[發(fā)明專利]一種DEH III型控制系統(tǒng)預(yù)制電纜的檢測(cè)裝置及其方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202110810853.1 | 申請(qǐng)日: | 2021-07-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113504434A | 公開(公告)日: | 2021-10-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張淯淏;馬浩;徐雪峰;鮑俊;周泉;施宇冬;肖玲玲;管穎;趙璇;朱佳穎 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華能國(guó)際電力股份有限公司上海石洞口第一電廠 |
| 主分類號(hào): | G01R31/08 | 分類號(hào): | G01R31/08 |
| 代理公司: | 上海科盛知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31225 | 代理人: | 葉敏華 |
| 地址: | 200942 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 deh iii 控制系統(tǒng) 預(yù)制 電纜 檢測(cè) 裝置 及其 方法 | ||
1.一種DEH III型控制系統(tǒng)預(yù)制電纜的檢測(cè)裝置,包括第一DB37母頭(31)、第二DB37母頭(32)、電源模塊(7)、延時(shí)控制模塊(5)、分頻控制模塊(8)和顯示模塊(4),所述第一DB37母頭(31)和第二DB37母頭(32)之間連接有待檢測(cè)的預(yù)制電纜,所述電源模塊(7)分別連接至延時(shí)控制模塊(5)、分頻控制模塊(8),所述延時(shí)控制模塊(5)連接至分頻控制模塊(8),所述分頻控制模塊(8)連接至第一DB37母頭(31),所述第二DB37母頭(32)與顯示模塊(4)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種DEH III型控制系統(tǒng)預(yù)制電纜的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述第一DB37母頭(31)、第二DB37母頭(32)、電源模塊(7)、延時(shí)控制模塊(5)、分頻控制模塊(8)和顯示模塊(4)均安裝于外殼(1)上,所述外殼(1)上還設(shè)置有電源開關(guān)(12)和復(fù)位動(dòng)合按鈕(10),所述電源開關(guān)(12)與電源模塊(7)連接,所述復(fù)位動(dòng)合按鈕(10)分別與延時(shí)控制模塊(5)、分頻控制模塊(8)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種DEH III型控制系統(tǒng)預(yù)制電纜的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述外殼(1)上設(shè)置有螺絲孔(2),所述第一DB37母頭(31)和第二DB37母頭(32)分別通過螺絲與螺絲孔(2)固定連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種DEH III型控制系統(tǒng)預(yù)制電纜的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述外殼(1)上設(shè)置有電池座(6),所述電源模塊(7)安裝于電池座(6)內(nèi),所述外殼(1)上安裝有對(duì)應(yīng)于電源開關(guān)(12)以及復(fù)位動(dòng)合按鈕(10)的指示燈。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種DEH III型控制系統(tǒng)預(yù)制電纜的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述電源模塊(7)具體為9V疊層電池。