[發(fā)明專利]一種材料內(nèi)缺陷檢測(cè)裝置和其缺陷檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202110823908.2
• 申請(qǐng)日: 2021-07-21
• 公開（公告）號(hào): CN113484406A
• 公開（公告）日: 2021-10-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 錢正春;曾恒煒;葛英飛;成煥波;鄧正平
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 南京工程學(xué)院
• 主分類號(hào): G01N27/82
• 分類號(hào): G01N27/82
• 代理公司: 南京鐘山專利代理有限公司 32252
• 代理人: 戴朝榮

1.一種材料內(nèi)缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：外加磁場(chǎng)激勵(lì)模塊、信號(hào)檢測(cè)模塊、運(yùn)動(dòng)控制模塊、數(shù)據(jù)采集模塊(16)、上位機(jī)(15)、底板(7)、支架(9)，所述外加磁場(chǎng)激勵(lì)模塊設(shè)置于底板(7)上，所述底板(7)的兩側(cè)均設(shè)有支架(9)，所述支架(9)與信號(hào)檢測(cè)模塊連接，所述信號(hào)檢測(cè)模塊位于外加磁場(chǎng)激勵(lì)模塊的上方，所述運(yùn)動(dòng)控制模塊分別與上位機(jī)(15)和信號(hào)檢測(cè)模塊連接，所述數(shù)據(jù)采集模塊(16)分別與信號(hào)檢測(cè)模塊和上位機(jī)(15)連接；所述數(shù)據(jù)采集模塊(16)用于采集信號(hào)檢測(cè)模塊的電壓信號(hào)，并將電壓信號(hào)轉(zhuǎn)化為數(shù)字電壓信號(hào)傳送給上位機(jī)(15)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述材料內(nèi)缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于，所述外加磁場(chǎng)激勵(lì)模塊包括：信號(hào)發(fā)生器(10)、功率放大器(11)、U型磁軛(1)，所述U型磁軛(1)上纏繞勵(lì)磁線圈(2)，所述功率放大器(11)分別與信號(hào)發(fā)生器(10)和勵(lì)磁線圈(2)連接，所述U型磁軛(1)倒置于底板(7)上。

3.據(jù)權(quán)利要求2所述材料內(nèi)缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于，所述勵(lì)磁線圈(2)的匝數(shù)為400匝～1000匝，直徑為0.08mm～1.00mm。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述材料內(nèi)缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于，所述信號(hào)檢測(cè)模塊包括第一滑塊(6)、第二滑塊(8)和磷青銅雙探針(4)，所述磷青銅雙探針(4)與數(shù)據(jù)采集模塊(16)連接，所述磷青銅雙探針(4)設(shè)置于第一滑塊(6)的底部，所述第一滑塊(6)為中空結(jié)構(gòu)，所述第二滑塊(8)貫穿第一滑塊(6)，所述第二滑塊(8)的兩端與支架(9)連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述材料內(nèi)缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于，所述支架(9)上設(shè)有水平滑槽，所述第二滑塊(8)的兩端設(shè)置于水平滑槽中。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述材料內(nèi)缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于，所述磷青銅雙探針(4)沿X軸平行分布，所述磷青銅雙探針(4)之間的間距為10mm～30mm，所述磷青銅雙探針(4)的長(zhǎng)度為5mm～60mm，直徑為0.5mm～5mm。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述材料內(nèi)缺陷檢測(cè)裝置，其特征在于，所述運(yùn)動(dòng)控制模塊包括：X軸步進(jìn)電機(jī)(14)、Y軸步進(jìn)電機(jī)(13)、Z軸步進(jìn)電機(jī)(12)，所述X軸步進(jìn)電機(jī)與第二滑塊(8)連接，所述Y軸步進(jìn)電機(jī)(13)、Z軸步進(jìn)電機(jī)(12)均與第一滑塊(6)連接；所述X軸步進(jìn)電機(jī)(14)、Y軸步進(jìn)電機(jī)(13)、Z軸步進(jìn)電機(jī)(12)均與上位機(jī)(15)連接。