷和短路的現(xiàn)象,保證被動元器件的測試精度和測試結(jié)果,以克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題。
一種測試電路板,應(yīng)用于被動元器件,包括基板和導(dǎo)電接觸件,所述基板包括相對設(shè)置的基板正面和基板背面,所述基板正面設(shè)置有用于與測試接頭連接的焊盤和測試電路,所述焊盤和所述測試電路電連接,所述導(dǎo)電接觸件和所述測試電路對應(yīng)接觸連接。
根據(jù)本發(fā)明的實施例,所述基板為雙層板或多層板。
根據(jù)本發(fā)明的實施例,所述測試電路利用印刷電路的方式設(shè)置于所述基板正面。
根據(jù)本發(fā)明的實施例,所述基板的特性阻抗Z為47.5-53歐姆
根據(jù)本發(fā)明的實施例,還包括絕緣的測試底座,所述測試底座和所述基板可拆卸連接。
根據(jù)本發(fā)明的實施例,所述基板設(shè)置有第一安裝孔,所述測試底座設(shè)置有與所述第一安裝孔配合的第二安裝孔,所述基板通過緊固螺絲、第一安裝孔和第二安裝孔的配合固定于所述測試底座上;所述基板設(shè)置有第一定位孔,所述測試底座設(shè)置有與所述第一定位孔配合的第二定位孔,所述基板通過定位銷釘依次穿過第一定位孔和第二定位孔,將基板定位在測試底座上。
根據(jù)本發(fā)明的實施例,還包括多個用于對所述基板形成多點固定狀態(tài)的測試SMA接頭,多個所述測試SMA接頭可移動安裝于所述測試底座上。
根據(jù)本發(fā)明的實施例,所述基板的背面設(shè)置有多個導(dǎo)通孔。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明將待測的被動元器件放置到導(dǎo)電接觸件上,被動元器件的引腳與導(dǎo)電接觸件保持緊密連接,導(dǎo)電接觸件與基板上的測試電路保持緊密連接,通過測試接頭連接相關(guān)的監(jiān)測設(shè)備后可對被動元器件進(jìn)行測試,能夠?qū)崿F(xiàn)被動元器件測試時無損傷、接觸良好、不短路和操作可靠,從而保證了測試精度和測試結(jié)果,測試省時省力。
附圖說明
圖1為實施例1提供的基板和導(dǎo)電接觸件的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為實施例1提供的測試電路板的整體結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3為實施例1提供的基板和測試底座的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖4為實施例3提供的一種測試電路板的結(jié)構(gòu)示意圖。
附圖標(biāo)記說明:1、基板;2、導(dǎo)電接觸件;3、焊盤;4、測試電路;5、測試底座;6、導(dǎo)通孔; 10、基板正面;11、基板背面;12、第一安裝孔;13、第一定位孔;50、第二安裝孔;51、第二定位孔。
具體實施方式
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
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