[發明專利]基于泥漿氣同位素錄井的地層熱成熟度評估方法和系統

在審

• 申請號: 202110831457.7
• 申請日: 2021-07-22
• 公開（公告）號: CN113530535A
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發明（設計）人: 仰云峰;張煥旭;朱地;瞿煜揚;李行
• 申請（專利權）人: 科正檢測(蘇州)有限公司
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/00
• 代理公司: 蘇州市中南偉業知識產權代理事務所(普通合伙) 32257
• 代理人: 李柏柏

本發明公開了一種基于泥漿氣同位素錄井的地層熱成熟度評估方法和系統，方法包括在鉆井時開展泥漿氣同位素錄井獲得泥漿氣同位素值，取心獲得巖心樣品；通過分析巖心樣品得到地層的等效鏡質體反射率值，通過泥漿氣同位素值和等效鏡質體反射率值之間的變化關系建立兩者間的關系式；通過關系式推算出其他探井地層的等效鏡質體反射率值，將等效鏡質體反射率值與鏡質體反射率序列進行比對獲得地層的熱成熟度。系統包括處理器、內存、泥漿氣同位素錄井探測裝置和等效鏡質體反射率值檢測裝置。本發明在探井時進行泥漿氣同位素錄井并建立泥漿氣同位素值與等效鏡質體反射率值之間的關系式推算地層的熱成熟度，降低探測成本，提高評估的準確性。

技術領域

本發明涉及資源勘探與開發技術領域，具體涉及一種基于泥漿氣同位素錄井的地層熱成熟度評估方法和系統。

背景技術

石油、天然氣和其他地下資源的勘探與開發需要消耗巨大的財力和大量的時間，給尋找例如頁巖氣、致密甜點區等能夠形成商業開發價值的潛在區域帶來很多困難。同時，現有技術無法準確區分探測區域的不同地層特征，提供給鉆孔選址和后期生產的信息非常有限，也給潛在區域的開發帶來不便。熱成熟度是評估烴源巖生烴潛力的重要參數之一，因此在開發潛在區域的時候常常使用熱成熟度來評估潛在區域的開發價值。常見的例如取芯等技術都是使用地層的熱成熟度來區分不同的地層特征的，但是這些技術的實際操作大都效率低下，并且會耗費巨大的時間和財力成本。

在地層熱成熟度的評估過程中，通常使用烴類來對地層的熱成熟度進行評估。但是在通常情況下，烴類與其他來源的烴類混合、重力分異或者組分分餾后化學指示作用就會受到不可改變的破壞。因此在進行地層熱成熟度的評估過程中，一旦烴類從源巖中排出或運移至其他地方，想要再確定地層的熱成熟度就變得非常困難。

發明內容

為此，本發明所要解決的技術問題在于克服現有技術中的不足，提供一種在探井時使用泥漿氣同位素錄井和等效鏡質體反射率值建立關系式，并由關系式對探區的地層熱成熟度進行評估，降低勘探成本的同時準確獲得地層熱成熟度的基于泥漿氣同位素錄井的評估地層熱成熟度的方法和系統。

為解決上述技術問題，本發明提供了一種基于泥漿氣同位素錄井的地層熱成熟度評估方法，包括：

步驟1：對探區進行鉆井的同時開展泥漿氣同位素錄井獲得泥漿氣同位素值，對探井取心獲得巖心樣品；

步驟2：通過分析巖心樣品得到地層的等效鏡質體反射率值，

步驟3：根據泥漿氣的成分選擇泥漿氣同位素值，通過泥漿氣同位素值和等效鏡質體反射率值之間的變化關系建立兩者之間的關系式；

步驟4：獲取探區內其他探井地層的泥漿氣同位素值，通過泥漿氣同位素值和等效鏡質體反射率值之間的關系式推算出探區內其他探井地層的等效鏡質體反射率值，將推算出的等效鏡質體反射率值與鏡質體反射率序列進行比對獲得地層的熱成熟度。

進一步地，所述步驟1中對探區進行鉆井的同時開展泥漿氣同位素錄井獲得泥漿氣同位素值時，對探區進行多口探井的鉆探并對每口探井開展泥漿氣同位素錄井獲得泥漿氣同位素值，對探井取心獲得巖心樣品時獲取每口探井的巖心樣品；

所述步驟3中通過泥漿氣同位素值和等效鏡質體反射率值之間的變化關系建立兩者之間的關系式時，使用的泥漿氣同位素值為每口井泥漿氣同位素值的平均值，使用的等效鏡質體反射率值為每口井等效鏡質體反射率值的平均值。

進一步地，所述步驟2中通過分析巖心樣品得到地層的等效鏡質體反射率值，具體為直接測定巖心樣品中有機質顆粒的反射率值，作為巖心樣品的等效鏡質體反射率值。

進一步地，所述步驟2中通過分析巖心樣品得到地層的等效鏡質體反射率值，具體為對缺乏有機質顆粒的巖心樣品進行巖石熱解分析，獲得烴類生成最大速率對應的溫度值T_max，判斷巖心樣品的有機質類型；