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種DEH III型控制系統(tǒng)預(yù)制電纜的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述復(fù)位動(dòng)合按鈕(10)包括第一按鈕和第二按鈕,所述第一按鈕與延時(shí)控制模塊(5)連接,所述第二按鈕與分頻控制模塊(8)連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種DEH III型控制系統(tǒng)預(yù)制電纜的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述顯示模塊(4)包括37個(gè)發(fā)光二極管,所述37個(gè)發(fā)光二極管分別與第二DB37母頭(32)對(duì)應(yīng)連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種DEH III型控制系統(tǒng)預(yù)制電纜的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述延時(shí)控制模塊(5)包括時(shí)基集成芯片,所述時(shí)基集成芯片的2腳與6腳并聯(lián)后分別與第一按鈕、第一滑動(dòng)電阻、第一電容連接,所述時(shí)基集成芯片的3腳分別連接至分頻控制模塊(8)、第一二極管的陰極,所述第一二極管的陽(yáng)極通過第三電阻連接至第一晶體管,所述第一晶體管連接有第一繼電器。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種DEH III型控制系統(tǒng)預(yù)制電纜的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述分頻控制模塊(8)包括計(jì)數(shù)脈沖分頻器集成芯片,所述計(jì)數(shù)脈沖分頻器集成芯片的CP端連接至?xí)r基集成芯片的3腳,所述計(jì)數(shù)脈沖分頻器集成芯片的VDD端與Cr端之間通過第二按鈕連接,所述計(jì)數(shù)脈沖分頻器集成芯片的Y0端連接有第一發(fā)光二極管,所述計(jì)數(shù)脈沖分頻器集成芯片的Y1端~Y37端分別對(duì)應(yīng)連接第二晶體管~第三十八晶體管,所述第二晶體管~第三十八晶體管分別對(duì)應(yīng)連接有第二繼電器~第三十八繼電器,所述第二繼電器~第三十八繼電器分別通過第二發(fā)光二極管~第三十八發(fā)光二極管對(duì)應(yīng)連接至第一DB37母頭(31)。
10.一種應(yīng)用如權(quán)利要求1所述DEH III型控制系統(tǒng)預(yù)制電纜的檢測(cè)裝置的檢測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1、將37根待檢測(cè)的預(yù)制電纜對(duì)應(yīng)連接在第一DB37母頭與第二DB37母頭之間;
S2、啟動(dòng)電源模塊開始供電,之后按下復(fù)位動(dòng)合按鈕,此時(shí)計(jì)數(shù)脈沖分頻器集成芯片清零復(fù)位,Y0端輸出高電平、第一發(fā)光二極管點(diǎn)亮;
第一電容放電,使得時(shí)基集成芯片的2腳和6腳變?yōu)榈碗娖健?腳輸出高電平、第一二極管和第一晶體管截止、第一繼電器不吸合;
S3、松開復(fù)位動(dòng)合按鈕,第一電容充電,使得時(shí)基集成芯片的2腳和6腳電壓不斷上升、時(shí)基集成芯片進(jìn)入延時(shí)狀態(tài),當(dāng)時(shí)基集成芯片的2腳和6腳電壓達(dá)到設(shè)定電壓值時(shí),時(shí)基集成芯片內(nèi)部翻轉(zhuǎn)、3腳輸出低電平,使得第一二極管和第一晶體管導(dǎo)通、第一繼電器吸合、第一繼電器的常閉觸頭接通、第一電容放電,時(shí)基集成芯片的2腳和6腳又變?yōu)榈碗娖健?腳輸出高電平、第一二極管和第一晶體管截止、第一繼電器釋放,時(shí)基集成芯片開始下一次延時(shí),由此時(shí)基集成芯片不斷輸出方波脈沖給脈沖計(jì)數(shù)分頻器集成芯片;
S4、脈沖計(jì)數(shù)分頻器集成芯片接收到方波脈沖后,CP端會(huì)產(chǎn)生一個(gè)計(jì)數(shù)脈沖,使得Y0端輸出低電平、第一發(fā)光二極管熄滅、Y1端輸出高電平、第二晶體管導(dǎo)通、第二繼電器吸合,第二繼電器的常開觸頭接通、第二繼電器的常閉觸頭斷開、第二發(fā)光二極管點(diǎn)亮,若第一根預(yù)制電纜檢測(cè)正常,則與第二DB母頭連接的顯示模塊會(huì)對(duì)應(yīng)點(diǎn)亮,否則顯示模塊不會(huì)點(diǎn)亮;
依次類推,隨著時(shí)基集成芯片周期性地輸出觸發(fā)脈沖,脈沖計(jì)數(shù)分頻器集成芯片的Y2-Y37端依次輸出高電平,使第三晶體管~第三十八晶體管輪流導(dǎo)通,第三繼電器~第三十八繼電器輪流吸合,由此繼續(xù)完成對(duì)DEH III型控制系統(tǒng)預(yù)制電纜中第2根線到第37根線的檢測(cè)。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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