[發明專利]成像系統及成像方法在審
| 申請號： | 202110797688.0 | 申請日： | 2021-07-14 |
| 公開（公告）號： | CN113382176A | 公開（公告）日： | 2021-09-10 |
| 發明（設計）人： | 張恒;曹景太 | 申請（專利權）人： | 長春長光奧閏光電科技有限公司 |
| 主分類號： | H04N5/235 | 分類號： | H04N5/235 |
| 代理公司： | 長春中科長光知識產權代理事務所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 高一明;郭婷 |
| 地址： | 130000 吉林省*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 成像 系統 方法 | ||
1.一種成像系統，其特征在于，包括形成閉環控制的成像單元、調節單元、控制單元，其中，
所述成像單元形成成像平面；所述控制單元用于根據所述成像單元接收的信號發出控制所述調節單元的光衰減值的控制信號；所述調節單元用于根據所述控制單元的控制信號，調整所述入射光束的強度；所述成像單元用于接收調整強度后的入射光束；
所述調節單元包括可變光衰減器陣列和可變光衰減器陣列的驅動，通過控制所述可變光衰減器陣列的驅動調節所述可變光衰減器陣列的電壓，對所述調節單元的光衰減值進行控制，進而實現對所述入射光束的強度調節，并將調節強度后的光信號傳遞至所述成像單元；所述可變光衰減器陣列形成調節平面。
2.根據權利要求1所述的成像系統，其特征在于，所述可變光衰減器陣列為液晶空間光調制器。
3.根據權利要求2所述的成像系統，其特征在于，所述液晶空間光調制器為透射式。
4.根據權利要求3所述的成像系統，其特征在于，所述成像單元為像元陣列，所述像元陣列中每個像元的位置與所述液晶空間光調制器中每個像素的位置一一對應。
5.根據權利要求4所述的成像系統，其特征在于，所述成像單元為InGaAs探測器、Pbs探測器、CCD探測器、CMOS探測器或光電倍增管。
6.根據權利要求1所述的成像系統，其特征在于，所述控制單元為FPGA芯片或MCU芯片。
7.使用權利要求1-6中任一項所述的成像系統的成像方法，其特征在于，包括以下步驟：
S1、所述成像單元將接收到的入射光束的光強度信號轉換為圖像灰度值數據，并傳遞至所述控制單元；
S2、所述控制單元將接收到的圖像各像元灰度值數據與預先設置的灰度閾值相比較，所述控制單元記錄比較結果，并根據比較結果改變或維持控制信號，對應的控制信號發送至所述可變光衰減器陣列的驅動，所述可變光衰減器陣列的驅動根據所述控制信號改變或維持輸出的電壓，調整或維持所述可變光衰減器陣列的光衰減值；
S3、重復步驟S1、S2，直至所述成像單元每個像元接收的光強度均處于非飽和狀態，使不同強度的光信號在所述成像單元同時成像。
8.根據權利要求7所述的成像方法，其特征在于，步驟S2包括以下步驟：
S201、所述成像單元每個像元將接收到的光強度的圖像灰度值數據與預先設定的灰度閾值進行比較并記錄比較結果；
S202、當圖像灰度值數據預先設定的灰度閾值時，增大并記錄此像元所對應的光衰減值；當圖像灰度值數據≤預先設定的灰度閾值時，記錄此像元所對應的光衰減值；
S203、記錄步驟S202中需要調整像元的所對應的位置；
S204、所述控制單元根據步驟S202、S203中所得的衰減率、像元位置信息控制所述可變光衰減器陣列中每個像素的電壓，衰減所述可變光衰減器陣列中每個像素所透射到每個像元的光強度。
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