[發明專利]一種光模塊光接收次模塊AWG耦合高度控制裝置及方法

有效

• 申請號: 202110797893.7
• 申請日: 2021-07-15
• 公開（公告）號: CN113253405B
• 公開（公告）日: 2021-10-08
• 發明（設計）人: 唐永正;葉志;徐強;李波
• 申請（專利權）人: 武漢英飛光創科技有限公司
• 主分類號: G02B6/42
• 分類號: G02B6/42;G02B6/12
• 代理公司: 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228
• 代理人: 代嬋

1.一種光模塊光接收次模塊AWG耦合高度控制方法，其特征在于，包括如下步驟：

固定待耦合的光模塊，待耦合光模塊的PCB板上固定有包括PD在內的光電元件；

在PD的上方設置光源和光學鏡頭；

給PCB加電；

控制AWG靠近PD，光源發出的光束照射到AWG前端會在AWG下方的PD上表面形成一個陰影，通過光學鏡頭觀察AWG下方PD上表面陰影的寬度，根據陰影的寬度即可判斷AWG出光點到PD的距離以及AWG下表面是否與PD上表面平行，如果陰影在PD上出現一邊寬一邊窄的情況，則說明AWG下表面跟PD上表面未平行，則調整AWG的角度使AWG下表面與PD上表面保持平行，調整AWG出光點到PD的距離使陰影的寬度達到規定的寬度，確保耦合過程中AWG不接觸PD，再調整AWG水平方向的位置，使PD的響應達到最大，AWG調整結束。

2.如權利要求1所述的光模塊光接收次模塊AWG耦合高度控制方法，其特征在于：當AWG調整結束后，給AWG加UV膠并UV固化，將AWG固定在待耦合的光模塊上，然后將光模塊放到烤箱進一步固化完成耦合。

3.如權利要求1所述的光模塊光接收次模塊AWG耦合高度控制方法，其特征在于：將待耦合的光模塊固定在工作臺的夾具上，將AWG固定在吸嘴上，通過調整吸嘴的位置，實現AWG位置的調節。

4.如權利要求1所述的光模塊光接收次模塊AWG耦合高度控制方法，其特征在于：光源設置在PD的正上方，光學鏡頭設置在PD的斜上方。

5.如權利要求4所述的光模塊光接收次模塊AWG耦合高度控制方法，其特征在于：光學鏡頭的光軸與水平線的夾角β小于光源發出的光束與水平線的夾角。

6.如權利要求4所述的光模塊光接收次模塊AWG耦合高度控制方法，其特征在于：光源發出的光束與水平線的夾角為90度，光學鏡頭的光軸與水平線的夾角β為45度，當光學鏡頭在斜上方45度時，則光學鏡頭觀察到的陰影寬度就是AWG出光點到PD的距離。

7.一種光模塊光接收次模塊AWG耦合高度控制裝置，其特征在于：包括光源和光學鏡頭，所述光源用于發出光束，并照射到待耦合光模塊的PD上表面，當AWG靠近PD時，光源發出的光束照射到AWG前端會在AWG下方的PD上表面形成一個陰影，所述光學鏡頭用于觀察AWG下方PD上表面陰影的寬度，根據光學鏡頭觀察到的陰影寬度即可判斷AWG出光點到PD的距離以及AWG下表面是否與PD上表面平行，確保耦合過程中AWG不接觸PD，且AWG 下表面與PD上表面保持平行。

8.如權利要求7所述的光模塊光接收次模塊AWG耦合高度控制裝置，其特征在于：所述光源設置在PD的正上方，所述光學鏡頭設置在PD的斜上方；光學鏡頭的光軸與水平線的夾角β小于光源發出的光束與水平線的夾角。

9.如權利要求8所述的光模塊光接收次模塊AWG耦合高度控制裝置，其特征在于：光源發出的光束與水平線的夾角為90度，光學鏡頭的光軸與水平線的夾角β為45度，當光學鏡頭在斜上方45度時，則光學鏡頭觀察到的陰影寬度就是AWG出光點到PD的距離。

10.如權利要求7所述的光模塊光接收次模塊AWG耦合高度控制裝置，其特征在于：所述AWG固定在吸嘴上，通過調整吸嘴的位置，實現AWG位置的調節；待耦合光模塊固定在工作臺的夾具上。