[發明專利]一種制作GaN芯片的方法及GaN芯片有效
| 申請號: | 202110798912.8 | 申請日: | 2021-07-15 |
| 公開(公告)號: | CN113270358B | 公開(公告)日: | 2021-09-14 |
| 發明(設計)人: | 郭芬;蘇康;周朗;李拓;滿宏濤 | 申請(專利權)人: | 蘇州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683 |
| 代理公司: | 北京連和連知識產權代理有限公司 11278 | 代理人: | 劉小峰;楊帆 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 制作 gan 芯片 方法 | ||
1.一種制作GaN芯片的方法,其特征在于,包括以下步驟:
在原始襯底上生長Nb2N犧牲層,并在所述Nb2N犧牲層上生長GaN插入層;
在所述GaN插入層上生長Ta2N犧牲層,并在所述Ta2N犧牲層上生長半導體層以形成GaN圓片;
將所述GaN圓片和臨時載片的第一面進行鍵合,并移除所述Nb2N犧牲層和所述Ta2N犧牲層;以及
將移除所述Nb2N犧牲層和所述Ta2N犧牲層后的剩余材料轉移到目標襯底,并從所述剩余材料中移除所述臨時載片以形成GaN芯片。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述在原始襯底上生長Nb2N犧牲層包括:
在所述原始襯底上制作0-50nm厚度的Nb2N犧牲層。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述GaN插入層上生長Ta2N犧牲層包括:
在所述GaN插入層上制作0-50nm厚度的Ta2N犧牲層。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述將所述GaN圓片和臨時載片的第一面進行鍵合包括:
在所述臨時載片的第一面涂敷粘合材料,將所述臨時載片放置在熱板上烘烤,并隨后將所述臨時載片冷卻。
5.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述在所述臨時載片的第一面涂敷粘合材料包括:
采用旋涂法對所述臨時載片的第一面涂覆粘合材料,并將轉速控制為1200-3000轉/分鐘,將時間控制為30-60秒。
6.根據權利要求4所述的方法,其特征在于,所述將所述臨時載片放置在熱板上烘烤包括:
將熱板溫度控制為120℃,烘烤3分鐘;以及
將熱板溫度控制為180℃,烘烤4分鐘。
7.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述將所述GaN圓片和臨時載片的第一面進行鍵合包括:
將鍵合溫度控制為200-350℃,鍵合壓力控制為1000-2000N。
8.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述移除所述Nb2N犧牲層和所述Ta2N犧牲層包括:
使用體積比為1:1的鹽酸和氫氟酸刻蝕移除所述Nb2N犧牲層和所述Ta2N犧牲層。
9.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述將移除所述Nb2N犧牲層和所述Ta2N犧牲層后的剩余材料轉移到目標襯底包括:
采用氮氣或氧氣對所述剩余材料和所述目標襯底進行激活,將激活后的所述目標襯底與所述剩余材料對準貼合,并進行退火處理。
10.一種芯片,其特征在于,使用如權利要求1-9中任一項權利要求所述的方法制成。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于蘇州浪潮智能科技有限公司,未經蘇州浪潮智能科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202110798912.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





