[發明專利]一種電子元器件測試裝置及其測試方法

有效

• 申請號: 202110798405.4
• 申請日: 2021-07-15
• 公開（公告）號: CN113552463B
• 公開（公告）日: 2022-04-26
• 發明（設計）人: 孫振亞;劉棟斌;趙越;李巍;李哲;王小朋;高志良;劉衍峰;張達
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 深圳市科進知識產權代理事務所(普通合伙) 44316
• 代理人: 魏毅宏

本發明涉及一種電子元器件測試裝置及其測試方法，所述電子元器件測試裝置包括基座、內層板、多個插針、鎖定釋放件以及蓋板，所述基座固定在印刷電路板上，所述內層板和所述鎖定釋放件設置在所述基座上，多個所述插針穿插于所述內層板和所述基座，并具有插槽以供電子元器件的管腳插入，其中通過轉動所述鎖定釋放件的方式，能夠切換所述插槽的打開狀態和關閉狀態，從而實現電子元器件的管腳的插入和鎖緊，其中所述鎖緊釋放件被設置為能夠在所述基座的側面沿其軸線方向被轉動，且在被轉動時不碰觸到電子元器件，因此能夠避免與電子元器件發生干涉，擁有更高的適用性。

技術領域

本發明涉及電子元器件測試技術領域，特別是涉及一種電子元器件測試裝置及其測試方法。

背景技術

隨著科技的進步，電子元器件的使用越來越廣泛，對于初次生產的電子元器件必須進行批量測試才能夠投入市場。因此，為了測試電子元器件的功能和性能，在工業中經常會使用活動式零插拔力的測試座對電子元器件進行測試。

如圖1所示，現有的一種測試座100P的結構被闡明。所述測試座100P的零插撥力通過側面的扳手40P進行控制，當需要測試的電子元器件200封裝尺寸較大時，例如當電子元器件200的尺寸超出測試座100P的尺寸時，會阻礙所述測試座100P的側面扳手40P的旋轉，即使得所述扳手40P無法進行操作，從而導致所述測試座100P無法對安裝在所述測試座100P頂部的電子元器件200進行測試，必須重新選擇測試座。換句話說，現有的測試座100P的扳手40P在轉動時容易與電子元器件200產生干涉，影響電子元器件200的測試。如果最大的測試座也不能滿足需求，則需要進行重新定制，導致周期長、成本高。

發明內容

基于此，本發明的一目的是，提供一種電子元器件測試裝置及其測試方法，所述電子元器件測試裝置采用零空間的零插拔力控制方式對電子元器件進行測試，與電子元器件之間不會產生相互干涉，因此能夠提供更多殼體封裝的可測性，擁有更高的適用性，而且有利于降低電子元器件測試的成本。

為實現以上發明目的，本發明提供了一種電子元器件測試裝置，包括：

基座，所述基座的兩側分別設置有旋轉槽和活動槽，且所述基座的位于所述旋轉槽和所述活動槽之間的部分設置有多個插針孔；

內層板，所述內層板為凸形結構且其凸出的部分可活動地設置于所述活動槽，所述內層板還設置有與所述插針孔相對應的穿孔；

多個插針，各所述插針具有頭部和延伸自所述頭部的尾部，所述頭部由兩個接觸片構成，兩個接觸片之間形成有插槽，以供電子元器件插入，所述插針設置于對應的所述插針孔，且所述插針的所述頭部位于所述內層板之上，所述尾部穿插于所述基座；以及

鎖緊釋放件，所述鎖緊釋放件具有驅動部和延伸自所述驅動部的轉動部，所述轉動部設置于所述旋轉槽且其相對的兩個側面分別為圓弧面和平面，所述驅動部突出于所述基座的側面，用于驅動所述轉動部轉動，所述鎖緊釋放件被設置為能夠在所述基座的側面沿其軸線方向被轉動，且所述驅動部在被轉動時不碰觸到電子元器件；

其中所述電子元器件測試裝置具有釋放狀態和閉合狀態，在所述釋放狀態，所述鎖緊釋放件的平面貼合于所述內層板的側面，所述插針的插槽處于打開狀態，以供電子元器件的管腳能夠插入或拔出，當轉動所述鎖緊釋放件時，所述鎖緊釋放件的圓弧面接觸于所述內層板，利用所述鎖緊釋放件兩側的厚度差，使得所述內層板于所述活動槽移動，從而使得所述插針的兩個接觸片相互靠近而鎖緊插入所述插槽的所述電子元器件的管腳，以此切換至所述電子元器件測試裝置的閉合狀態，所述電子元器件測試裝置在所述閉合狀態對所述電子元器件進行測試；當反向轉動所述鎖緊釋放件時，所述鎖緊釋放件的平面接觸于所述內層板而使得所述內層板恢復至原始位置，以此切換回所述電子元器件測試裝置的所述釋放狀態。

在本發明的一實施例中，所述驅動部設置有驅動槽，以允許所述鎖緊釋放件在所述基座的側面被外部輔助工具轉動，從而避免所述鎖緊釋放件的旋轉與插入于所述電子元器件測試裝置的電子元器件產生干涉。